專利名稱：電路狀態(tài)維持系統(tǒng)及其方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種集成電路測(cè)試設(shè)備，特別是涉及一種與自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
(ATE， Automated Testing Equipment)配合使用的集成電路測(cè)試設(shè)備。
背景技術(shù)：
對(duì)VLSI (超大規(guī)模集成電路)的時(shí)鐘異步電路進(jìn)行測(cè)試時(shí)，出于提高 測(cè)試產(chǎn)能和測(cè)試效率的考慮，會(huì)盡可能的進(jìn)行多個(gè)被測(cè)芯片(DUT， Device Under Test)的同時(shí)測(cè)試(Parallel Test)。但是在同時(shí)測(cè)試時(shí)，由于不 同的被測(cè)芯片發(fā)出響應(yīng)和結(jié)束響應(yīng)的時(shí)刻不同，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備在處理完其 中一個(gè)被測(cè)芯片的響應(yīng)又處理另一個(gè)被測(cè)芯片的響應(yīng)時(shí)，必須將連接前一 個(gè)被測(cè)芯片的測(cè)試數(shù)據(jù)線維持于高電平狀態(tài)，否則前一個(gè)被測(cè)芯片將無(wú)法 進(jìn)行后續(xù)的測(cè)試項(xiàng)目。而通用的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備并無(wú)此功能，這阻礙了多個(gè) 被測(cè)芯片的同時(shí)測(cè)試，給時(shí)鐘異步電路的大規(guī)模量產(chǎn)測(cè)試帶來(lái)極大的挑戰(zhàn)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種電路狀態(tài)維持系統(tǒng)。為此，本 發(fā)明還要提供一種所述電路狀態(tài)維持系統(tǒng)進(jìn)行電路狀態(tài)維持的方法。 為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明電路狀態(tài)維持系統(tǒng)包括 微控制器，接收自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的指令并控制電平生成電路和繼電器； 電平生成電路，根據(jù)微控制器的控制信號(hào)啟動(dòng)或關(guān)閉，啟動(dòng)時(shí)輸出一 路或多路高電平信號(hào)；一個(gè)或多個(gè)繼電器，根據(jù)微控制器的控制信號(hào)接通或阻斷，全部繼電 器各連接電平生成電路的一路輸出信號(hào)，部分或全部繼電器各連接自動(dòng)測(cè) 試設(shè)備的一條數(shù)據(jù)線。
所述電路狀態(tài)維持系統(tǒng)進(jìn)行電路狀態(tài)維持的方法包括下列步驟
第1步，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備向微控制器發(fā)出指令，該指令包括對(duì)自動(dòng)測(cè)試 設(shè)備的一條或多條數(shù)據(jù)線維持一定時(shí)間的高電平狀態(tài)；
第2步，微控制器根據(jù)指令啟動(dòng)電平生成電路，并將相應(yīng)的一個(gè)或多 個(gè)繼電器接通指定時(shí)間后阻斷。
本發(fā)明電路狀態(tài)維持系統(tǒng)及其方法可在自動(dòng)測(cè)試設(shè)備同時(shí)測(cè)試多個(gè)被 測(cè)芯片時(shí)，根據(jù)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的指令維持一條或多條測(cè)試數(shù)據(jù)線在一定時(shí) 間內(nèi)的高電平狀態(tài)，從而滿足某些復(fù)雜芯片如時(shí)鐘異步電路芯片的測(cè)試要 求。


下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明 圖1是本發(fā)明電路狀態(tài)維持系統(tǒng)的示意圖； 圖2是本發(fā)明電路狀態(tài)維持系統(tǒng)的實(shí)施例的示意圖； 圖3是本發(fā)明電路狀態(tài)維持的方法的流程圖； 圖4是本發(fā)明電路狀態(tài)維持的方法的實(shí)施例的流程圖。 圖中附圖標(biāo)記為l一自動(dòng)測(cè)試設(shè)備；IO —設(shè)備主體；111、 112、 113 一數(shù)據(jù)線；121、 122、 123 —被測(cè)芯片；2—電路狀態(tài)維持系統(tǒng)；20 —微控
制器；21 —電平生成電路；221、 222、 223 —繼電器；23 —主板；24—接口；25—存儲(chǔ)器。
具體實(shí)施例方式
請(qǐng)參閱圖1，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備1包括設(shè)備主體10和三條數(shù)據(jù)線111、 112 和113，這三條數(shù)據(jù)線分別連接被測(cè)芯片121、 122和123。本發(fā)明電路狀 態(tài)維持系統(tǒng)2包括
微控制器20，接收自動(dòng)測(cè)試設(shè)備1的指令并控制電平生成電路21和繼 電器；
電平生成電路21，根據(jù)微控制器20的控制信號(hào)啟動(dòng)或關(guān)閉，啟動(dòng)時(shí)輸 出三路高電平信號(hào)；
三個(gè)繼電器221、222和223，根據(jù)微控制器20的控制信號(hào)接通或阻斷， 繼電器221、 222和223各連接電平生成電路21的一路輸出信號(hào)，繼電器 221、 222和223各連接自動(dòng)測(cè)試設(shè)備1的數(shù)據(jù)線lll、 112和113。
圖1示意地表示自動(dòng)測(cè)試設(shè)備1的三條數(shù)據(jù)線111、 112和113，這些 數(shù)據(jù)線分別連接三個(gè)被測(cè)芯片121、 122和123。實(shí)際上自動(dòng)測(cè)試設(shè)備l的 數(shù)據(jù)線可能有多條，其中有部分連接被測(cè)芯片處于使用狀態(tài)，其余數(shù)據(jù)線 處于未使用狀態(tài)。
圖1示意地表示電平生成電路21輸出三路高電平信號(hào)，這些輸出信號(hào) 分別連接繼電器221、 222和223。實(shí)際上電平生成電路21可能有多路輸出 信號(hào)，其中有部分輸出信號(hào)連接繼電器處于使用狀態(tài)，其余輸出信號(hào)處于 未使用狀態(tài)。
圖1示意地表示三個(gè)繼電器221、 222和223，這些繼電器分別連接自動(dòng)測(cè)試設(shè)備1的三條數(shù)據(jù)線111、 112和113。實(shí)際上電路狀態(tài)維持系統(tǒng)2 可能包括多個(gè)繼電器，這些繼電器的一頭均連接電平生成電路21的一路輸 出信號(hào)，這些繼電器的另一頭有些連接自動(dòng)測(cè)試設(shè)備1的一條數(shù)據(jù)線處于 使用狀態(tài)，有些處于未使用狀態(tài)。
圖1所示的電路狀態(tài)維持系統(tǒng)進(jìn)行電路狀態(tài)維持的方法請(qǐng)參閱圖3，該 方法包括下列步驟
第1步，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備1向電路狀態(tài)維持系統(tǒng)2發(fā)出指令，該指令包 括對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備1的一條或多條數(shù)據(jù)線維持一定時(shí)間的高電平狀態(tài)；
第2步，微控制器20根據(jù)指令啟動(dòng)電平生成電路21，并將相應(yīng)的一個(gè) 或多個(gè)繼電器接通指定時(shí)間后阻斷。
例如，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備l向電路狀態(tài)維持系統(tǒng)2發(fā)出指令，要求對(duì)數(shù)據(jù) 線112維持1秒的高電平。收到該指令后，微控制器20即發(fā)出控制信號(hào)啟 動(dòng)電平生成電路21，同時(shí)發(fā)送控制信號(hào)接通與數(shù)據(jù)線112相連接的繼電器 222。 1秒中后微控制器20發(fā)出控制信號(hào)阻斷繼電器222。
請(qǐng)參閱圖2，除了微控制器20、電平生成電路21和繼電器221、 222、 223，電路狀態(tài)維持系統(tǒng)2還包括
主板23，微控制器20、電平生成電路21和繼電器221、 222、 223均 與主板23相連接，微控制器20通過(guò)主板23與電平生成電路21和繼電器 221、 222、 223進(jìn)行通訊；
接口24，接口 24是GPIB接口或TTL接口，接口24也與主板23相連 接，微控制器20通過(guò)主板23與接口 24進(jìn)行通訊，微控制器20通過(guò)接口24接收自動(dòng)測(cè)試設(shè)備1的指令，所述指令按照GPIB協(xié)議或TTL協(xié)議發(fā)送；
存儲(chǔ)器25,存儲(chǔ)器25也與主板23相連接，微控制器20通過(guò)主板23 與存儲(chǔ)器25進(jìn)行通訊，存儲(chǔ)器25中包括微控制器20的指令集、接口 24 的指令集、電平生成電路21的控制程序。
圖2中，微控制器20、電平生成電路21、繼電器221、 222、 223、接 口 24和存儲(chǔ)器25之間的通訊都通過(guò)主板23進(jìn)行。通過(guò)調(diào)用存儲(chǔ)器25中 的微控制器20的指令集，主板23可以接收微控制器20的控制信號(hào)并將控 制信號(hào)傳送給其余組件，還可以將其他組件的反饋信號(hào)傳送給微控制器20。 通過(guò)調(diào)用存儲(chǔ)器25中的接口 24的指令集，微控制器20可以通過(guò)接口 24 接收自動(dòng)測(cè)試設(shè)備1的指令。通過(guò)調(diào)用存儲(chǔ)器25中的電平生成電路21的 控制程序，微控制器20可以控制電平生成電路21輸出的一路或多路高電 平信號(hào)的大小、上升沿的坡度、下降沿的坡度。
圖2所示的電路狀態(tài)維持系統(tǒng)進(jìn)行電路狀態(tài)維持的方法請(qǐng)參閱圖4，該 方法包括下列步驟
第1步，啟動(dòng)電路狀態(tài)維持系統(tǒng)2，主板23對(duì)微控制器20、電平生成 電路21、繼電器221、 222、 223、接口 24、存儲(chǔ)器25中的一個(gè)或多個(gè)進(jìn)行 自檢；
第2步，自檢通過(guò)，電路狀態(tài)維持系統(tǒng)2等待接收自動(dòng)測(cè)試設(shè)備1的 指令；
第3步，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備1通過(guò)GPIB協(xié)議或TTL協(xié)議向電路狀態(tài)維持系 統(tǒng)2發(fā)送指令，微控制器20通過(guò)接口24接收指令；第4步，微控制器20根據(jù)指令發(fā)出控制信號(hào)，控制信號(hào)經(jīng)主板傳送給 電平生成電路21和相應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)繼電器，電平生成電路21根據(jù)控制 信號(hào)啟動(dòng)， 一個(gè)或多個(gè)繼電器根據(jù)控制信號(hào)接通；
第5步，到達(dá)指令所指定的時(shí)間后，微控制器20發(fā)出控制信號(hào)，控制 信號(hào)經(jīng)主板傳送給相應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)繼電器，這些繼電器根據(jù)控制信號(hào)阻 斷。
權(quán)利要求
1. 一種電路狀態(tài)維持系統(tǒng)，其特征是該系統(tǒng)包括微控制器，接收自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的指令并控制電平生成電路和繼電器；電平生成電路，根據(jù)微控制器的控制信號(hào)啟動(dòng)或關(guān)閉，啟動(dòng)時(shí)輸出一路或多路高電平信號(hào)；一個(gè)或多個(gè)繼電器，根據(jù)微控制器的控制信號(hào)接通或阻斷，全部繼電器各連接電平生成電路的一路輸出信號(hào)，部分或全部繼電器各連接自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的一條數(shù)據(jù)線。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的電路狀態(tài)維持系統(tǒng)，其特征是該系統(tǒng)還包括主板，所述微控制器、電平生成電路和繼電器均與所述主板相連接，所述微控制器通過(guò)所述主板與所述電平生成電路和所述繼電器進(jìn)行通訊。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路狀態(tài)維持系統(tǒng)，其特征是該系統(tǒng)還包括GPIB或TTL接口，所述接口與主板相連接，所述微控制器通過(guò)所述主板與所述接口進(jìn)行通訊，所述微控制器通過(guò)所述接口接收自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的指令。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的電路狀態(tài)維持系統(tǒng)，其特征是該系統(tǒng)還包括存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器與主板相連接，所述微控制器通過(guò)所述主板與所述存儲(chǔ)器進(jìn)行通訊，所述存儲(chǔ)器中包括微控制器的指令集、GPIB或TTL接口的指令集和電平生成電路的控制程序。
5. —種如權(quán)利要求1所述的電路狀態(tài)維持系統(tǒng)進(jìn)行電路狀態(tài)維持的方法，其特征是該方法包括下列步驟第1步，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備向電路狀態(tài)維持系統(tǒng)發(fā)出指令，該指令包括對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的一條或多條數(shù)據(jù)線維持一定時(shí)間的高電平狀態(tài)；第2步，微控制器根據(jù)指令啟動(dòng)電平生成電路，并將相應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)繼電器接通指定時(shí)間后阻斷。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的電路狀態(tài)維持的方法，其特征是所述微控制器還控制所述電平生成電路輸出的一路或多路高電平信號(hào)的大小、上升沿的坡度、下降沿的坡度。
7. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的電路狀態(tài)維持的方法，其特征是該方法的第1步中，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備按照GPIB協(xié)議或TTL協(xié)議向所述電路維持系統(tǒng)發(fā)出指令，所述微控制器通過(guò)GPIB或TTL接口接收指令；該方法的第2步中，微控制器通過(guò)主板向電平生成電路和繼電器發(fā)出控制信號(hào)。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的電路狀態(tài)維持的方法，其特征是該方法在第1步之前還包括所述電路狀態(tài)維持系統(tǒng)啟動(dòng)后，主板先對(duì)微控制器、主板、電平生成電路、繼電器中、存儲(chǔ)器、GPIB或TTL接口中的一個(gè)或多個(gè)進(jìn)行自檢，自檢通過(guò)后即等待自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的指令。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種電路狀態(tài)維持系統(tǒng)及其方法，所述系統(tǒng)包括微控制器，接收自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的指令并控制電平生成電路和繼電器；電平生成電路，根據(jù)微控制器的控制信號(hào)啟動(dòng)或關(guān)閉，啟動(dòng)時(shí)輸出一路或多路高電平信號(hào)；一個(gè)或多個(gè)繼電器，根據(jù)微控制器的控制信號(hào)接通或阻斷，全部繼電器各連接電平生成電路的一路輸出信號(hào)，部分或全部繼電器各連接自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的一條數(shù)據(jù)線。所述方法包括自動(dòng)測(cè)試設(shè)備向微控制器發(fā)出指令，該指令包括對(duì)一條或多條數(shù)據(jù)線維持一定時(shí)間的高電平狀態(tài)；微控制器根據(jù)指令啟動(dòng)電平生成電路，并將相應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)繼電器接通指定時(shí)間后阻斷。本發(fā)明可根據(jù)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的指令維持一條或多條測(cè)試數(shù)據(jù)線在一定時(shí)間內(nèi)的高電平狀態(tài)。
文檔編號(hào)G01R31/28GK101458295SQ20071009444
公開(kāi)日2009年6月17日 申請(qǐng)日期2007年12月13日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月13日
發(fā)明者?？Ｖ? 辛吉升 申請(qǐng)人:上海華虹Nec電子有限公司