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集成電路芯片測試儀的制作方法

文檔序號:5851631閱讀:161來源:國知局

專利名稱::集成電路芯片測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
:本實(shí)用新型涉及一種測試儀,特別是一種用于對集成電路芯片進(jìn)行測試的測試儀。
背景技術(shù)
:現(xiàn)有的集成電路芯片測試儀,參見圖1,包括芯片卡槽11、單片機(jī)22、鍵盤33、顯示燈44以及顯示屏55,其中芯片卡槽11連接單片機(jī)22,用于連接待測試的集成電路芯片;鍵盤33連接單片機(jī)22,有四個,用于進(jìn)行上翻和下翻查找芯片型號,并進(jìn)行復(fù)位和確認(rèn);顯示燈44連接單片機(jī)22,用于顯示待測集成電路芯片的好壞;顯示屏55連接單片機(jī)22,用于顯示要查找的芯片型號;單片機(jī)22用于存儲相應(yīng)的集成電路芯片的特征,在顯示屏55上顯示出來,以提供按下鍵盤33對芯片型號的查找,并檢測集成電路芯片的好壞,通過相應(yīng)的顯示燈44進(jìn)行顯示。但是現(xiàn)有的集成電路芯片測試儀,只能通過上翻或下翻進(jìn)行查找,查找時間長,并且不方便,且只有在知道芯片型號的情況下才能進(jìn)行查找,并測試好壞,不能直觀反映芯片的情況。
實(shí)用新型內(nèi)容針對上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,本實(shí)用新型的目的是提供一種操作方便,得到結(jié)果快速準(zhǔn)確,測試結(jié)果顯示清楚、簡單、明了,價格便宜,便于檢測和修改的集成電路芯片測試儀?!N集成電路芯片測試儀,包括芯片卡槽、單片機(jī)、鍵盤、顯示燈和液晶顯示器;[0006]所述芯片卡槽用于連接待測的集成電路芯片;所述鍵盤用于輸入待測集成電路芯片的型號或者管腳特性以及進(jìn)行功能切換、確認(rèn)和復(fù)位;所述顯示燈用于顯示測量結(jié)果;所述液晶顯示器用于顯示按鍵輸入的信息,并顯示集成電路芯片的芯片型號、邏輯符號和邏輯表達(dá)式;所述單片機(jī)用于存儲集成電路芯片的型號、邏輯符號和邏輯表達(dá)式,測量所述芯片卡槽上插入的待測集成電路芯片的好壞,并指示所述顯示燈和所述液晶顯示器顯示結(jié)果,令所述液晶顯示器顯示集成電路芯片的邏輯符號和邏輯表達(dá)式,接收所述鍵盤鍵入的集成電路芯片的型號或者管腳特性,令所述液晶顯示器顯示鍵入的集成電路芯片的邏輯符號和邏輯表達(dá)式;所述5V直流源為所述芯片卡槽、所述單片機(jī)、所述鍵盤、所述顯示燈和所述液晶顯示器提供5V直流電源;還包括第一擴(kuò)展接口、第二擴(kuò)展接口;所述第一擴(kuò)展接口用于連接所述單片機(jī)和所述液晶顯示器,擴(kuò)展所述單片機(jī)的端4□;所述第二擴(kuò)展接口用于連接所述單片機(jī)和所述鍵盤以及顯示燈,擴(kuò)展所述單片機(jī)的端口。本實(shí)用新型的集成電路芯片測試儀,其中所述單片機(jī)存儲74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30芯片和74/109/160/245時序芯片的邏輯符號和邏輯表達(dá)式。本實(shí)用新型述的集成電路芯片測試儀,其中所述鍵盤為16個按鍵的鍵盤。本實(shí)用新型的集成電路芯片測試儀,其中所述顯示燈有三個,第三顯示燈、第二顯示燈、第一顯示燈,分別為紅色、綠色和白色。本實(shí)用新型的集成電路芯片測試儀,其中所述5V直流源采用變壓器將220V交流電變?yōu)?v直流電,再通過集成穩(wěn)壓器轉(zhuǎn)換成穩(wěn)定的5V輸出,所述集成穩(wěn)壓器的型號為7805。本實(shí)用新型的集成電路芯片測試儀,其特征在于,所述芯片卡槽的1、2、3、4、5、6、7、8、9、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20管腳分別通過1K電阻連接所述單片機(jī)的1、2、3、4、5、6、7、8、21、23、24、25、26、10、11、12、13、14、15管腳,所述芯片卡槽的10管腳接地,20管腳通過1K電阻接5V電源;所述第一擴(kuò)展接口的8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19管腳分別連接單片機(jī)的28、17、16、30、39、38、37、36、35、34、33、32管腳,所述第一擴(kuò)展接口的21、22、23、24、25、26、27、28、29、30、31管腳分別連接所述液晶顯示器的7、8、9、10、11、12、13、14、6、5、4管腳;所述液晶顯示器的3管腳通過可變電阻連接5V電源,2管腳連接5V電源,l管腳接地,20管腳接地,15、18管腳接5V電源;所述第二擴(kuò)展接口的8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19管腳分別連接單片機(jī)的27、17、16、30、39、38、37、36、35、34、33、32管腳,所述第二擴(kuò)展接口的29、30管腳分別通過電阻連接5V電源,21管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,22管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,23管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,24管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,25管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,26管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,27管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,28管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,37、38、39管腳分別通過1K電阻連第一接顯示燈、第二顯示燈、第三顯示燈,所述第一接顯示燈、第二顯示燈、第三顯示燈的另一端接地;所述單片機(jī)的18、19管腳之間并聯(lián)晶振,晶振兩端并聯(lián)兩個22pF的電容,兩個電容之間的節(jié)點(diǎn)接地;所述單片機(jī)的9管腳通過1K電阻接地,20管腳接地,9管腳通過22uF電容接5V電源,31、40管腳接5V電源。[0020]由于本實(shí)用新型集成電路芯片測試儀采用單片機(jī)進(jìn)行控制,原理簡單易懂,采用按鍵進(jìn)行控制,可以直接插入集成電路芯片,進(jìn)行測試好壞和顯示芯片型號、邏輯符號和邏輯表達(dá)式;或者進(jìn)行按鍵輸入芯片管腳特性,直接得到芯片型號、邏輯符號和邏輯表達(dá)式,操作方便,程序控制得到結(jié)果快速準(zhǔn)確,測試結(jié)果顯示清楚、簡單、明了;又由于采用的芯片及元件簡單,因此價格便宜;各個部分都可以獨(dú)立實(shí)現(xiàn)功能,便于檢測和修改。圖1是現(xiàn)有集成電路芯片測試儀的框圖;[0022]圖2是本實(shí)用新型集成電路芯片測試儀的框圖;[0023]圖3是本實(shí)用新型集成電路芯片測試儀的5V直流源的電路圖;[0024]圖4是本實(shí)用新型集成電路芯片測試儀的測試方法流程圖;[0025]圖5是本實(shí)用新型集成電路芯片測試儀的電路圖。具體實(shí)施方式以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型集成電路芯片測試儀的實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)說明。[0027]參見圖2,本實(shí)用新型的集成電路芯片測試儀采用的W78E058B4DL單片機(jī)2為控制核心,通過74系列芯片的管腳特性,來判斷芯片好壞和檢測芯片型號。由芯片卡槽1、單片機(jī)2、第一擴(kuò)展接口6、第二擴(kuò)展接口7,液晶顯示器5、鍵盤3、顯示燈4和5V直流源8組成,其中單片機(jī)2型號為W78E058B40DL,第一擴(kuò)展接口6和第二擴(kuò)展接口7為8155擴(kuò)展芯,鍵盤3為2X8鍵盤,共16個按鍵,液晶顯示器5為12864液晶顯示屏,其5V直流源為自制直流電源。芯片卡槽1用于連接待測的集成電路芯片;鍵盤3用于輸入待測集成電路芯片的型號或者管腳特性以及進(jìn)行功能切換、確認(rèn)和復(fù)位;顯示燈4用于顯示測量結(jié)果;液晶顯示器5用于顯示按鍵輸入的信息,并顯示集成電路芯片的芯片型號、邏輯符號和邏輯表達(dá)式;單片機(jī)2用于存儲集成電路芯片的型號、邏輯符號和邏輯表達(dá)式,測量芯片卡槽1上插入的待測集成電路芯片的好壞,并指示顯示燈4和液晶顯示器5顯示結(jié)果,令液晶顯示器5顯示集成電路芯片的邏輯符號和邏輯表達(dá)式,接收鍵盤3鍵入的集成電路芯片的型號或者管腳特性,令液晶顯示器5顯示鍵入的集成電路芯片的邏輯符號和邏輯表達(dá)式。[0033]第一擴(kuò)展接口6用于連接單片機(jī)2和液晶顯示器5,擴(kuò)展單片機(jī)2的端口;[0034]第二擴(kuò)展接口7用于連接單片機(jī)2和鍵盤3以及顯示燈4,擴(kuò)展單片機(jī)2的端口;[0035]5V直流源8為芯片卡槽1、單片機(jī)2、鍵盤3、顯示燈4和液晶顯示器5提供5V直流電源。參見圖5,芯片卡槽1的1、2、3、4、5、6、7、8、9、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20管腳分別通過1K電阻連接單片機(jī)2的1、2、3、4、5、6、7、8、21、23、24、25、26、10、11、12、13、14、15管腳,芯片卡槽1的10管腳接地,20管腳通過1K電阻接5V電源;第一擴(kuò)展接口6的8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19管腳分別連接單片機(jī)的28、17、16、30、39、38、37、36、35、34、33、32管腳,第一擴(kuò)展接口6的21、22、23、24、25、26、27、28、29、30、31管腳分別連接液晶顯示器5的7、8、9、10、11、12、13、14、6、5、4管腳;液晶顯示器5的3管腳通過可變電阻Rl連接5V電源,2管腳連接5V電源,1管腳接地,20管腳接地,15、18管腳接5V電源;第二擴(kuò)展接口7的8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19管腳分別連接單片機(jī)的27、17、16、30、39、38、37、36、35、34、33、32管腳,第二擴(kuò)展接口7的29、30管腳分別通過電阻連接5V電源,21管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,22管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,23管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,24管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,25管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,26管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,27管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,28管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,37、38、39管腳分別通過1K電阻連第一接顯示燈Ll、第二顯示燈L2、第三顯示燈L3,第一接顯示燈Ll、第二顯示燈L2、第三顯示燈L3的另一端接地;單片機(jī)2的18、19管腳之間并聯(lián)晶振,晶振兩端并聯(lián)兩個22pF的電容,兩個電容之間的節(jié)點(diǎn)接地;單片機(jī)2的9管腳通過1K電阻接地,20管腳接地,9管腳通過22uF電容接5V電源,31、40管腳接5V電源。其中單片機(jī)2內(nèi)存有包括74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30十種常用芯片和74/109/160/245四種時序芯片的邏輯符號和邏輯表達(dá)式;顯示燈4有三個,第三顯示燈L3、第二顯示燈L2、第一顯示燈Ll,分別為紅色、綠色和白色,紅色燈用以顯示待測集成電路芯片為壞的、綠色燈顯示為好的,白色燈用以待測集成電路芯片不在設(shè)定的范圍之內(nèi),顯示超出測試范圍;同時液晶顯示器5顯示"FALSE"、"PASS"和"超出范圍"。參見圖3,5V直流源采用變壓器TR1將220V交流電變?yōu)?v直流電,變壓器TR1的上端連接集成穩(wěn)壓器7805的1管腳,下端連接穩(wěn)壓器7805的2管腳,并接地,穩(wěn)壓器7805的3管腳通過第一電容Cl接變壓器TR1的下端,從而穩(wěn)壓器7805將9V的直流電轉(zhuǎn)換成穩(wěn)定的5V直流輸出。通過單片機(jī)進(jìn)行處理和控制,達(dá)到實(shí)現(xiàn)以下三個功能功能一,即開機(jī)默認(rèn)該功能用鍵盤輸入芯片型號后,系統(tǒng)能自動檢測芯片的好壞,并通過液晶屏和指示燈直觀顯示結(jié)果;功能二對完好的芯片,能夠自動顯示邏輯符號和邏輯表達(dá)式,確定芯片型號;[0043]功能三不插芯片,輸入簡單的管腳特性,判斷出芯片型號,并自動調(diào)出芯片的邏輯符號和邏輯表達(dá)式。其中管腳特性的輸入如下表所示+為高電平,_為低電平,通過按鍵來輸入。[0045]<table>tableseeoriginaldocumentpage7</column></row><table>[0046]參見圖4,單片機(jī)控制的流程為[0047]步驟401,進(jìn)行鍵盤掃描;步驟402,判定是否有按鍵信息鍵入,否,則執(zhí)行步驟401;步驟403,判定是否進(jìn)行功能切換,否,則執(zhí)行步驟408;步驟404,判定是否切換到功能二,否,則執(zhí)行步驟409;步驟405,切換到功能二;步驟406,執(zhí)行功能二;步驟407,進(jìn)行液晶顯示結(jié)果;步驟408,執(zhí)行功能一;步驟409,切換到功能三;步驟410,執(zhí)行功能三,后執(zhí)行步驟407。由于本實(shí)用新型集成電路芯片測試儀采用單片機(jī)進(jìn)行控制,原理簡單易懂,采用按鍵進(jìn)行控制,可以直接插入集成電路芯片,進(jìn)行測試好壞和顯示芯片型號、邏輯符號和邏輯表達(dá)式;或者進(jìn)行按鍵輸入芯片管腳特性,直接得到芯片型號、邏輯符號和邏輯表達(dá)式,操作方便,程序控制得到結(jié)果快速準(zhǔn)確,測試結(jié)果顯示清楚、簡單、明了;又由于采用的芯片及元件簡單,因此價格便宜;各個部分都可以獨(dú)立實(shí)現(xiàn)功能,便于檢測和修改。以上的實(shí)施例僅是對本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式進(jìn)行描述,并非對本實(shí)用新型的范圍進(jìn)行限定,在不脫離本實(shí)用新型設(shè)計精神的前提下,本領(lǐng)域普通工程技術(shù)人員對本實(shí)用新型的技術(shù)方案做出的各種變形和改進(jìn),均應(yīng)落入本實(shí)用新型的權(quán)利要求書確定的保護(hù)范圍內(nèi)。8權(quán)利要求一種集成電路芯片測試儀,包括芯片卡槽(1)、單片機(jī)(2)、鍵盤(3)、顯示燈(4)、液晶顯示器(5)以及5V直流源(8);所述芯片卡槽(1)用于連接待測的集成電路芯片;所述鍵盤(3)用于輸入待測集成電路芯片的型號或者管腳特性以及進(jìn)行功能切換、確認(rèn)和復(fù)位;所述顯示燈(4)用于顯示測量結(jié)果;所述液晶顯示器(5)用于顯示按鍵輸入的信息,并顯示集成電路芯片的芯片型號、邏輯符號和邏輯表達(dá)式;所述單片機(jī)(2)用于存儲集成電路芯片的型號、邏輯符號和邏輯表達(dá)式,測量所述芯片卡槽(1)上插入的待測集成電路芯片的好壞,并指示所述顯示燈(4)和所述液晶顯示器(5)顯示結(jié)果,令所述液晶顯示器(5)顯示集成電路芯片的邏輯符號和邏輯表達(dá)式,接收所述鍵盤(3)鍵入的集成電路芯片的型號或者管腳特性,令所述液晶顯示器(5)顯示鍵入的集成電路芯片的邏輯符號和邏輯表達(dá)式;所述5V直流源(8)為所述芯片卡槽(1)、所述單片機(jī)(2)、所述鍵盤(3)、所述顯示燈(4)和所述液晶顯示器(5)提供5V直流電源;其特征在于,還包括第一擴(kuò)展接口(6)、第二擴(kuò)展接口(7);所述第一擴(kuò)展接口(6)用于連接所述單片機(jī)(2)和所述液晶顯示器(5),擴(kuò)展所述單片機(jī)(2)的端口;所述第二擴(kuò)展接口(7)用于連接所述單片機(jī)(2)和所述鍵盤(3)以及顯示燈(4),擴(kuò)展所述單片機(jī)(2)的端口。2.根據(jù)權(quán)利要求l所述的集成電路芯片測試儀,其特征在于,所述單片機(jī)(2)存儲74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30芯片和74/109/160/245時序芯片的邏輯符號和邏輯表達(dá)式。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的集成電路芯片測試儀,其特征在于,所述鍵盤(3)為16個按鍵的鍵盤。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的集成電路芯片測試儀,其特征在于,所述顯示燈(4)有三個,第三顯示燈(L3)、第二顯示燈(L2)、第一顯示燈(Ll),分別為紅色、綠色和白色,分別用以顯示待測集成電路芯片為壞的、好的和超出測試范圍。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的集成電路芯片測試儀,其特征在于,所述5V直流源(8)采用變壓器(TR1)將220V交流電變?yōu)?v直流電,再通過集成穩(wěn)壓器,轉(zhuǎn)換成穩(wěn)定的5V輸出,所述集成穩(wěn)壓器的型號為7805。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的集成電路芯片測試儀,其特征在于,所述芯片卡槽(1)的2、3、4、5、6、7、8、9、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20管腳分別通過1K電阻連接所述單片機(jī)(2)的1、2、3、4、5、6、7、8、21、23、24、25、26、10、11、12、13、14、15管腳,所述芯片卡槽(1)的10管腳接地,20管腳通過1K電阻接5V電源;所述第一擴(kuò)展接口(6)的8、9、10、11、113、14、15、16、17、18、19管腳分別連接單片機(jī)的28、17、16、30、39、38、37、36、35、34、33、32管腳,所述第一擴(kuò)展接口(6)的21、22、23、24、25、26、27、28、29、30、31管腳分別連接所述液晶顯示器(5)的7、8、9、10、11、12、13、14、6、5、4管腳;所述液晶顯示器(5)的3管腳通過可變電阻(Rl)連接5V電源,2管腳連接5V電源,1管腳接地,20管腳接地,15、18管腳接5V電源;所述第二擴(kuò)展接口(7)的8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19管腳分別連接單片機(jī)的27、17、16、30、39、38、37、36、35、34、33、32管腳,所述第二擴(kuò)展接口(7)的29、30管腳分別通過電阻連接5V電源,21管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,22管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,23管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,24管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,25管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,26管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,27管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,28管腳通過兩個按鍵分別連接29管腳和30管腳,37、3S、39管腳分別通過1K電阻連第一接顯示燈(Ll)、第二顯示燈(L2)、第三顯示燈(L3),所述第一接顯示燈(Ll)、第二顯示燈(L2)、第三顯示燈(L3)的另一端接地;所述單片機(jī)(2)的18、19管腳之間并聯(lián)晶振,晶振兩端并聯(lián)兩個22pF的電容,兩個電容之間的節(jié)點(diǎn)接地;所述單片機(jī)(2)的9管腳通過1K電阻接地,20管腳接地,9管腳通過22uF電容接5V電源,31、40管腳接5V電源。專利摘要一種集成電路芯片測試儀,包括芯片卡槽、單片機(jī)、鍵盤、顯示燈、液晶顯示器、第一擴(kuò)展接口、第二擴(kuò)展接口以及5V直流源,鍵盤輸入芯片型號,系統(tǒng)自動檢測芯片的好壞,并通過液晶屏和指示燈直觀顯示結(jié)果;對完好的芯片,顯示邏輯符號和邏輯表達(dá)式,確定芯片型號;不插芯片,輸入簡單的管腳特性,判斷芯片型號,調(diào)出芯片的邏輯符號和邏輯表達(dá)式;從而提供一種操作方便,得到結(jié)果快速準(zhǔn)確,測試結(jié)果顯示清楚、簡單、明了,價格便宜,便于檢測和修改的集成電路芯片測試儀。文檔編號G01R31/28GK201464611SQ20092010648公開日2010年5月12日申請日期2009年3月27日優(yōu)先權(quán)日2009年3月27日發(fā)明者孔睿,李莉申請人:孔睿
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