專利名稱：自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
[0001]本實用新型涉及機械設(shè)備，尤其涉及ー種自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置。
背景技術(shù)：
色譜分析儀應(yīng)用色譜法對物質(zhì)進行定性、定量分析，及研究物質(zhì)的物理、化學(xué)特性的儀器。在進行色譜分析時，操作人員通過自動進樣器向色譜分析儀中注入測試液，現(xiàn)有技術(shù)中的自動進樣器通過轉(zhuǎn)盤設(shè)備承載試管，現(xiàn)有技術(shù)中的轉(zhuǎn)盤設(shè)備包括電機和支撐盤，支撐盤直接固定在電機的轉(zhuǎn)軸上。通過電機帶動支撐盤轉(zhuǎn)動，實現(xiàn)切換不同的試管。由干支撐盤直接固定在電機的轉(zhuǎn)軸上，電機需要較大的功率以提供較大的轉(zhuǎn)矩帶動支撐盤轉(zhuǎn)動，并且電機承受較大的壓力，導(dǎo)致電機壽命較短。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型所要解決的技術(shù)問題是提供ー種自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，解決現(xiàn)有技術(shù)中的轉(zhuǎn)盤設(shè)備壽命短的缺陷，實現(xiàn)延長自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置的使用壽命。本實用新型提供的技術(shù)方案是，一種自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，包括底座、電機、平面推力球軸承和支撐盤，所述電機設(shè)置在所述底座中，所述電機與所述支撐盤驅(qū)動連接，所述平面推力球軸承位于所述支撐盤和所述底座之間，所述平面推力球軸承設(shè)置在所述底座的底座上蓋的安裝槽中，所述支撐盤抵靠在所述平面推力球軸承上。本實用新型提供的自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，通過電機驅(qū)動支撐盤旋轉(zhuǎn)，可以實現(xiàn)支撐盤上的試管自動切換位置，從而可以將自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置直接放置到取樣器下，通過電機轉(zhuǎn)動支撐盤實現(xiàn)自動將不同的試管轉(zhuǎn)動到取樣位置處，實現(xiàn)通過自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置提高取樣效率，而支撐盤通過平面推力球軸承放置到底座上，支撐盤被平面推力球軸承支撐住，避免支撐盤的重量全部施加到電機上，實現(xiàn)采用小功率電機便可以驅(qū)動支撐盤轉(zhuǎn)動，延長自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置的使用壽命。如上所述的自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，所述自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置還包括軸承蓋和定位軸，所述軸承蓋位于所述平面推力球軸承和所述支撐盤之間，所述軸承蓋抵靠在所述平面推力球軸承上，所述電機的轉(zhuǎn)軸與所述軸承蓋固定連接；所述支撐盤上開設(shè)有定位孔，所述定位軸插在所述定位孔中并固設(shè)在所述軸承蓋上。如上所述的自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，所述支撐盤包括上支撐盤、下支撐盤和隔套，所述上支撐盤和所述下支撐盤分別開設(shè)有所述定位孔；所述上支撐盤的下表面和所述下支撐盤的上表面分別開設(shè)有環(huán)形槽，所述隔套位于所述上支撐盤和所述下支撐盤之間，所述隔套的端部位于所述環(huán)形槽中；所述上支撐盤沿圓周方向開設(shè)有多圈通孔，所述下支撐盤沿圓周方向開設(shè)有多圈與所述通孔對應(yīng)的凹槽。如上所述的自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，所述底座上蓋設(shè)置有所述電磁傳感器，所述軸承蓋上設(shè)置有磁體。如上所述的自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，所述上支撐盤沿圓周方向開設(shè)有兩圈所述通孔，所述下支撐盤沿圓周方向開設(shè)有兩圈所述凹槽。所述的自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，其特征在于，還包括連接套，所述電機的轉(zhuǎn)軸插在所述連接套中并通過鍵與所述連接套連接，所述連接套插在所述軸承蓋上開設(shè)的安裝槽中并通過鍵與所述安裝槽連接。

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作ー簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本實用新型的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I為本實用新型自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置實施例中的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本實用新型自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置實施例中上支撐盤的局部結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為圖2中A-A向剖視圖；圖4為本實用新型自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置實施例中下支撐盤的局部結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為圖4中B-B向剖視圖；圖6為圖I中C -C向剖視圖。
具體實施方式
為使本實用新型實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├?，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。如圖I-圖6所示，本實施例自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，包括底座15、平面推力球軸承17、電機19和支撐盤(未圖示)，電機19設(shè)置在底座15中，電機19與支撐盤驅(qū)動連接，平面推力球軸承17位干支撐盤和底座15之間，平面推力球軸承17設(shè)置在底座15的底座上蓋151的安裝槽1511中，支撐盤抵靠在平面推力球軸承17上。具體而言，本實施例自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置中的支撐盤用于裝載試管，通過電機19可以驅(qū)動支撐盤旋轉(zhuǎn)，實現(xiàn)通過本實施例自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置自動切換吸取不同試管中的測試液。其中，為了實現(xiàn)支撐盤能夠平穩(wěn)的轉(zhuǎn)動，并有效的延長本實施例自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置的使用壽命。本實施例自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置中的支撐盤通過平面推力球軸承17裝配到底座15上，支撐盤的重量施加到平面推力球軸承17上，從而減少電機19所承受的支撐盤的重力，一方面，使電機19能夠以低功率平穩(wěn)的帶動支撐盤旋轉(zhuǎn)，有效的延長了電機19的使用壽命；另一方面，支撐盤通過平面推力球軸承17相對于底座15旋轉(zhuǎn)，可以使本實施例自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置能夠更加可靠的旋轉(zhuǎn)運行，有效的延長了本實施例自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置的使用壽命。其中，為了方便的裝配平面推力球軸承17，本實施例自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置還包括軸承蓋18和定位軸14，軸承蓋18抵靠在平面推力球軸承17上，電機19的轉(zhuǎn)軸190與軸承蓋18固定連接；支撐盤上開設(shè)有定位孔，定位軸14插在定位孔中并固設(shè)在軸承蓋18上。優(yōu)選的，為了方便清理支撐盤上的雜物，并方便加工支撐盤，本實施例中的支撐盤可以包括上支撐盤11、下支撐盤12和隔套13，上支撐盤11開設(shè)有定位孔112、下支撐盤12開設(shè)有定位孔122 ;上支撐盤11的下表面開設(shè)有環(huán)形槽113、下支撐盤12的上表面分別開設(shè)有環(huán)形槽123，隔套13位于上支撐盤11和下支撐盤12之間，隔套13的端部位于環(huán)形槽113和環(huán)形槽123中；上支撐盤11沿圓周方向開設(shè)有多圈通孔111，下支撐盤12沿圓周方向開設(shè)有多圈與通孔111對應(yīng)的凹槽121。 具體的，本實施例中的支撐盤中的上支撐盤11和下支撐盤12之間設(shè)置隔套13，通過隔套13將上支撐盤11和下支撐盤12間隔開，使上支撐盤11和下支撐盤12之間形成間隔。試管穿過通孔111位于凹槽121中，通過上支撐盤11和下支撐盤12之間形成間隔可以方便的清理下支撐盤12上雜物，從而避免出現(xiàn)在支撐盤上開設(shè)較深的試管孔而不方便清理的現(xiàn)象。另外，為了方便的對支撐盤旋轉(zhuǎn)角度進行定位，本實施例中的底座上蓋151可以設(shè)置有電磁傳感器16,軸承蓋18上設(shè)置有磁體161。具體的,本實施例中的磁體161與電磁傳感器16配合實現(xiàn)控制支撐盤旋轉(zhuǎn)的角度，當(dāng)磁體161位于電磁傳感器16的上方后，電磁傳感器16檢測到磁體161便控制電機19停止轉(zhuǎn)動，從而可以準確的控制支撐盤的旋轉(zhuǎn)角度。另外，為了方便電機19驅(qū)動支撐盤轉(zhuǎn)動，本實施例自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，還包括連接套191，電機19的轉(zhuǎn)軸190插在連接套191中并通過鍵192與191連接套連接，連接套191插在軸承蓋18上開設(shè)的安裝槽(未圖示)中并通過鍵181與安裝槽連接。本實施例自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，通過電機驅(qū)動支撐盤旋轉(zhuǎn)，可以實現(xiàn)支撐盤上的試管自動切換位置，從而可以將自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置直接放置到取樣器下，通過電機轉(zhuǎn)動支撐盤實現(xiàn)自動將不同的試管轉(zhuǎn)動到取樣位置處，實現(xiàn)通過自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置提高取樣效率，而支撐盤通過平面推力球軸承放置到底座上，支撐盤被平面推カ球軸承支撐住，避免支撐盤的重量全部施加到電機上，實現(xiàn)采用小功率電機便可以驅(qū)動支撐盤轉(zhuǎn)動，延長自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置的使用壽命。最后應(yīng)說明的是以上實施例僅用以說明本實用新型的技術(shù)方案，而非對其限制；盡管參照前述實施例對本實用新型進行了詳細的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解其依然可以對前述各實施例所記載的技術(shù)方案進行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本實用新型各實施例技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求1.一種自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，其特征在于，包括底座、電機、平面推力球軸承和支撐盤，所述電機設(shè)置在所述底座中，所述電機與所述支撐盤驅(qū)動連接，所述平面推力球軸承位于所述支撐盤和所述底座之間，所述平面推力球軸承設(shè)置在所述底座的底座上蓋的安裝槽中，所述支撐盤抵靠在所述平面推力球軸承上。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，其特征在于，所述自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置還包括軸承蓋和定位軸，所述軸承蓋位于所述平面推力球軸承和所述支撐盤之間，所述軸承蓋抵靠在所述平面推力球軸承上，所述電機的轉(zhuǎn)軸與所述軸承蓋固定連接；所述支撐盤上開設(shè)有定位孔，所述定位軸插在所述定位孔中并固設(shè)在所述軸承蓋上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，其特征在于，所述支撐盤包括上支撐盤、下支撐盤和隔套，所述上支撐盤和所述下支撐盤分別開設(shè)有所述定位孔；所述上支撐盤的下表面和所述下支撐盤的上表面分別開設(shè)有環(huán)形槽，所述隔套位于所述上支撐盤和所述下支撐盤之間，所述隔套的端部位于所述環(huán)形槽中；所述上支撐盤沿圓周方向開設(shè)有多圈通孔，所述下支撐盤沿圓周方向開設(shè)有多圈與所述通孔對應(yīng)的凹槽。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，其特征在于，所述底座上蓋設(shè)置有所述電磁傳感器，所述軸承蓋上設(shè)置有磁體。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，其特征在于，所述上支撐盤沿圓周方向開設(shè)有兩圈所述通孔，所述下支撐盤沿圓周方向開設(shè)有兩圈所述凹槽。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，其特征在于，還包括連接套，所述電機的轉(zhuǎn)軸插在所述連接套中并通過鍵與所述連接套連接，所述連接套插在所述軸承蓋上開設(shè)的安裝槽中并通過鍵與所述安裝槽連接。
專利摘要本實用新型提供一種自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置，包括底座、電機、平面推力球軸承和支撐盤，所述電機設(shè)置在所述底座中，所述電機與所述支撐盤驅(qū)動連接，所述平面推力球軸承位于所述支撐盤和所述底座之間，所述平面推力球軸承設(shè)置在所述底座的底座上蓋的安裝槽中，所述支撐盤抵靠在所述平面推力球軸承上。支撐盤通過平面推力球軸承放置到底座上，支撐盤被平面推力球軸承支撐住，避免支撐盤的重量全部施加到電機上，實現(xiàn)采用小功率電機便可以驅(qū)動支撐盤轉(zhuǎn)動，延長自動進樣器用底座轉(zhuǎn)盤裝置的使用壽命。
文檔編號G01N30/00GK202404073SQ201120570430
公開日2012年8月29日 申請日期2011年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月31日
發(fā)明者侯倩慧, 趙麗娟 申請人:青島普仁儀器有限公司