專利名稱：工件檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種工件檢測裝置。
背景技術(shù)：
工件在制造過程中都要經(jīng)過檢測流程進(jìn)對工件是否合格進(jìn)行檢測，而工件的復(fù)雜形狀及 對尺寸的高精度的要求往往使得工件在普通的檢測裝置中的定位變得十分困難， 一般的檢測 裝置需要一些卡扣等定位裝置對工件進(jìn)行定位，然而上述定位方式往往使得工件檢測過程中 由于定位裝置的作用而發(fā)生不可預(yù)測的變形，使得工件在檢測的過程中產(chǎn)生不良，從而對工 件的質(zhì)量產(chǎn)生影響，進(jìn)而影響工件后續(xù)的加工使用。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種可防止工件變形的工件檢測裝置。
一種工件檢測裝置，其包括一個底座、 一個滑塊、 一個手柄、多個定位磁體、多個檢測 探針以及一個測量塊。所述滑塊可滑動的設(shè)置在所述底座上，所述手柄固設(shè)在所述滑塊上。 所述多個定位磁體分別設(shè)置在所述底座上用以吸附待檢測工件，所述多個檢測探針分別設(shè)置 在所述滑塊及所述底座上，所述測量塊固設(shè)在所述滑塊上。
相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明采用定位磁體通過磁力固定待檢測工件，從而防止待檢測工件 檢測時變形。


圖l是本發(fā)明工件檢測裝置較佳實施方式的立體分解示意圖2是圖1中工件檢測裝置的組裝示意圖3是圖2中工件檢測裝置的使用狀態(tài)圖。
具體實施例方式
請參閱圖1及圖2，本發(fā)明較佳實施方式提供的工件檢測裝置100，其包括一個底座110、 一個滑塊120、 一個手柄130、多個定位磁體140、多個檢測探針150以及一個測量塊160。所 述滑塊120可滑動的設(shè)置在所述底座110上，所述手柄130固設(shè)在所述滑塊120上，所述多個定 位磁體140分別設(shè)置在所述底座110上用以吸附待檢測工件，所述多個檢測探針150分別設(shè)置 在所述滑塊120及所述底座110上，所述測量塊160設(shè)置在所述滑塊120上。
所述底座110為一個方形的承載體，該底座110包括一個作為檢測基準(zhǔn)面的上表面112、
4平行于所述上表面l 12的下表面l 13以及兩組相互垂直且分別位于所述上表面l 12及下表面 113之間的兩個端面114及兩個側(cè)面115。在該底座110的上表面112上開設(shè)有一個方形且貫穿 該底座110的兩個端面114的沉槽116。在所述沉槽116的槽底116a上開設(shè)有一個寬度小于所述 沉槽116寬度的條狀開孔118，該開孔118貫穿所述底座110的下表面113。在所述底座110的沉 槽116兩側(cè)的上表面112的一端開設(shè)有貫穿所述底座110的側(cè)面115以及端面114的兩個開槽117 。在所述底座110上與所述開槽117相對的另一端沉槽116兩側(cè)的上表面112上分別開設(shè)有兩個 凹槽119，所述凹槽119用以容置所述定位磁體140。所述部分檢測探針150分別垂直設(shè)置在所 述底座110的上表面112上以及所述開槽117的底部用以穿過待檢測工件上的穿孔(圖未標(biāo))。
所述滑塊120用以設(shè)置在所述底座110的沉槽116中，并沿所述沉槽116滑動。該滑塊120 包括一個第一表面122、與該第一表面122相對的第二表面124以及位于第一、二表面122、 124之間的兩組相互垂直的端壁126及側(cè)壁128。在所述滑塊120的上表面122上開設(shè)有貫穿所 述側(cè)壁128的凹室123，該凹室123—側(cè)形成一個凸條125，在該凸條125的內(nèi)側(cè)壁125a上并排 開設(shè)有兩個貫穿所述內(nèi)側(cè)壁125a及鄰近端壁126的穿孔125b，所述穿孔125b內(nèi)設(shè)置有兩個檢測 探針150用以對工件進(jìn)行檢測。在所述凹室123與所述凸條125相對的側(cè)壁123a上形成有多級 臺階127。
所述手柄130為一桿狀物，其一端固設(shè)在所述滑塊120與所述凸條125相對的另一端的第 一表面122上。用以在外力的作用下帶動所述滑塊120沿著所述底座110的沉槽116滑動。
所述定位磁體140為兩個可收容于所述底座110的凹槽119內(nèi)的磁鐵用以吸附待檢測工件 ，所述定位磁體140的高度等于或者略小于所述凹槽119的深度，當(dāng)所述定位磁體140設(shè)置在 所述凹槽l 19內(nèi)時該定位磁體140的上表面與所述底座110的上表面112平齊或者略低于所述底 座110的上表面112。
所述檢測探針150為設(shè)置在所述底座110及滑塊120上的多個可具有不同高度及不同直徑 的柱狀體，其用以在檢測待檢測工件時穿過待檢測工件上的需要檢測的通孔，以確定待檢測 工件是否合格。
所述測量塊160用以通過卡合方式對待檢測工件進(jìn)行檢測，其包括一個基體162，該基體 162包括一個頂面164、 一個平行于所述頂面164的底面166以及兩個位于所述頂面164及底面 166之間且相互平行的外壁168。沿著所述基體162的頂面164及底面166從所述基體162的一側(cè) 外壁168上分別延伸出兩個相互平行間隔的卡板163，其中，與所述基體162的底面166相連接 的卡板163延伸的長度大于所述與基體162的頂面164相連接的卡板163的長度。所述測量塊 160通過其基體162的底面166設(shè)置在所述滑塊120與所述第一表面122鄰近的臺階127上?？梢岳斫?，為了防止所述滑塊120從所述基座110的沉槽116中滑落，可以在所述滑塊 120的第二表面124對應(yīng)所述底座110的開孔118的位置處上設(shè)置一個限位塊170，用以限制該 滑塊l 20在底座110的沉槽l 16中的滑動行程。
請參閱圖3，為本發(fā)明工件檢測裝置100的使用狀態(tài)圖， 一個可導(dǎo)磁的待檢測工件200放 置在所述工件檢測裝置100上，所述待檢測工件200的一側(cè)抵靠在所述工件檢測裝置100的底 座110的上表面112上，并由所述磁體140吸附使所述待檢測工件200可靠的定位在所述底座 IIO上。設(shè)置在所述檢測底座110上的檢測探針150穿過所述待檢測工件200上的多個待檢測孔 中用以確認(rèn)待檢測工件200上的通孔是否合格。通過所述手柄130撥動所述滑動120沿著所述 底座110的沉槽116向所述待檢測工件200移動，所述設(shè)置在滑塊120的凸條125上的檢測探針 150穿入所述待檢測工件200中部的通孔，用以檢測其是否合格，設(shè)置在所述滑塊120上的測 量塊160的兩個卡板163分別卡設(shè)在所述待檢測工件200的端部上下兩側(cè)，用以檢測待檢測工 件200端部的厚度尺寸是否合格。
本發(fā)明中，采用定位磁體通過磁力固定待檢測工件，從而防止待檢測工件采用其他的卡 扣等定位結(jié)構(gòu)時可能產(chǎn)生的待檢測工件變形，此外，采用一個可以滑動的滑塊帶動一個測量 塊的方式對待檢測工件進(jìn)行測量其檢測速度快，精度高，同時所述測量塊可根據(jù)不同的待檢 測工件進(jìn)行更換從而極大的提高了工件檢測裝置的適用性。
可以理解，所述滑塊120上的多層臺階127的交接處可采用圓弧形曲面過渡，從而使得具 有相應(yīng)的曲面形狀的待檢測工件200的可抵靠在所述曲面上，從而提高待檢測工件200的檢測 精度。
另外，本領(lǐng)域技術(shù)人員還可在本發(fā)明精神內(nèi)做其它變化，只要其不偏離本發(fā)明的技術(shù)效 果，都應(yīng)包含在本發(fā)明所要求保護(hù)的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種工件檢測裝置，其包括一個底座、一個滑塊、一個手柄、多個定位磁體、多個檢測探針以及一個測量塊，所述滑塊可滑動的設(shè)置在所述底座上，所述手柄固設(shè)在所述滑塊上，所述多個定位磁體分別設(shè)置在所述底座上用以吸附待檢測工件，所述多個檢測探針分別設(shè)置在所述滑塊及所述底座上，所述測量塊固設(shè)在所述滑塊上。
2 如權(quán)利要求l所述的工件檢測裝置，其特征在于所述底座包括一 個作為檢測基準(zhǔn)面的上表面、平行于所述上表面的下表面以及兩組相互垂直且分別位于所述 上表面及下表面之間的兩個端面及兩個側(cè)面，在該底座的上表面上開設(shè)有一個方形且貫穿該 底座的兩個端面的沉槽，在所述底座上一端的沉槽兩側(cè)的上表面上分別開設(shè)有兩個四槽，所 述滑塊可滑動的設(shè)置在所述沉槽內(nèi)，所述定位磁體分別設(shè)置在所述兩個凹槽內(nèi)。
3 如權(quán)利要求2所述的工件檢測裝置，其特征在于在所述底座的沉 槽兩側(cè)的上表面的另一端開設(shè)有貫穿所述底座的側(cè)面以及端面的兩個開槽，所述部分檢測探 針分別垂直設(shè)置在所述底座的上表面上以及所述開槽的底部。
4 如權(quán)利要求2所述的工件檢測裝置，其特征在于所述滑塊包括一 個第一表面、與該第一表面相對的第二表面以及位于第一、二表面之間的兩組相互垂直的端 壁及側(cè)壁，在所述滑塊的上表面上開設(shè)有貫穿所述側(cè)壁的凹室，該凹室一側(cè)形成一個凸條， 在該凸條的內(nèi)側(cè)壁上并排開設(shè)有兩個貫穿該凸條的內(nèi)側(cè)壁及鄰近端壁的穿孔，所述穿孔內(nèi)設(shè) 置有兩個所述檢測探針用以對工件進(jìn)行檢測。
5 如權(quán)利要求4所述的工件檢測裝置，其特征在于所述測量塊包括 一個基體，該基體包括一個頂面、 一個平行于所述頂面的底面以及兩個位于所述頂面及底面 之間且相互平行的外壁，沿著所述基體的頂面及底面從所述基體的一側(cè)外壁上分別延伸出兩 個相互平行間隔的卡板，該測量塊通過其底面設(shè)置在所述滑塊的上表面。
6 如權(quán)利要求5所述的工件檢測裝置，其特征在于在所述滑塊的凹 室與所述凸條相對的側(cè)壁上形成有多級臺階，所述測量塊通過其基體的底面設(shè)置在所述滑塊 與所述第一表面鄰近的臺階上。
7.如權(quán)利要求6所述的工件檢測裝置，其特征在于與所述基體的底面相連接的卡板延伸的長度大于所述與基體的頂面相連接的卡板的長度。
8.如權(quán)利要求2至6任一項所述的工件檢測裝置，其特征在于，在所 述沉槽的槽底上開設(shè)有一個寬度小于所述沉槽的條狀開孔，該開孔貫穿所述底座的下表面， 該工件檢測裝置還包括一個限位塊，該限位塊設(shè)置在所述滑塊的第二表面對應(yīng)所述底座的開 孔的位置處，用以限制該滑塊在底座的沉槽中的滑動行程。
9.如權(quán)利要求8所述的工件檢測裝置，其特征在于，所述定位磁體的 高度等于或者略小于所述凹槽的深度，當(dāng)所述定位磁體設(shè)置在所述凹槽內(nèi)時該定位磁體的上 表面與所述底座的上表面平齊或者略低于所述底座的上表面。
10.如權(quán)利要求6所述的工件檢測裝置，其特征在于，所述滑塊上的 多層臺階的交接處采用圓弧形曲面過渡連接。
全文摘要
本發(fā)明提供一種工件檢測裝置，其包括一個底座、一個滑塊、一個手柄、多個定位磁體、多個檢測探針以及一個測量塊。所述滑塊可滑動的設(shè)置在所述底座上，所述手柄固設(shè)在所述滑塊上。所述多個定位磁體分別設(shè)置在所述底座上用以吸附待檢測工件，所述多個檢測探針分別設(shè)置在所述滑塊及所述底座上，所述測量塊固設(shè)在所述滑塊上。本發(fā)明采用定位磁體通過磁力固定待檢測工件，從而防止待檢測工件在檢測時變形。
文檔編號G01B21/00GK101598538SQ20081030196
公開日2009年12月9日 申請日期2008年6月4日 優(yōu)先權(quán)日2008年6月4日
發(fā)明者威 劉 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司