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測(cè)試架的制作方法

文檔序號(hào):5823851閱讀:182來源:國(guó)知局
專利名稱:測(cè)試架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試治具,特別是涉及一種用于固定夾持待測(cè)物的測(cè) 試治具。
背景技術(shù)
目前,在環(huán)境測(cè)試中,特別是對(duì)于諸如印刷電路板的測(cè)試,其通常都是將 該印刷電路板層層迭放置于測(cè)試儀器中,雖然每層印刷電路板之間均保持一定 距離,但是在諸如高溫測(cè)試時(shí),其加溫通常從測(cè)試儀器上方向下,熱氣通常亦 從上而下,則種情況下就會(huì)導(dǎo)致上層板子溫度高,而下層板子溫度較低的情況 發(fā)生,并且該種測(cè)試方式,所述印刷電路板為水平放置,如果對(duì)于雙面皆設(shè)置 有元器件時(shí)則無法實(shí)現(xiàn)雙面均被測(cè)試的情況,即使要測(cè)試到則還必須翻面,其 操作不方便并且麻煩。發(fā)明內(nèi)容鑒于上述問題,本實(shí)用新型的主要目的在于提供了一種既可固定夾持待測(cè) 物,又可在'詢?cè)嚂r(shí)達(dá)到待測(cè)物均衡受測(cè)的旋轉(zhuǎn)式的測(cè)試架。 為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用了下述技術(shù)方案所述測(cè)試架包括一基架、 一轉(zhuǎn)動(dòng)軸以及一固定支架,其中,所述基架為一 支撐裝置,其由基塊和撐桿組成,以支撐架設(shè)轉(zhuǎn)動(dòng)軸和固定支架,進(jìn)而承載待 測(cè)物;所述固定支架為通過上述轉(zhuǎn)動(dòng)軸而活動(dòng)設(shè)于所述基架上,且其具有一本 體,該本體為套設(shè)于上述轉(zhuǎn)動(dòng)軸上并與其構(gòu)成一整體,在該所述本體上等間距 分布設(shè)置有若干以所述轉(zhuǎn)動(dòng)軸為中心的且垂直于本體并相互平行的十字型固定 架;另,在所述固定架每一支桿間相互垂直的面上均設(shè)有滑動(dòng)槽,且該滑動(dòng)槽 為連通,固定待測(cè)物時(shí),該待測(cè)物可卡入該所述滑動(dòng)槽中,并且于每一支桿的 每一滑動(dòng)槽上均設(shè)置有固定待測(cè)物的第一瑣塊和第二瑣塊,所述第一、第二瑣 塊均為卡于支桿并且滑動(dòng)于所述滑動(dòng)槽,且其中所述第一瑣塊為用以頂觸于待 測(cè)物,進(jìn)而將待測(cè)物夾持于固定架上,其上并卡于支桿的兩側(cè)處位置上分別開設(shè)有螺絲孔,該螺絲孔以將該第一瑣塊定位于支桿上;所述第二瑣塊上且相對(duì) 于滑動(dòng)槽的位置上凹設(shè)一夾持槽,待測(cè)物可卡入該夾持槽中,又,并且于該所 述第二瑣塊上且其卡于支桿的兩側(cè)處位置亦分別開設(shè)有螺絲孔,其旋一螺絲以 固定待測(cè)物。通過上述結(jié)構(gòu),待測(cè)物可很穩(wěn)定的夾持于固定架上,并且其旋轉(zhuǎn)式的結(jié)構(gòu)
使得待測(cè)物在進(jìn)行一些環(huán)境測(cè)試,諸如高溫時(shí)均衡受熱,又,其為豎直方式裝 設(shè)于固定架上而使得即使雙面具有元器件的待測(cè)物亦可測(cè)試到,而不至于僅僅 單面或者局部被測(cè)試到。


圖l為本實(shí)用新型所述測(cè)試架的整體結(jié)構(gòu)示意圖; 圖2為一具體實(shí)施例的示意圖。
具體實(shí)施方式
,
以下結(jié)合附圖以及具體實(shí)施例來對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。本實(shí)用新型所述測(cè)試架為主要在環(huán)境測(cè)試方面用以提供被測(cè)物體在某一環(huán) 境中達(dá)到溫濕度均衡的一種測(cè)試治具。參照?qǐng)Dl中所示,所述測(cè)試架結(jié)構(gòu)包括一基架IO、 一活動(dòng)設(shè)于基架10上的轉(zhuǎn) 動(dòng)軸20以及一固定支架3,其中,所述基架10為由基塊101和固定裝設(shè)于基塊101 上的撐桿102組成;所述固定支架3為通過上述轉(zhuǎn)動(dòng)軸20而架設(shè)于所述基架10的 撐桿102上,且該所述固定支架3包括一本體301,該本體301為套設(shè)于上述轉(zhuǎn)動(dòng) 軸20上并與其構(gòu)成一整體,且當(dāng)轉(zhuǎn)動(dòng)軸20轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)與其一并轉(zhuǎn)動(dòng),另,所述轉(zhuǎn)動(dòng) 軸20還可與一電機(jī)(圖中未示)相互連接,且該電機(jī)可為一杠桿電機(jī),以利用杠 桿的牽引使得轉(zhuǎn)動(dòng)軸20轉(zhuǎn)動(dòng)進(jìn)而帶動(dòng)固定支架3得轉(zhuǎn)動(dòng),進(jìn)而使得待測(cè)物在進(jìn)行 一些環(huán)境測(cè)試,諸如高溫時(shí)實(shí)現(xiàn)均衡受熱。在圖1中有示,于所述本體301上等間距分布設(shè)置有若干以所述轉(zhuǎn)動(dòng)軸20為 中心的且垂直于該本體301并相互平行的呈十字型固定架30,即而使得待測(cè)物能 夠以豎直方式裝設(shè)于固定架30上而使得即使在雙面均設(shè)有元器件的待測(cè)物亦可 測(cè)試到,而不至于僅僅單面或者局部被測(cè)試到另外,在所述固定架30每一支桿30a之間相互垂直的面上均設(shè)有滑動(dòng)槽302, 且該兩面上之滑動(dòng)槽302為相互連通,其為測(cè)試時(shí),所述待測(cè)物的側(cè)邊可卡入該 所述滑動(dòng)槽302中;又,在所述每一支桿30a的每一滑動(dòng)槽302上均設(shè)置有固定待 測(cè)物的第一瑣塊303和第二瑣塊304,該所述第一、第二瑣塊(303、 304)均為卡 于支桿30a上并且可滑動(dòng)于上述滑動(dòng)槽302,其中,所述第一瑣塊303為用以頂觸 于待測(cè)物,進(jìn)而將待測(cè)物夾持于固定架30上,該第一瑣塊303上且其卡于支桿30a 的兩側(cè)處位置上分別開設(shè)有螺絲孔4,該螺絲孔4以將該第一瑣塊303定位于支桿 30a上;所述第二瑣塊304上且相對(duì)于滑動(dòng)槽302的位置上凹設(shè)一夾持槽3041,待 測(cè)物側(cè)邊可卡入該夾持槽3041中,又,并且于該所述第二瑣塊304上且其卡于支 桿30a的兩側(cè)處位置亦分別開設(shè)有螺絲孔4,其旋一螺絲5以固定待測(cè)物。通過上述之滑動(dòng)槽及夾持槽結(jié)構(gòu),待測(cè)物可穩(wěn)定的卡入定位于于固定架30 上,以及通過所述第一瑣塊303和第二瑣塊304從而使得上述待測(cè)物穩(wěn)定夾持于
固定支架3上。結(jié)合圖2中所示,舉一具體實(shí)施例來說明本實(shí)用新型。如圖中所示,環(huán)境測(cè)試前,操作人員可將圖中所示的第一瑣塊303拿走,且 在待測(cè)物(印刷電路板)8的兩側(cè)邊均已經(jīng)卡入滑動(dòng)槽302及夾持槽3041中定位于 固定支架3上即可再將第一瑣塊303重新裝入固定架30的支桿30a,調(diào)整好該第一 瑣塊303的位置使得其緊密貼緊于待測(cè)物8;然后,再將一一通過第一瑣塊303和 第二瑣塊304上的螺絲孔4旋一螺絲5使得上述待測(cè)物8固定夾持于固定支架3J:; 最后將該測(cè)試支架3放置于用于環(huán)境測(cè)試用的儀器(圖中'未示)中。
權(quán)利要求1. 一種測(cè)試架,其特征在于,包括一基架,其由基塊和固定裝設(shè)于基架上的撐桿組成; 一轉(zhuǎn)動(dòng)軸,其為活動(dòng)設(shè)于所述基架的撐桿上;以及一固定支架,其通過上述轉(zhuǎn)動(dòng)軸而架設(shè)于所述基架上,且其具有一本體, 該本體為套設(shè)于上述轉(zhuǎn)動(dòng)軸并與其構(gòu)成一整體,又,在該本體上等間距分布設(shè) 置有若干以所述轉(zhuǎn)動(dòng)軸為中心的且垂直于本體并相互間平行的固定架,其中, 所述固定架每一支桿間相互垂直的面上均設(shè)有滑動(dòng)槽,并且于每一支桿上每一 滑動(dòng)槽上均設(shè)有第一瑣塊和第二瑣塊。
2. 如權(quán)利要求1所述的測(cè)試架,其特征在于,所述第一瑣塊為卡于支桿并滑 動(dòng)于滑動(dòng)槽,且其卡于支桿的兩側(cè)分別開設(shè)有螺絲孔。
3. 如權(quán)利要求1所述的測(cè)試架,其特征在于,所述第二瑣塊為卡于支桿并滑 動(dòng)于滑動(dòng)槽,其上且相對(duì)于滑動(dòng)槽的位置上凹設(shè)一夾持槽,并且于該第二瑣塊 上且其卡于支桿的兩側(cè)處分別開設(shè)有螺絲孔。
4. 如權(quán)利要求1所述的測(cè)試架,其特征在于,所述固定架呈十字型。
5. 如權(quán)利要求1所述的測(cè)試架,其特征在于,所述相鄰支桿上相鄰側(cè)面之滑 動(dòng)槽為連通。
6. 如權(quán)利要求1所述的測(cè)試架,其特征在于,所述轉(zhuǎn)動(dòng)軸與一電機(jī)相連接。
7. 如權(quán)利要求6所述的測(cè)試架,其特征在于,所述電機(jī)為一杠桿電機(jī)。
專利摘要本實(shí)用新型公開一種測(cè)試架,包括基架、轉(zhuǎn)動(dòng)軸及固定支架,其中,固定支架通過轉(zhuǎn)動(dòng)軸架設(shè)于基架,且包括一本體,該本體為套設(shè)于轉(zhuǎn)動(dòng)軸并與其構(gòu)成一整體,在該本體上等間距分布設(shè)置有若干以轉(zhuǎn)動(dòng)軸為中心的且垂直于本體并相互平行的十字型固定架,該固定架每一支桿間相互垂直的面上均設(shè)置的滑動(dòng)槽,待測(cè)物側(cè)邊可卡入該滑動(dòng)槽中;在每一滑動(dòng)槽上均設(shè)有固定待測(cè)物的第一鎖塊和第二鎖塊,且第一鎖塊以頂觸于待測(cè)物將其夾持于支桿間;第二鎖塊對(duì)應(yīng)于滑動(dòng)槽位置處凹設(shè)夾持槽,待測(cè)物側(cè)邊可卡入該夾持槽中。通過上述結(jié)構(gòu),待測(cè)物可穩(wěn)定的固定夾持于固定支架,其可轉(zhuǎn)動(dòng)式的結(jié)構(gòu)從而使得在進(jìn)行一些環(huán)境測(cè)試時(shí),能夠均衡受測(cè),避免單面或者局部等被測(cè)的情況。
文檔編號(hào)G01R1/02GK201037845SQ20072005091
公開日2008年3月19日 申請(qǐng)日期2007年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月28日
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