專利名稱：引線框架打印標(biāo)識(shí)檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
弓丨線框架打印標(biāo)識(shí)檢測(cè)裝置技術(shù)領(lǐng)域[0001 ] 本實(shí)用新型涉及一種引線框架打印標(biāo)識(shí)檢測(cè)裝置。
技術(shù)背景[0002]引線框架作為集成電路的芯片載體，是一種借助于鍵合金絲實(shí)現(xiàn)芯片內(nèi)部電路引出端與外引線的電氣連接，形成電氣回路的關(guān)鍵結(jié)構(gòu)件，它起到了和外部導(dǎo)線連接的橋梁作用，絕大部分的半導(dǎo)體集成塊中都需要使用引線框架，因而，引線框架是是電子信息產(chǎn)業(yè)中重要的基礎(chǔ)材料。[0003]引線框架產(chǎn)品類型有TO、DIP、ZIP、SIP、SOP、SSOP、QFP (QFJ)、SOD、SOT 等。主要用模具沖壓法和化學(xué)刻蝕法進(jìn)行生產(chǎn)。[0004]塑封后的引線框架需要進(jìn)行打印標(biāo)識(shí)，而現(xiàn)有的打印標(biāo)識(shí)過(guò)程由于沒(méi)有檢測(cè)裝置，往往容易產(chǎn)生偏離，影響產(chǎn)品質(zhì)量。實(shí)用新型內(nèi)容[0005]本實(shí)用新型需要解決的技術(shù)問(wèn)題就在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種引線框架打印標(biāo)識(shí)檢測(cè)裝置，它可以對(duì)打印標(biāo)識(shí)是否偏移進(jìn)行快速準(zhǔn)確的判斷，應(yīng)用此裝置，大大提高了生產(chǎn)效率，減少了打印標(biāo)識(shí)偏移引起的不良。[0006]為解決上述問(wèn)題，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案[0007]本實(shí)用新型提供了一種引線框架打印標(biāo)識(shí)檢測(cè)裝置，所述檢測(cè)裝置包括一個(gè)對(duì)比板和一個(gè)定位基板，所述對(duì)比板和定位基板之間為待檢測(cè)引線框架，所述引線框架上設(shè)置有兩個(gè)定位孔，所述對(duì)比板上設(shè)置有和引線框架上的定位孔相一致的檢測(cè)定位孔，定位基板上設(shè)置有和定位孔相一致的定位柱，定位基板上設(shè)置有4個(gè)主定位柱，所述對(duì)比板上設(shè)置有和4個(gè)主定位柱相一致的主定位柱。[0008]本實(shí)用新型可對(duì)打印標(biāo)識(shí)是否偏移進(jìn)行快速準(zhǔn)確的判斷，應(yīng)用此裝置，大大提高了生產(chǎn)效率，減少了打印標(biāo)識(shí)偏移引起的不良。


[0009]圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
[0010]如圖1所示，本實(shí)用新型提供了一種引線框架打印標(biāo)識(shí)檢測(cè)裝置，所述檢測(cè)裝置包括一個(gè)對(duì)比板1和一個(gè)定位基板2，所述對(duì)比板和定位基板之間為待檢測(cè)引線框架3，所述弓I線框架上設(shè)置有兩個(gè)定位孔3-1，所述對(duì)比板上設(shè)置有和引線框架上的定位孔相一致的檢測(cè)定位孔1-1，定位基板上設(shè)置有和定位孔相一致的定位柱2-1，定位基板上設(shè)置有4 個(gè)主定位柱2-2，所述對(duì)比板上設(shè)置有和4個(gè)主定位柱相一致的主定位柱1-2。[0011]本實(shí)用新型可對(duì)打印標(biāo)識(shí)是否偏移進(jìn)行快速準(zhǔn)確的判斷，應(yīng)用此裝置，大大提高了生產(chǎn)效率，減少了打印標(biāo)識(shí)偏移引起的不良。[0012] 最后應(yīng)說(shuō)明的是顯然，上述實(shí)施例僅僅是為清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型所作的舉例， 而并非對(duì)實(shí)施方式的限定。對(duì)于所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在上述說(shuō)明的基礎(chǔ)上還可以做出其它不同形式的變化或變動(dòng)。這里無(wú)需也無(wú)法對(duì)所有的實(shí)施方式予以窮舉。而由此所引申出的顯而易見(jiàn)的變化或變動(dòng)仍處于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之中。
權(quán)利要求1. 一種引線框架打印標(biāo)識(shí)檢測(cè)裝置，其特征在于所述檢測(cè)裝置包括一個(gè)對(duì)比板和一個(gè)定位基板，所述對(duì)比板和定位基板之間為待檢測(cè)引線框架，所述引線框架上設(shè)置有兩個(gè)定位孔，所述對(duì)比板上設(shè)置有和引線框架上的定位孔相一致的檢測(cè)定位孔，定位基板上設(shè)置有和定位孔相一致的定位柱，定位基板上設(shè)置有4個(gè)主定位柱，所述對(duì)比板上設(shè)置有和4 個(gè)主定位柱相一致的主定位柱。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種引線框架打印標(biāo)識(shí)檢測(cè)裝置，所述檢測(cè)裝置包括一個(gè)對(duì)比板和一個(gè)定位基板，所述對(duì)比板和定位基板之間為待檢測(cè)引線框架，所述引線框架上設(shè)置有兩個(gè)定位孔，所述對(duì)比板上設(shè)置有和引線框架上的定位孔相一致的檢測(cè)定位孔，定位基板上設(shè)置有和定位孔相一致的定位柱，定位基板上設(shè)置有4個(gè)主定位柱，所述對(duì)比板上設(shè)置有和4個(gè)主定位柱相一致的主定位柱。本實(shí)用新型可以對(duì)打印標(biāo)識(shí)是否偏移進(jìn)行快速準(zhǔn)確的判斷，應(yīng)用此裝置，大大提高了生產(chǎn)效率，減少了打印標(biāo)識(shí)偏移引起的不良。
文檔編號(hào)G01B5/00GK202255181SQ201120317579
公開(kāi)日2012年5月30日 申請(qǐng)日期2011年8月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月29日
發(fā)明者吳旺春, 孫華, 朱貴節(jié), 謝艷, 陳忠, 黃玉紅 申請(qǐng)人:江陰康強(qiáng)電子有限公司