專利名稱：電連接器綜合檢測控制裝置設(shè)計方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電連接器檢測裝置設(shè)計方法，特別是一種電連接器綜合檢測控制裝置設(shè)計方法。
背景技術(shù)：
目前在公知的電連接器電氣性能檢測試驗中，各個儀器設(shè)備都是單獨運行測試，沒有一個統(tǒng)一的控制裝置，因此就產(chǎn)生了以下幾點突出問題1.對芯數(shù)較多的電連接器測試的效率低下；2.由于測試電壓較高，所以測試過程安全性低；3.測試時需要輪換測試設(shè)備，費時費力。
發(fā)明目的本發(fā)明目的在于提供一種電連接器綜合檢測控制裝置設(shè)計方法，按照該方法設(shè)計的一種電連接器檢測裝置，滿足各種電連接器批量檢測的需要，將各個獨立的測試環(huán)節(jié)進行統(tǒng)一控制，實現(xiàn)多點連測，提高測試電連接器的效率且杜絕漏測現(xiàn)象，提高工作人員測試電連接器的安全且降低勞動強度。
發(fā)明方案一種電連接器綜合檢測控制裝置設(shè)計方法設(shè)計的電連接器綜合檢測控制裝置由專用測試電纜和主機組成。
專用測試電纜是由兩個接口和中間的導(dǎo)線所組成，其中的一個接口是一個能與被測電連接器完全緊密插接的電連接器，另一個接口為與主機插接的四個接線柱插頭。
專用測試電纜的與被測電連接器完全緊密插接的那個接口為一個電連接器，將該電連接器的接觸點分為三組測試點，確定任意一個接觸點編為第一組的測試點，與它相臨且最近的任意一個接觸點編為第二組的測試點，然后，將距第一組測試點和與其相鄰的第二組測試點都相臨且最近的接觸點編為第三組的測試點；將距第一組測試點和與其相鄰的第三組測試點都相臨且最近的接觸點編為第二組的測試點；將距第二組測試點和與其相鄰的第三組測試點都相臨且最近的接觸點編為第一組的測試點；以此類推，向外圍擴散式編號，直至將所有接觸點都分到各組。將外殼分為第四組測試點，若外殼為絕緣體則不需要第四組測試點。所有的電連接器接觸點的分組方式與上述大致相同。專用測試電纜的另一個接口為將這四組測試點的尾線，無尾線則在尾部通過導(dǎo)線，與接線柱插頭壓接，構(gòu)成四個接線柱插頭。
主機是由外殼，前面板，后面板，雙刀三層六位波段開關(guān)，專用測試電纜第一至四組測試點的插座，絕緣電阻測試儀正、負極插座，介質(zhì)耐壓測試儀正、反向插座，外接電源插座，指示裝置和控制開關(guān)組成。
專用測試電纜第一至四組測試點的插座，絕緣電阻測試儀正、負極插座，介質(zhì)耐壓測試儀正、反向插座分別通過導(dǎo)線與波段開關(guān)焊接。
雙刀三層六位波段開關(guān)共有三層，每一層之間彼此絕緣，每一層有兩組且彼此絕緣，每一組各有一個常閉點和六個波段點，為了敘述方便，將每組最靠近常閉點的波段點設(shè)為一號波段點，其次為二號波段點，以此類推。
雙刀三層六位波段開關(guān)的焊接方式如下第一層第一組測試點插座通過導(dǎo)線與第一組的常閉點焊接，第二組測試點插座與第二組的常閉點焊接，將絕緣電阻測試儀的正極插座與第一組的二號波段點焊接，絕緣電阻測試儀負極插座與第二組的二號波段點焊接，將介質(zhì)耐電壓測試儀的正向絕緣電阻測試儀與第一組的四號波段點焊接，介質(zhì)耐電壓測試儀反向插座與第二組的四號波段點焊接。
第二層第三組測試點插座與第二組的常閉點焊接，將絕緣電阻測試儀的負極插座與第二組的二號波段點焊接，將介質(zhì)耐電壓測試儀的反向插座與第二組的四號波段點焊接。
第三層第二組測試點插座通過導(dǎo)線與第一組的常閉點焊接，第三組測試點插座與第二組的常閉點焊接，將絕緣電阻測試儀的正極插座與第一組的三號波段點焊接，絕緣電阻測試儀負極插座與第二組的三號波段點焊接，將介質(zhì)耐電壓測試儀的正向插座與第一組的五號波段點焊接，介質(zhì)耐電壓測試儀反向插座與第二組的五號波段點焊接。
第四組測試點插座與絕緣電阻測試儀的負極插座和介質(zhì)耐壓儀的反向插座焊接。
主機內(nèi)部導(dǎo)通性能測試控制的電連接順序、方式專用測試電纜測試點第一至三組插座、能夠?qū)⑷沸盘柡蠟橐宦沸盘柕霓D(zhuǎn)換開關(guān)、指示裝置、電源插座通過導(dǎo)線依次串聯(lián)、焊接。
指示裝置、波段開關(guān)和轉(zhuǎn)換開關(guān)分別與前面板螺釘固定，將絕緣電阻測試儀正、負極插座，介質(zhì)耐電壓測試儀正、反向插座，電源插座分別與后面板螺釘固定。進行測試時，主機插座通過接線柱分別與絕緣電阻測試儀、介質(zhì)耐壓儀、外接電源的正極和專用測試電纜對應(yīng)插接。接好被測電連接器，轉(zhuǎn)動波段開關(guān)即可分路進行所有被測點間的絕緣電阻測試、介質(zhì)耐電壓測試。進行導(dǎo)通性測試時，要將轉(zhuǎn)換開關(guān)撥通，分別將外接電源的負極與被測電連接器的尾部接觸，指示裝置指示則表示此路通。
專用測試電纜和主機所用零件及絕緣材料的絕緣電阻值和介質(zhì)耐電壓值由被測電連接器而定，應(yīng)大于被測電連接器的合格值。
采用本設(shè)計方法設(shè)計的電連接器綜合檢測控制裝置，發(fā)揮了現(xiàn)有設(shè)備最大使用價值；通用性強；降低了測試人員的勞動強度；提高了對電連接器的測試效率；大大簡化測試步驟，杜絕了漏測現(xiàn)象；安全性強。
下面結(jié)合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明做進一步說明。


圖1電連接器綜合檢測控制裝置外殼示意圖；圖2電連接器綜合檢測控制裝置線路連接示意圖；圖3電連接器綜合檢測控制裝置的9芯插孔式電連接器的接口構(gòu)造示意圖；圖4電連接器綜合檢測控制裝置主機中絕緣電阻測試控制和導(dǎo)通性能測試控制電路原理圖；圖5電連接器綜合檢測控制裝置的雙刀多層多位的波段開關(guān)其中一層示意圖。
1.外殼 2.前面板 3.后面板 4.主機 5.專用測試電纜 6.與被測電連接器相插接的接口 7.第一組測試點插頭 8.第二組測試點插頭 9.第三組測試點插頭 10.第四組測試點插頭 11.第一組測試點插座 12.第二組測試點插座 13.第三組測試點插座 14.第四組測試點插座 15.波段開關(guān) 16.轉(zhuǎn)換開關(guān) 17.指示裝置 18.絕緣電阻測試儀的正極插座 19.絕緣電阻測試儀的負極插座 20.介質(zhì)耐壓儀的正向插座 21.介質(zhì)耐壓儀的反向插座 22.電源的正極插座 23.第一組常閉點24.第二組常閉點 25.第一組的二號波段點 26.第一組的三號波段點 27.第一組的四號波段點 28.第一組的五號波段點 29.第二組的二號波段點 30.第二組的三號波段點 31第二組的四號波段點 32.第二組的五號波段點。
實施例以被測對象為九芯兩排插針式矩形帶尾線絕緣外殼電連接器為例。
專用測試電纜5有兩個接口，一個接口為能與被測對象完全緊密插合的九芯插孔式電連接器6，將其插孔順序標(biāo)為6a、6b、6c、6d、6e、6f、6g、6h、6i，按照技術(shù)方案將電連接器插孔分組第一組包括插孔6a、6d、6g，第二組包括6b、6e、6h，第三組包括6c、6f、6I，由于被測電連接器外殼為絕緣體所以不需要第四組，將此三組插孔的尾線與三個能與主機插接的插頭壓接相連。
雙刀三層六位波段開關(guān)的焊接，第一組測試點插座11通過導(dǎo)線與波段開關(guān)15第一層第一組的常閉點23焊接，第二組測試點插座12通過導(dǎo)線與波段開關(guān)15第一層第二組的常閉點24焊接，將絕緣電阻測試儀的正極插座18與波段開關(guān)15第一層第一組的二號波段點25焊接，絕緣電阻測試儀的負極插座19與波段開關(guān)15第一層第二組的二號波段點29焊接，將介質(zhì)耐壓儀的正向插座20與波段開關(guān)15第一層第一組的四號波段點27焊接，介質(zhì)耐壓儀的反向插座21與波段開關(guān)15第一層第二組的四號波段點31焊接；將第三組測試點插座13通過導(dǎo)線與波段開關(guān)15第二層第二組常閉點24焊接，將絕緣電阻測試儀的負極插座19與波段開關(guān)15第二層第二組的二號波段點29焊接，將介質(zhì)耐壓儀的反向插座21與波段開關(guān)15第二層第二組的四號波段點31焊接；將第二組測試點插座12通過導(dǎo)線與波段開關(guān)第三層第一組常閉點23焊接，第三組測試點插座13通過導(dǎo)線與波段開關(guān)15第三層第二組常閉點24焊接，將絕緣電阻測試儀的正極插座18與波段開關(guān)15第三層第一組的三號波段點26焊接，絕緣電阻測試儀的負極插座19與波段開關(guān)15第三層第二組的三號波段點30焊接，將介質(zhì)耐壓儀的正向插座20與波段開關(guān)15第三層的第一組的五號波段點28焊接，介質(zhì)耐壓儀的反向插座21與波段開關(guān)15第三層第二組的五號波段點32焊接。
第四組測試點插座14與絕緣電阻測試儀的負極插座19和介質(zhì)耐壓儀的反向插座21焊接。
專用測試電纜第一至三組測試點插座11-13、能夠?qū)⑷沸盘柡蠟橐宦沸盘柕霓D(zhuǎn)換開關(guān)16、指示裝置17、電源插座22通過導(dǎo)線依次串聯(lián)、焊接。
指示裝置17、波段開關(guān)15和轉(zhuǎn)換開關(guān)16分別與前面板2螺釘固定，絕緣電阻測試儀正18、負極插座19，介質(zhì)耐電壓測試儀正20、反向插座21，電源插座22分別與后面板3螺釘固定。
權(quán)利要求
1.一種電連接器綜合檢測控制裝置設(shè)計方法，其特征是由該方法設(shè)計的電連接器綜合檢測控制裝置由主機(4)和專用測試電纜(5)組成，專用測試電纜(5)的兩端各有一個接口，其中一個接口(6)是一個能與被測電連接器完全緊密插接的電連接器，將該電連接器的接觸點分為三組測試點，確定任意一個接觸點編為第一組的測試點，與它相臨且最近的任意一個接觸點編為第二組的測試點，將距第一組測試點和與其相鄰的第二組測試點都相臨且最近的接觸點編為第三組測試點，將距第一組測試點和與其相鄰的第三組測試點都相臨且最近的接觸點編為第二組的測試點，將距第二組測試點和與其相鄰的第三組測試點都相臨且最近的接觸點編為第一組的測試點，以此類推，向外圍擴散式編號，直至將所有接觸點都分到各組，將外殼分為第四組測試點，若外殼為絕緣體則不需要第四組測試點，所有的電連接器接觸點的分組方式與上述大致相同，專用測試電纜的另一個接口為將這四組測試點的尾線，無尾線則在尾部通過導(dǎo)線，與接線柱插頭壓接，構(gòu)成四個接線柱插頭；主機是由外殼(1)，前面板(2)，后面板(3)，雙刀三層四位波段開關(guān)(15)，專用測試電纜(5)的第一組測試點的插座(11)、第二組測試點的插座(12)、第三組測試點的插座(13)至第四組測試點的插座(14)，絕緣電阻測試儀正極插座(18)、絕緣電阻測試儀負極插座(19)，介質(zhì)耐壓測試儀正向插座(20)、介質(zhì)耐壓測試儀反向插座(21)，外接電源插座，指示裝置(17)和轉(zhuǎn)換開關(guān)(16)組成，其中雙刀三層四位波段開關(guān)(15)共有三層，每一層之間彼此絕緣，每一層有兩組且彼此絕緣，每一組各有一個常閉點和四個波段點，可將每組最靠近常閉點的波段點設(shè)為一號波段點，其次為二號波段點，其它設(shè)定亦可，雙刀三層四位波段開關(guān)(15)的焊接分為三層；第一層第一組測試點插座(7)通過導(dǎo)線與第一組的常閉點(23)焊接，第二組測試點插座(8)與第二組的常閉點(24)焊接，將絕緣電阻測試儀的正極插座(18)與第一組的一號波段點(25)焊接，絕緣電阻測試儀負極插座(19)與第二組的一號波段點(29)焊接，將介質(zhì)耐電壓測試儀的正向插座(20)與第一組的三號波段點(28)焊接，介質(zhì)耐電壓測試儀反向插座(21)與第二組的三號波段點(31)焊接；第二層第三組測試點插座(13)與第二組的常閉點(24)焊接，將絕緣電阻測試儀的負極插座(19)與第二組的一號波段點(29)焊接，將介質(zhì)耐電壓測試儀的反向插座(21)與第二組的三號波段點(31)焊接；第三層第二組測試點插座(12)通過導(dǎo)線與第一組的常閉點(23)焊接，第三組測試點插座(13)與第二組的常閉點(24)焊接，將絕緣電阻測試儀的正極插座(18)與第一組的二號波段點(26)焊接，絕緣電阻測試儀負極插座(19)與第二組的二號波段點(30)焊接，將介質(zhì)耐電壓測試儀的正向插座(20)與第一組的四號波段點(20)焊接，介質(zhì)耐電壓測試儀反向插座(21)與第二組的四號波段點(32)焊接；第四組測試點插座(14)與絕緣電阻測試儀的負極插座(19)和介質(zhì)耐壓儀的反向插座(21)焊接；該裝置中專用測試電纜(5)測試點第一組插座(11)、測試點第二組插座(12)至測試點第三組插座(13)、能夠?qū)⑷沸盘柡蠟橐宦沸盘柕霓D(zhuǎn)換開關(guān)(16)、指示裝置(17)、電源插座通過導(dǎo)線依次串聯(lián)、焊接，指示裝置(17)、波段開關(guān)(15)和轉(zhuǎn)換開關(guān)(16)分別與前面板(2)螺釘固定，將絕緣電阻測試儀正極插座(18)、絕緣電阻測試儀負極插座(19)，介質(zhì)耐電壓測試儀正向插座(20)、介質(zhì)耐電壓測試儀反向插座(21)，電源插座分別與后面板(3)螺釘固定。
全文摘要
本發(fā)明公開一種電連接器綜合檢測控制裝置設(shè)計方法，按照該方法設(shè)計的裝置能夠?qū)㈦娺B接器的絕緣電阻參數(shù)、介質(zhì)耐壓參數(shù)、導(dǎo)通性統(tǒng)一控制測試，并通過制作不同接口的專用測試電纜(5)以實現(xiàn)對各種電連接器的測試控制。專用測試電纜將被測電連接器的測試點分為一至四組測試點插頭并與主機對應(yīng)插接。將絕緣電阻測試儀、介質(zhì)耐壓測試儀和直流電源正極接入主機后，通過操作主機上的波段開關(guān)(15)和轉(zhuǎn)換開關(guān)(16)，即可對所有測試點進行測試。該裝置具有通用性強、安全性強、測試效率高等優(yōu)點。
文檔編號G01R31/02GK101051067SQ200610066468
公開日2007年10月10日 申請日期2006年4月3日 優(yōu)先權(quán)日2006年4月3日
發(fā)明者劉越 申請人:航天科工防御技術(shù)研究試驗中心