專利名稱：電子組件的自動化測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型是有關(guān)一種電子組件的檢測裝置，特別是指是一種可自動進(jìn)行及監(jiān)視電子組件測試作業(yè)的電子組件自動化測試裝置。
背景技術(shù)：
目前的電子組件(例如封裝完成的芯片)，在制造當(dāng)中及出廠前，均會進(jìn)行一系列的檢驗(yàn)及測試等質(zhì)量測試工作，除了確保其產(chǎn)品質(zhì)量之外，并可因測試工作發(fā)見制造上的瑕疵，以進(jìn)行修正、改進(jìn)或更換，以提高其產(chǎn)品的成品率?，F(xiàn)今的芯片制造商，通常提供給消費(fèi)者長期的保修期間，甚或終身保修，因此特別需在產(chǎn)品制造中及出廠前經(jīng)過嚴(yán)密的質(zhì)量測試，尤其在出廠前常會進(jìn)行全面的測試工作，以確保市面上每一顆芯片具有良好的質(zhì)量及功能效果，由此降低其后續(xù)的質(zhì)量保證成本。
目前的芯片實(shí)際測試方法，是使用很多人力，分別看守?cái)?shù)個測試用主機(jī)板置柜，該置柜內(nèi)部安裝有多數(shù)試用主機(jī)板以供晶體管植裝測試，因此一人僅能看守若干主機(jī)板置柜，造成人力成本的增加；其次，目前的測試作業(yè)是以人力將芯片植裝于試用主機(jī)板，經(jīng)過測試動作后，再以人力取下晶體管，所以浪費(fèi)許多時間在前置作業(yè)及后續(xù)作業(yè)動作中，影響測試速率，不利于大量生產(chǎn)，如此雖能降低往后保修期間回廠維修的成本，卻增加了產(chǎn)品的制造及測試成本。

發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型主要目的，是提供一種電子組件的自動化測試裝置，借以自動化測試裝置結(jié)構(gòu)及其架構(gòu)設(shè)計(jì)，達(dá)到電子組件測試速率提高、降低測試成本、適于大量測試工作等效果。
本實(shí)用新型的目的可以通過以下措施來達(dá)到一種電子組件的自動化測試裝置，包括一立式柜，是設(shè)有供置放多數(shù)測試用機(jī)板的多數(shù)容置格，并設(shè)有一供置放電子組件的整理格區(qū)；一擷取裝置設(shè)置于立式柜一側(cè)，該擷取裝置中并設(shè)有至少一電子組件的擷取頭；一控管主機(jī)；該立式柜的測試用機(jī)板與控管主機(jī)構(gòu)成訊號聯(lián)機(jī)，該擷取裝置與控管主機(jī)構(gòu)成訊號聯(lián)機(jī)。
其中，該立式柜包括容置格是設(shè)于上層，而該整理格區(qū)設(shè)于下層。
其中，該立式柜的整理格區(qū)包括設(shè)有未測格區(qū)及已測格區(qū)。
其中，該擷取裝置包括為一種軌道式機(jī)械臂或肘式機(jī)械手臂。
其中，該訊號聯(lián)機(jī)包括有線及無線訊號聯(lián)機(jī)。
采用上述方案后本實(shí)用新型的有益效果在于依上述目的，本實(shí)用新型實(shí)施內(nèi)容是包括一立式柜、多數(shù)測試用機(jī)板、一擷取裝置及一控管主機(jī)所組成，其中該立式柜，于上層設(shè)有多數(shù)容置格，可供置放多數(shù)測試用機(jī)板，并與控管主機(jī)構(gòu)成訊號聯(lián)機(jī)，于立式柜下層并設(shè)有一整理格區(qū)，且令整理格區(qū)區(qū)分設(shè)有未測格區(qū)及已測格區(qū)；該測試用機(jī)板，是可為測試用計(jì)算機(jī)主機(jī)板等；該擷取裝置，是分別可自動進(jìn)行電子組件取擷、置放及插植等動作的裝置，并與控管主機(jī)構(gòu)成聯(lián)機(jī)；該控管主機(jī)，是命令擷取裝置產(chǎn)生特定動作，監(jiān)視測試用機(jī)板以統(tǒng)一監(jiān)測電子組件測試質(zhì)量，可進(jìn)行電子組件質(zhì)量的比對與區(qū)別，并可以儲存測試、比對等資料的計(jì)算機(jī)設(shè)備；因此，即組成控管主機(jī)可自動控制擷取裝置執(zhí)行電子組件植入及取出于該測試用機(jī)板，并能將電子組件區(qū)分置放于整理格區(qū)中的自動化測試裝置。
改善了目前人力作業(yè)的缺點(diǎn)，縮短測試工作前的前置作業(yè)及后續(xù)分級置放作業(yè)時間，使測試結(jié)果及產(chǎn)量明確化，并提高其整體測試作業(yè)的速率，故可由此降低電子組件等產(chǎn)品的測試成本。


圖1為本實(shí)用新型電子組件的自動化測試裝置的立體示意圖。
圖2為本實(shí)用新型電子組件的自動化測試裝置的正面示意圖。
圖3為本實(shí)用新型電子組件的自動化測試裝置的側(cè)面示意圖。
圖4為本實(shí)用新型應(yīng)用實(shí)施動作示意圖之一。
圖5為本實(shí)用新型應(yīng)用實(shí)施動作示意圖之二。
主要圖號說明立式柜1； 容置格11；整理格區(qū)12； 未測格區(qū)121；已測格區(qū)122； 測試用機(jī)板2；擷取裝置3； 擷取頭31；控管主機(jī)4； 訊號聯(lián)機(jī)5；電子組件6；具體實(shí)施方式
茲依附圖實(shí)施例將本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)特征及其它的作用、目的詳細(xì)說明如下參考附圖所示，本實(shí)用新型為一種『電子組件之自動化測試裝置』，其包括一立式柜1、多數(shù)測試用機(jī)板2、一擷取裝置3及一控管主機(jī)4所組成，其中立式柜1，請參閱圖1及圖2所示，其是供多數(shù)測試用機(jī)板2設(shè)置的一結(jié)構(gòu)體，可為兩面相通的立式格柜或格架，于上層設(shè)有多數(shù)容置格11供置放多數(shù)測試用機(jī)板2，于下層并設(shè)有一整理格區(qū)12，且令整理格區(qū)12區(qū)分設(shè)有未測格區(qū)121及已測格區(qū)122，以提供置放電子組件6(例如芯片)；多數(shù)測試用機(jī)板2，是可為一般桌上型計(jì)算機(jī)、筆記型計(jì)算機(jī)、個人行動秘書(PDA)、其它微型計(jì)算機(jī)主機(jī)、大型計(jì)算機(jī)主機(jī)或電器、電機(jī)、機(jī)械等設(shè)備的主機(jī)板或其周邊電路板(卡)，并分別置放于立式柜1的容置格11中；擷取裝置3，請參閱圖1及圖2所示，是可自動進(jìn)行電子組件6取擷、置放、插植及拔取等動作的自動化機(jī)械裝置，可為一種軌道式機(jī)械臂或肘式機(jī)械手臂或其它可用自動化指令控制的機(jī)械裝置等，該擷取裝置3并設(shè)有至少一電子組件的擷取頭31，擷取裝置3設(shè)置于立式柜1一側(cè)，可進(jìn)行電子組件裝入/取出測試用機(jī)板2等動作；控管主機(jī)4，是統(tǒng)一監(jiān)測電子組件6測試質(zhì)量效果，進(jìn)行電子組件6質(zhì)量的比對與區(qū)別，可以儲存測試、比對等資料，并可命令擷取裝置3產(chǎn)生特定動作的后端計(jì)算機(jī)主機(jī)，其包含有比對、區(qū)分、儲存測試資料及產(chǎn)生特定指令所需的軟件及硬設(shè)備；
請參閱圖1至圖3所示，通過有線或無線的訊號聯(lián)機(jī)5，使該立式柜1的各個測試用機(jī)板2分別或統(tǒng)一與控管主機(jī)4構(gòu)成訊號聯(lián)機(jī)，并令該擷取裝置3與控管主機(jī)4構(gòu)成訊號聯(lián)機(jī)，即組成本實(shí)用新型電子組件的自動化測試裝置，可應(yīng)用于芯片等電子組件6的實(shí)際測試作業(yè)。
本實(shí)用新型電子組件的自動化測試裝置設(shè)計(jì)，可作為各種電子組件等產(chǎn)品出廠前的測試設(shè)備，也可裝設(shè)于特定生產(chǎn)線中，以隨機(jī)或全面的取擷制造中的電子組件(例如封裝過程中的芯片等)，并進(jìn)行測試、監(jiān)控作業(yè)，隨時監(jiān)控電子組件質(zhì)量。
本實(shí)用新型應(yīng)用方式請參閱圖3及圖4所示，可由作業(yè)人員或其它硬設(shè)備將電子組件6(如芯片等)排置于立式柜1的未測格區(qū)121中，即可由控管主機(jī)4命令該擷取裝置3的擷取頭31取出電子組件6；并命令該擷取裝置3移動至測試用機(jī)板2處，執(zhí)行電子組件6植裝于測試用機(jī)板2之動作(如圖5所示)。
于電子組件6測試過程中，該測試用機(jī)板2所實(shí)際運(yùn)作的數(shù)據(jù)等資料將通過有線或無線的訊號聯(lián)機(jī)5傳遞于控管主機(jī)4，由該控管主機(jī)4內(nèi)設(shè)的軟、硬件進(jìn)行比對、區(qū)分各電子組件6的質(zhì)量、使用速率及效果等等，可立即以顯示器顯現(xiàn)測試結(jié)果，并可將比對及區(qū)分資料等儲存于磁盤驅(qū)動器、磁帶機(jī)或其它可記錄的硬設(shè)備中。
測試完成的電子組件6，即由控管主機(jī)4命令該擷取裝置3的擷取頭31從測試用機(jī)板2取出電子組件6，并移送至立式柜1下方的已測格區(qū)122分級置放，并可排列區(qū)分出瑕疵品及成品、高質(zhì)量及低質(zhì)量等，以此完成電子組件6的實(shí)測作業(yè)。
本實(shí)用新型電子組件的自動化測試裝置設(shè)計(jì)，改善了目前人力作業(yè)的缺點(diǎn)，可完全由控管主機(jī)4進(jìn)行電子組件6測試工作，僅需一人監(jiān)視該控管主機(jī)4，因此可大幅的降低測試的人力成本；其次，該控管主機(jī)4可控制擷取裝置3進(jìn)行電子組件6測試前、后的各種準(zhǔn)備動作，包括擷取、移動、植裝、拔取及回送等等，因此可經(jīng)由控管主機(jī)4將擷取裝置3作適當(dāng)?shù)膭幼餍谐桃?guī)劃，縮短測試工作前的前置作業(yè)及后續(xù)分級置放作業(yè)時間，使測試結(jié)果及產(chǎn)量明確化，并提高其整體測試作業(yè)的速率，故可由此降低電子組件等產(chǎn)品的質(zhì)量測試成本。
權(quán)利要求1.一種電子組件的自動化測試裝置，其特征在于包括一立式柜，是設(shè)有供置放多數(shù)測試用機(jī)板的多數(shù)容置格，并設(shè)有一供置放電子組件的整理格區(qū)；一擷取裝置設(shè)置于立式柜一側(cè)，該擷取裝置中并設(shè)有至少一電子組件的擷取頭；一控管主機(jī)；該立式柜的測試用機(jī)板與控管主機(jī)構(gòu)成訊號聯(lián)機(jī)，該擷取裝置與控管主機(jī)構(gòu)成訊號聯(lián)機(jī)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子組件的自動化測試裝置，其特征在于該立式柜包括容置格是設(shè)于上層，而該整理格區(qū)設(shè)于下層。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子組件的自動化測試裝置，其特征在于該立式柜的整理格區(qū)包括設(shè)有未測格區(qū)及已測格區(qū)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子組件的自動化測試裝置，其特征在于該擷取裝置包括為一種軌道式機(jī)械臂或肘式機(jī)械手臂。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子組件的自動化測試裝置，其特征在于該訊號聯(lián)機(jī)包括有線及無線訊號聯(lián)機(jī)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種電子組件的自動化測試裝置，包括一立式柜、多數(shù)測試用機(jī)板、一擷取裝置及一控管主機(jī)所組成，該立式柜于上層設(shè)有多數(shù)容置格，可供置放多數(shù)測試用機(jī)板，于下層設(shè)有一整理格區(qū)，該整理格區(qū)區(qū)分設(shè)有未測格區(qū)及已測格區(qū)，于立式柜外部設(shè)有一自動化控制的擷取裝置，并令立式柜中的測試用機(jī)板及擷取裝置聯(lián)機(jī)于一控管主機(jī)，由此組成控管主機(jī)可自動控制擷取裝置執(zhí)行電子組件植入及取出于該測試用機(jī)板，并能將電子組件區(qū)分置放于整理格區(qū)中的自動化測試裝置。
文檔編號G01R31/28GK2828830SQ20042011638
公開日2006年10月18日 申請日期2004年12月8日 優(yōu)先權(quán)日2004年12月8日
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