專利名稱:液晶面板內(nèi)異物顆粒的檢測方法和液晶面板控制電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及液晶面板內(nèi)的異物檢測技術(shù),尤其涉及一種液晶面板內(nèi)異物顆粒的檢 測方法和液晶面板控制電路。
背景技術(shù):
液晶面板(Panel)是由兩基板對盒形成的,其間填充有液晶層。雖然有清洗措施, 但在液晶面板的制造過程中,還可能會有一些細(xì)小的異物顆粒被封裝到液晶面板之中。這 些異物顆粒無論是導(dǎo)電的還是非導(dǎo)電的,都會影響液晶面板的顯示效果,尤其是醫(yī)療器械 用顯示屏等高精度顯示器的顯示效果?,F(xiàn)有液晶面板盒檢測(Cell Test)中檢測盒內(nèi)異物顆粒的方法,是在點(diǎn)亮背光源 后,向成盒的液晶面板輸入正常的單色圖像信號,由操作員根據(jù)視認(rèn)性辨別顏色和灰度的 差異,如發(fā)現(xiàn)與周圍像素不同的異常顏色或異常灰度,即確認(rèn)有不良。在進(jìn)行本發(fā)明的研究過程中,發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有的檢測方法存在如下缺陷當(dāng)異物 顆粒的尺寸較小時(shí),異物顆粒所導(dǎo)致的像素顏色或灰度差異很小,若導(dǎo)電的異物顆粒沒有 游動到金屬層之間引起短路,那么也不會出現(xiàn)亮點(diǎn)或亮線,操作員依靠視覺觀察難以察覺, 這樣會導(dǎo)致漏檢。但在該液晶面板隨后被搬運(yùn)或使用時(shí),異物顆??赡軙苿游恢茫?dāng)導(dǎo)電 的異物顆粒游動到金屬層線路之間時(shí),即會發(fā)生短路而出現(xiàn)亮點(diǎn)或亮線的不良顯示。如果 是不導(dǎo)電的異物顆粒,會使顯示顏色出現(xiàn)差異,對于一些高品質(zhì)、高精度的顯示屏來說,無 法達(dá)到顯示要求。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種液晶面板內(nèi)異物顆粒的檢測方法和液晶面板控制電路, 以提高對液晶面板內(nèi)異物顆粒成功檢測的概率,保證產(chǎn)品的合格率。為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種液晶面板內(nèi)異物顆粒的檢測方法,包括向柵極線通入柵極開啟電壓,并向數(shù)據(jù)線通入信號電壓,使液晶分子達(dá)到設(shè)定的 扭轉(zhuǎn)角度;停止向數(shù)據(jù)線通入信號電壓,并向所述柵極線通入第一電壓,所述第一電壓大于 柵極斷開電壓且小于柵極開啟電壓;檢查液晶面板顯示的圖像,呈現(xiàn)異常顏色和/或異?;叶鹊奈恢镁哂挟愇镱w粒。上述方案中,當(dāng)通入第一電壓時(shí),液晶分子在自身力作用下逐漸減小扭轉(zhuǎn)角度,存 在異物顆粒處的液晶分子因扭轉(zhuǎn)角度差異而呈現(xiàn)異常顏色和/或異常灰度,以供檢查。為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明還提供了一種液晶面板控制電路,包括用于向柵極線通 入柵極開啟電壓或柵極斷開電壓的柵極驅(qū)動電路,以及用于向數(shù)據(jù)線通入信號電壓的數(shù)據(jù) 驅(qū)動電路,還包括第一電壓產(chǎn)生電路,用于在液晶分子達(dá)到設(shè)定的扭轉(zhuǎn)角度之后,所述第一電壓產(chǎn) 生電路向柵極線通入第一電壓,所述第一電壓大于柵極斷開電壓且小于柵極開啟電壓,以使液晶分子在自身力作用下逐漸減小扭轉(zhuǎn)角度,存在異物顆粒處的液晶分子因扭轉(zhuǎn)角度差 異而呈現(xiàn)異常顏色和/或異常灰度。由以上技術(shù)方案可知,本發(fā)明采用先施加電場使液晶分子扭轉(zhuǎn),然后施加第一電 壓,使其緩慢漏電,液晶分子在自身力作用下進(jìn)行扭轉(zhuǎn)恢復(fù)的技術(shù)手段,利用了在沒有外界 電場的作用下,異物顆粒對液晶分子的作用力影響更大的原理,能夠使異物顆粒影響液晶 分子所呈現(xiàn)在圖像上的差異放大,更為明顯,更易被視覺檢出,從而能夠有效提高異物顆粒 的檢出率,提高產(chǎn)品的合格率。
圖1為本發(fā)明實(shí)施例所基于的陣列基板中一個像素單元的俯視結(jié)構(gòu)示意圖;圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例所提供的液晶面板內(nèi)異物顆粒的檢測方法的流程圖;圖3為本發(fā)明第二實(shí)施例所提供的液晶面板控制電路的局部電路示意圖;圖4為本發(fā)明第三實(shí)施例所提供的液晶面板控制電路的局部電路示意圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明實(shí)施例所提供的液晶面板內(nèi)異物顆粒的檢測方法包括的基本步驟如下向柵極線通入柵極開啟電壓,并向數(shù)據(jù)線通入信號電壓,使液晶分子達(dá)到設(shè)定的 扭轉(zhuǎn)角度;停止向數(shù)據(jù)線通入信號電壓,并向柵極線通入第一電壓,第一電壓大于柵極斷開 電壓且小于柵極開啟電壓,液晶分子在自身力作用下逐漸減小扭轉(zhuǎn)角度,存在異物顆粒處 的液晶分子因扭轉(zhuǎn)角度差異而呈現(xiàn)異常顏色和/或異常灰度;觀察員通過檢查上述漏電過程中液晶面板所顯示圖像上的異常顏色和/或異常 灰度就可以確定異物顆粒所在位置。識別到異常后可以由盒測試(CellTest)對該液晶面 板進(jìn)行再次檢查確認(rèn),以防止錯判,例如利用顯微鏡進(jìn)行照相,再進(jìn)行維修。本發(fā)明上述檢測方法所基于的原理是液晶分子在電場的作用下會發(fā)生扭轉(zhuǎn),在 電場取消時(shí),液晶分子會依靠自身的彈性力作用而逐漸恢復(fù)至初始的未扭轉(zhuǎn)狀態(tài),當(dāng)存在 異物顆粒時(shí),異物顆粒會影響液晶分子的扭轉(zhuǎn)恢復(fù)而呈現(xiàn)與其他液晶分子的扭轉(zhuǎn)角度差 異??赡艹霈F(xiàn)的扭轉(zhuǎn)差異包括異物顆粒的阻礙作用降低了液晶分子的扭轉(zhuǎn)速度,從而扭轉(zhuǎn) 角度要大于其他液晶分子,而且這種差異會隨著時(shí)間的推移而增大,扭轉(zhuǎn)角度不同的液晶 分子對光的透過率不同,從而在液晶面板上呈現(xiàn)出不同的灰度,存在異物顆粒處的液晶分 子可稱為呈現(xiàn)了異?;叶龋划?dāng)異物顆粒是具有取向性或極性時(shí),對液晶分子的扭轉(zhuǎn)也會產(chǎn) 生影響,其變化趨勢雖然不確定,但色差會體現(xiàn)的更為明顯?,F(xiàn)有技術(shù)中是在向液晶層施加電場的過程后,觀察異物顆粒對已扭轉(zhuǎn)的液晶分子 的扭轉(zhuǎn)狀態(tài)的影響,此時(shí)異物顆粒對液晶分子的作用需克服電場對液晶分子的扭轉(zhuǎn)作用 力,因此,異物顆粒尺寸較小時(shí)對液晶分子扭轉(zhuǎn)的影響微小,不易察覺。采用本實(shí)施例的技 術(shù)方案,液晶分子從扭轉(zhuǎn)狀態(tài)恢復(fù)到非扭轉(zhuǎn)狀態(tài)的過程中依靠自身彈性力作用來恢復(fù),沒 有外界電場的作用時(shí),異物顆粒對液晶分子扭轉(zhuǎn)恢復(fù)過程的影響是顯著的,呈現(xiàn)出來與其 他液晶分子在顏色或灰度上的差異自然增大,更易于被觀察發(fā)現(xiàn)。因此,能夠提高對液晶面 板內(nèi)異物顆粒成功檢測的概率,保證產(chǎn)品的合格率。
使液晶層的狀態(tài)經(jīng)歷上述“扭轉(zhuǎn)至設(shè)定角度_在自身彈性力作用下恢復(fù)”的變化 過程可以有多種手段來實(shí)現(xiàn),下面通過具體實(shí)施例并結(jié)合附圖對本發(fā)明做進(jìn)一步的詳細(xì)描 述。以下實(shí)施例以檢測薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display ;以下簡稱TFT_IXD)的液晶面板為例進(jìn)行說明,但本發(fā)明并不限于檢測 此種液晶面板,其他結(jié)構(gòu)的、只要能夠具有圖像顯示功能的液晶面板都可以適用本發(fā)明。圖1為本發(fā)明實(shí)施例所基于的陣列基板中一個像素單元的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。該陣 列基板包括襯底基板,在襯底基板上形成有橫縱交叉的多根數(shù)據(jù)線3和柵極線2,相鄰的柵 極線2和數(shù)據(jù)線3圍設(shè)出一個像素單元,如圖1所示。每個像素單元中有像素電極13、存儲 電極5和TFT開關(guān),TFT開關(guān)具體包括柵電極4,源電極9和漏電極8。柵電極4連接在柵 極線2上,源電極9和漏電極8分別連接數(shù)據(jù)線3和像素電極13。在柵電極4與源電極9 和漏電極8之間設(shè)置有有源層7,當(dāng)柵電極4從柵極線2上獲取柵極開啟電壓時(shí),有源層7 就會使源電極9和漏電極8導(dǎo)通,從而實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)線3與像素電極13的導(dǎo)通,當(dāng)數(shù)據(jù)線3中 通有信號電壓時(shí),即可以為像素電極13充電。若柵電極4從柵極線2獲取的是柵極斷開電 壓,則有源層7無法實(shí)現(xiàn)源電極9和漏電極8的導(dǎo)通。液晶面板的控制電路包括有數(shù)據(jù)驅(qū) 動電路和柵極驅(qū)動電路,分別用來控制向數(shù)據(jù)線3和柵極線2輸入的電壓。例如扭曲向列(Twisted Nematic ;以下簡稱TN)模式的液晶面板,與陣列基板對 應(yīng)的彩膜基板上一般設(shè)置有整面的公共電極,公共電極一般通有恒定的公共電壓,公共電 極與像素電極為液晶層提供電場作用,使得液晶分子在電場作用下反轉(zhuǎn)。本發(fā)明的液晶面板內(nèi)異物顆粒的檢測方法應(yīng)用到TFT-LCD上時(shí),可以具體有如下 實(shí)施例所述的實(shí)現(xiàn)方式。第一實(shí)施例圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例所提供的液晶面板內(nèi)異物顆粒的檢測方法的流程圖,該 方法包括如下步驟步驟10、向陣列基板上的柵極線通入柵極開啟電壓Von,并向陣列基板上的數(shù)據(jù) 線通入信號電壓,從而向陣列基板上的像素電極充入信號電壓,信號電壓與彩膜基板公共 電極上的公共電壓形成扭轉(zhuǎn)電場,施加到液晶層的兩端,以使液晶分子達(dá)到設(shè)定的扭轉(zhuǎn)角度。步驟10是向液晶面板輸入圖像的常規(guī)步驟,優(yōu)選的是給所有的像素輸入同樣的 信號電壓,以便呈現(xiàn)單一顏色的圖像,且信號電壓優(yōu)選為驅(qū)動液晶分子扭轉(zhuǎn)達(dá)到90度扭轉(zhuǎn) 角度的電壓。例如,對于全白模式的液晶面板,即在常態(tài)下呈現(xiàn)最高灰度級的液晶面板,輸 入信號電壓使液晶分子扭轉(zhuǎn),液晶面板會呈全黑的最低灰度級狀態(tài)。具體的,向陣列基板上的柵極線通入柵極開啟電壓,并向陣列基板上的數(shù)據(jù)線通 入信號電壓可以包括步驟101、向柵極驅(qū)動電路通入一幀開啟信號STV和一行開啟信號CPV ;步驟102、柵極驅(qū)動電路根據(jù)該幀開啟信號STV和行開啟信號CPV逐行向柵極線通 入柵極開啟電壓Von,同時(shí)數(shù)據(jù)驅(qū)動電路向各數(shù)據(jù)線通入信號電壓。步驟20、停止向數(shù)據(jù)線通入信號電壓,并向柵極線通入第一電壓V,第一電壓大于 柵極斷開電壓Voff且小于柵極開啟電壓Von。停止向數(shù)據(jù)線通入信號電壓則會停止向像素電極連續(xù)充入的信號電壓,此時(shí)可以采用陣列基板上的存儲電極與公共電極保持扭轉(zhuǎn)電場 兩端的已有電壓值,柵極線通入的第一電壓則對該扭轉(zhuǎn)電場進(jìn)行放電。陣列基板上的存儲電極是固有結(jié)構(gòu),在正常顯示圖像時(shí),當(dāng)數(shù)據(jù)線通入信號電壓 時(shí),存儲電極和公共電極之間形成存儲電容,數(shù)據(jù)線停止輸出信號電壓或柵極線輸入柵極 斷開電壓時(shí),則存儲電容起到在一段時(shí)間內(nèi)維持電場的作用,通??梢栽谝粠臅r(shí)間內(nèi)維 持電場。優(yōu)選的是可以在逐漸減小扭轉(zhuǎn)電場兩端的電壓值之前,即在向柵極線通入第一電 壓之前,停止輸入幀開啟信號,沒有幀開啟信號,則控制電路無法再向柵極線和數(shù)據(jù)線輸入 圖像所需的電壓,因此,液晶面板的顯示相當(dāng)于停止在上一幀的畫面上。向柵極線通入第一電壓V來施加到液晶層上,實(shí)際上是對存儲電極和公共電極之 間的扭轉(zhuǎn)電場進(jìn)行放電,從而逐漸減小扭轉(zhuǎn)電場兩端的電壓值。由于柵極線通入的第一電 壓V高于柵極斷開電壓Voff,即柵電極沒有完全關(guān)斷,所以源漏極之間的漏電流會加大產(chǎn) 生緩慢漏電的效果。扭轉(zhuǎn)電場漏電后,液晶分子在自身彈性力作用下逐漸減小扭轉(zhuǎn)角度,存 在異物顆粒處的液晶分子因扭轉(zhuǎn)角度差異而呈現(xiàn)異常顏色和/或異?;叶?。步驟30、檢查液晶面板顯示的圖像,呈現(xiàn)異常顏色和/或異?;叶鹊奈恢镁哂挟?物顆粒。雖然在停止充電后,該扭轉(zhuǎn)電場也會因?yàn)樽陨斫Y(jié)構(gòu)的漏電容而自行漏電,但是該 漏電速度較慢,優(yōu)選的是向液晶層施加第一電壓,以逐漸減小扭轉(zhuǎn)電場兩端的電壓值??梢?通過控制第一電壓值使扭轉(zhuǎn)電場緩慢漏電完成,若漏電過程太快,則電場中電量會瞬間放 完而導(dǎo)致沒有充足的時(shí)間觀測畫面,且漏電速度太快相當(dāng)于有電壓的跳變,會對液晶分子 有力的作用,所以較佳的是通過設(shè)定合適的第一電壓使扭轉(zhuǎn)電場緩慢放電。上述步驟10和20實(shí)現(xiàn)了向液晶層施加一扭轉(zhuǎn)電場以使液晶分子達(dá)到設(shè)定的扭轉(zhuǎn) 角度,并保持扭轉(zhuǎn)電場兩端的電壓值,且通過第一電壓漏電逐漸減小扭轉(zhuǎn)電場兩端的電壓 值。本實(shí)施例中的上述步驟充分利用了現(xiàn)有TFT-LCD液晶面板的結(jié)構(gòu)和信號輸入方式來實(shí) 現(xiàn)本發(fā)明的基本步驟,在具體應(yīng)用中,若液晶面板上像素單元的結(jié)構(gòu)不同,控制電路的設(shè)計(jì) 不同,也可以采用其他方式來實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的基本步驟,例如可以通過設(shè)計(jì)專用的檢測電路 來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)上述介紹的原理,本實(shí)施例相當(dāng)于放大了對小異物顆粒導(dǎo)致不良的可視性, 尤其適用于檢測出人眼視覺可辨認(rèn)的臨界值以上尺寸的小異物顆粒和尺寸更小的具有取 向性的有機(jī)小異物,例如液晶取向?qū)由系木埘啺?PI)碎屑等。采用本實(shí)施例的技術(shù)方 案,略小于或接近于亞像素的異物顆粒,因?yàn)橛猩畹淖兓瑢θ说难劬Ρ容^敏感,經(jīng)過放 大后不良就更容易檢出了。具體應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)向柵極線通入第一電壓的方式有多種,例如,可以斷開柵極線與 柵極斷開電壓供給線路的連接,并閉合柵極線與第一電壓源的連接,第一電壓源向柵極線 通入第一電壓。或者,也可以在柵極斷開電壓供給線路與柵極線之間設(shè)置一分壓電阻,通過調(diào)節(jié) 柵極斷開電壓供給線路與柵極線之間的分壓電阻值,向柵極線通入第一電壓。本發(fā)明還提供了一種液晶面板控制電路,可以用于實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的上述方法,具體 的,該液晶面板控制電路包括用于向柵極線通入柵極開啟電壓或柵極斷開電壓的柵極驅(qū)動電路,以及用于向數(shù)據(jù)線通入信號電壓的數(shù)據(jù)驅(qū)動電路,且該控制電路還包括第一電壓產(chǎn) 生電路,用于在液晶分子達(dá)到設(shè)定的扭轉(zhuǎn)角度之后,第一電壓產(chǎn)生電路向柵極線通入第一 電壓,第一電壓大于柵極斷開電壓且小于柵極開啟電壓,以使液晶分子在自身力作用下逐 漸減小扭轉(zhuǎn)角度,存在異物顆粒處的液晶分子因扭轉(zhuǎn)角度差異而呈現(xiàn)異常顏色和/或異常 灰度。實(shí)現(xiàn)第一電壓產(chǎn)生電路的電路形式有多種,下面通過實(shí)施例分別介紹。第二實(shí)施例圖3為本發(fā)明第二實(shí)施例所提供的液晶面板控制電路的局部電路示意圖。液晶面 板的控制電路中包括有柵極驅(qū)動電路和數(shù)據(jù)驅(qū)動電路,還包括第一電壓產(chǎn)生電路,且第一 電壓產(chǎn)生電路連接在控制電路中。第一電壓產(chǎn)生電路具體包括柵極切斷開關(guān)15、電源切 換開關(guān)16和第一電壓源17。其中,柵極切斷開關(guān)15用于切斷柵極驅(qū)動電路與各柵極線的 連接,柵極驅(qū)動電路和數(shù)據(jù)驅(qū)動電路控制向液晶層施加一扭轉(zhuǎn)電場以使液晶分子達(dá)到設(shè)定 的扭轉(zhuǎn)角度之后,在扭轉(zhuǎn)電場兩端的電壓值保持時(shí),該柵極切斷開關(guān)15執(zhí)行斷開動作以斷 開柵極驅(qū)動電路與柵極線的連接。電源切換開關(guān)16與柵極切斷開關(guān)15相關(guān)聯(lián),用于在柵 極切斷開關(guān)15執(zhí)行斷開動作時(shí),該電源切換開關(guān)16執(zhí)行閉合動作,以切換至第一電壓源 17與各柵極線連接。即將原有印刷電路板(Print Circuit Board ;以下簡稱PCB)向柵極 線提供柵極斷開電壓Voff切換為由第一電壓源17向柵極線提供第一電壓。第一電壓源 17經(jīng)電源切換開關(guān)16與柵極線相連,用于向柵極線通入第一電壓。如圖3所示,原柵極驅(qū) 動電路中存在向柵極線提供柵極斷開電壓Voff的線路,柵極切斷開關(guān)15即連接在柵極斷 開電壓供給線路上。當(dāng)正常顯示圖像時(shí),柵極切斷開關(guān)15閉合,正常地傳輸柵極斷開電壓 Voff,當(dāng)需要檢測異物顆粒時(shí),在液晶面板上已出現(xiàn)設(shè)定畫面,液晶分子已到設(shè)定扭轉(zhuǎn)角度 后的任何時(shí)候,可以聯(lián)動地觸發(fā)柵極切斷開關(guān)15斷開動作和電源切換開關(guān)16的閉合動作, 由第一電壓源17提供新的第一電壓。第一電壓源17經(jīng)電源切換開關(guān)16與柵極線相連,通 過柵極線向液晶層施加第一電壓,以適當(dāng)加大漏電速率逐漸減小扭轉(zhuǎn)電場兩端的電壓值, 從而使液晶分子在自身彈性力作用下逐漸減小扭轉(zhuǎn)角度,存在異物顆粒處的液晶分子因扭 轉(zhuǎn)角度差異而呈現(xiàn)異常顏色和/或異常灰度。由于異物顆粒對液晶分子自身彈性力作用來恢復(fù)扭轉(zhuǎn)的影響更加明顯,所以上述 控制電路更易于檢測出小尺寸的異物顆粒,降低漏檢率,提高產(chǎn)品合格率。第三實(shí)施例圖4為本發(fā)明第三實(shí)施例所提供的液晶面板控制電路的局部電路示意圖。本實(shí)施 例與上述第二實(shí)施例的區(qū)別在于,第一電壓產(chǎn)生電路包括一分壓變阻器18,分壓變阻器18 連接在柵極驅(qū)動電路和柵極線之間,用于改變柵極驅(qū)動電路向柵極線通入的電壓值來通入 第一電壓。具體可以連接在柵極斷開電壓供給線路中。本發(fā)明液晶面板控制電路實(shí)施例可以執(zhí)行本發(fā)明液晶面板內(nèi)異物顆粒的檢測方 法任一實(shí)施例的技術(shù)方案,控制電路中的柵極驅(qū)動電路和數(shù)據(jù)驅(qū)動電路可以按照常規(guī)方式 輸入一幀的圖像,檢測時(shí)是輸入單一顏色高灰度級的圖像。當(dāng)開始檢測,即第一電壓產(chǎn)生電 路動作以輸入第一電壓。采用本實(shí)施例的技術(shù)方案,可以通過對現(xiàn)有控制電路PCB板的改造實(shí)現(xiàn)對信號輸 出的改變,進(jìn)而放大異物顆粒對液晶區(qū)域的影響,提高對小異物顆粒的檢出率。對電路的改 進(jìn)小,成本低,且實(shí)現(xiàn)效果好,可以有效降低異物顆粒的漏檢率,提高產(chǎn)品的合格率。
本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述方法實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過 程序指令相關(guān)的硬件來完成,前述的程序可以存儲于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲介質(zhì)中,該程序 在執(zhí)行時(shí),執(zhí)行包括上述方法實(shí)施例的步驟;而前述的存儲介質(zhì)包括R0M、RAM、磁碟或者 光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。最后應(yīng)說明的是以上實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案,而非對其限制;盡 管參照前述實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解其依然 可以對前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改,或者對其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替 換;而這些修改或者替換,并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)方案的精 神和范圍。
權(quán)利要求
一種液晶面板內(nèi)異物顆粒的檢測方法,其特征在于,包括向柵極線通入柵極開啟電壓,并向數(shù)據(jù)線通入信號電壓,使液晶分子達(dá)到設(shè)定的扭轉(zhuǎn)角度;停止向數(shù)據(jù)線通入信號電壓,并向所述柵極線通入第一電壓,所述第一電壓大于柵極斷開電壓且小于柵極開啟電壓;檢查液晶面板顯示的圖像,呈現(xiàn)異常顏色和/或異?;叶鹊奈恢镁哂挟愇镱w粒。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶面板內(nèi)異物顆粒的檢測方法,其特征在于所述信號電 壓為驅(qū)動所述液晶分子扭轉(zhuǎn)達(dá)到90度扭轉(zhuǎn)角度的電壓。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶面板內(nèi)異物顆粒的檢測方法,其特征在于,向所述柵極 線通入第一電壓包括斷開所述柵極線與柵極斷開電壓供給線路的連接,并閉合所述柵極線與第一電壓源的 連接,所述第一電壓源向所述柵極線通入所述第一電壓。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶面板內(nèi)異物顆粒的檢測方法,其特征在于,向所述柵極 線通入第一電壓包括調(diào)節(jié)柵極斷開電壓供給線路與柵極線之間的分壓電阻值,向所述柵極線通入所述第一 電壓。
5.一種液晶面板控制電路,包括用于向柵極線通入柵極開啟電壓或柵極斷開電壓的柵 極驅(qū)動電路,以及用于向數(shù)據(jù)線通入信號電壓的數(shù)據(jù)驅(qū)動電路,其特征在于,還包括第一電壓產(chǎn)生電路,用于在液晶分子達(dá)到設(shè)定的扭轉(zhuǎn)角度之后,所述第一電壓產(chǎn)生電 路向柵極線通入第一電壓,所述第一電壓大于柵極斷開電壓且小于柵極開啟電壓,以使液 晶分子在自身力作用下逐漸減小扭轉(zhuǎn)角度,存在異物顆粒處的液晶分子因扭轉(zhuǎn)角度差異而 呈現(xiàn)異常顏色和/或異常灰度。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶面板控制電路,其特征在于,所述第一電壓產(chǎn)生電路包括柵極切斷開關(guān),用于切斷柵極驅(qū)動電路與各柵極線的連接;電源切換開關(guān),與所述柵極切斷開關(guān)相關(guān)聯(lián),用于在所述柵極切斷開關(guān)執(zhí)行斷開動作 時(shí),所述電源切換開關(guān)執(zhí)行閉合動作以切換至第一電壓源與各柵極線連接;第一電壓源,經(jīng)所述電源切換開關(guān)與柵極線相連,用于向柵極線通入所述第一電壓。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶面板控制電路,其特征在于,所述第一電壓產(chǎn)生電路包括分壓變阻器,連接在所述柵極驅(qū)動電路和柵極線之間,用于改變所述柵極驅(qū)動電路向 所述柵極線通入的電壓值來通入所述第一電壓。全文摘要
本發(fā)明涉及一種液晶面板內(nèi)異物顆粒的檢測方法和液晶面板控制電路。該檢測方法包括向柵極線通入柵極開啟電壓,向數(shù)據(jù)線通入信號電壓,以使液晶分子達(dá)到設(shè)定的扭轉(zhuǎn)角度;停止向數(shù)據(jù)線通入信號電壓,并向柵極線通入大于柵極斷開電壓且小于柵極開啟電壓的第一電壓;檢查液晶面板顯示的圖像,呈現(xiàn)異常顏色和/或異?;叶鹊奈恢镁哂挟愇镱w粒。該控制電路包括數(shù)據(jù)驅(qū)動電路、柵極驅(qū)動電路和第一電壓產(chǎn)生電路。本發(fā)明采用先施加電場使液晶分子扭轉(zhuǎn),再對電場進(jìn)行漏電,使液晶分子在自身力作用下進(jìn)行扭轉(zhuǎn)恢復(fù)的技術(shù)手段,使異物顆粒影響液晶分子所呈現(xiàn)在圖像上的差異更為明顯,能夠提高異物顆粒的檢出率。
文檔編號G01N21/88GK101900893SQ20091008562
公開日2010年12月1日 申請日期2009年5月26日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月26日
發(fā)明者任祖興 申請人:北京京東方光電科技有限公司