專利名稱：一種等周期的溫度測量計算查表方法
技術領域：
本發(fā)明涉及工業(yè)溫度自動測量領域，尤其涉及一種等周期的溫度測量計算查表方法。
背景技術：
在工業(yè)自動化溫度測控系統(tǒng)中，工業(yè)生產(chǎn)過程溫度參數(shù)測量計算時，常用微處理器查表法計算得到溫度測量值。在工業(yè)上用熱電阻測量溫度比較普遍，并且測溫元件類型為PtlOO的鉬電阻最為常用(由于鉬電阻PtlOO的線性度、穩(wěn)定性好及準確度高)。一般用熱電阻測量溫度的方法常采用恒流源I經(jīng)過被測電阻測量出電阻二端電壓，再用公式R = V/I方式測得電阻值，再用查表法得到對應的溫度值。此方法測量原理，舉例如下測出給定320 Ω的高精度電阻對應的電壓值V' 8為V' g = 1*320(1)測出被測熱電阻R' t 二端電壓值V' 乂為V' x = I*R' t(2)根據(jù)⑴、⑵式，得到被測熱電阻R' t的阻值，即R' t = V' X*320/V' g (3)在實際溫度測量系統(tǒng)中程序?qū)崿F(xiàn)時，把式(3)中的V' g、V' x換成ADC(模/數(shù)轉(zhuǎn)換器)測量得到的采樣碼即可。這樣測出熱電阻阻值后，再查阻值-溫度對照表就可以得到溫度測量值。因此，阻值-溫度對照表的編制是程序?qū)崿F(xiàn)的關鍵部分，既要達到工業(yè)測量 0. 1級高精度的要求，又要程序查表計算溫度時間每次相同，并且簡單、快速，實現(xiàn)溫度測控系統(tǒng)控制周期可確定性的要求。目前產(chǎn)品構(gòu)造及工作原理以鉬電阻PtlOO為例，其它熱電阻查表方法相同。下表1為測溫元件類型為鉬電阻PtlOO的電阻溫度對照表
權(quán)利要求
1.一種等周期的溫度測量計算查表方法，其特征在于，包括下列步驟步驟一，針對一類熱電阻，編制一個數(shù)組表格，其中，數(shù)組單元索引為順序的正整數(shù)排列，第N個索引為N，N彡1且N為整數(shù)；N對應于阻值為R*N的熱電阻的溫度值T (N)，且該溫度值T(N)是實際溫度值的K倍，其中R > 0，K彡10 ；步驟二，選定一個阻值為艮的已知熱電阻，測得該已知熱電阻兩端的電壓值Vg以及待測熱電阻兩端的電壓值Vx，由公式(1) Rt = Vx*Rg*K/Vg(1)計算得到所述待測熱電阻放大K倍后的阻值Rt ； 步驟三，對下列公式( 采用整數(shù)運算 Rn = Rt/K, N，= Rn/R (2) 其中 為正整數(shù)；得到比所述待測熱電阻的阻值小且最接近的第一個電阻值所對應的索引N’ ； 步驟四，查表，得到索引N’所對應的溫度值T(N’ )和索引N’ +1所對應的溫度值 T(N，+1)，并由下列公式(3)T = T (N，)+ (T (N，+1) -T (N，))* (Rt-RN*K) / (R*K) (3)計算得到所述待測熱電阻的溫度值T，再用該溫度值T除以K，得到實際的溫度測量值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的等周期的溫度測量計算查表方法，其特征在于，所述的步驟二中，使用恒流源通過所述已知熱電阻和待測熱電阻，從而測得已知熱電阻兩端的電壓值 Vg以及待測熱電阻兩端的電壓值Vx。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的等周期的溫度測量計算查表方法，其特征在于，所述的K的取值范圍是10彡K彡100。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的等周期的溫度測量計算查表方法，其特征在于，所述的K取 100，R取 5Ω。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于工業(yè)溫度自動測量領域中的等周期的溫度測量計算查表方法，該方法包括下列步驟針對一類熱電阻，以每隔R的電阻值取一個對應的溫度值，并把溫度值乘以K后編制成一維數(shù)組表格，其中R＞0，K≥10；選定一個已知熱電阻，測得該已知熱電阻兩端的電壓值以及待測熱電阻兩端的電壓值，求得待測熱電阻放大K倍后的阻值；運用整數(shù)運算，得到比所述待測熱電阻的阻值小且最接近的第一個電阻值所對應的索引N’，N’為正整數(shù)；查表，得到索引N’所對應的溫度值和索引N’+1所對應的溫度值，計算得到所述待測熱電阻的溫度值。本發(fā)明消除用熱電阻溫度測量時不同電阻值查表每次時間不同，導致程序執(zhí)行周期不確定的問題。
文檔編號G01K7/22GK102507038SQ20111044691
公開日2012年6月20日 申請日期2011年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月28日
發(fā)明者鄭陸君 申請人:上海貝嶺股份有限公司