專利名稱：表面貼裝半導(dǎo)體器件測試座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及電量測試儀器配件，特別是一種表面貼裝半導(dǎo)體器件測試座。
背景技術(shù)：
半導(dǎo)體器件的發(fā)展很快，以前是分立式封裝，現(xiàn)在已普遍采用表面貼裝封裝。這種如米粒大小的表面貼裝半導(dǎo)體器件，與分立式封裝相比體積很小，引線很細(xì)，其技術(shù)參數(shù)無法在現(xiàn)有的半導(dǎo)體器件特性圖示儀上進(jìn)行測試，影響了表面貼裝半導(dǎo)體器件的推廣應(yīng)用。
發(fā)明內(nèi)容
本實用新型為了解決表面貼裝半導(dǎo)體器件無法在現(xiàn)有的半導(dǎo)體器件特性圖示儀上進(jìn)行測試所存在的技術(shù)問題，而提供一種能進(jìn)行引線轉(zhuǎn)接的表面貼裝半導(dǎo)體器件測試座。
依據(jù)上述目的，本實用新型提供一種表面貼裝半導(dǎo)體器件測試座，包括具有C1、B1、E1引線的夾具，雙刀開關(guān)K1，單刀開關(guān)K2，三個插頭C2、B2、E2；其中雙刀開關(guān)K1的刀K11、K12分別與夾具的B1、E1端連接，刀K11和K12分別有兩個觸點T1、D1和T2、D2，其觸點T1與插頭B2連接；其中單刀開關(guān)K2的刀K21與插頭E2和雙刀開關(guān)K1的觸點T2連接，刀K21分別有兩個觸點D1、D2與雙刀開關(guān)K1的觸點D1、D2連接；其中夾具的C1端與插頭C2連接。
本實用新型由于采用了以上技術(shù)措施，就能在現(xiàn)有的半導(dǎo)體特性圖示儀上測試表面貼裝半導(dǎo)體器件，具有結(jié)構(gòu)簡單、接觸良好、使用方便的優(yōu)點。
圖1是本實用新型的電線路圖。
圖2是本實用新型測試三極管的電線路圖。
圖3是本實用新型測試雙二極管中D1的電線路圖。
圖4是本實用新型測試雙二極管中D2的電線路圖。
具體實施方式
如圖1所示，其中夾具是現(xiàn)有的，可專門用于測試表面貼裝封裝的三極管、二極管、穩(wěn)壓管、場效應(yīng)管。夾具已安裝在測試座中，使夾具上的引線與測試座上相應(yīng)的C1、B1、E1點連接，再將測試座的插頭C2、B2、E2插在半導(dǎo)體器件特性圖示儀的相應(yīng)測試孔中即可。
如圖2所示，測試表面貼裝的三極管時，將封裝器件對準(zhǔn)相應(yīng)引線置于夾具中壓緊，再將雙刀開關(guān)K1打向測試三極管位置，則刀K11、K12與T1、T2觸點接通。此時，夾具上的B1經(jīng)刀K11、觸點T1與插頭B2接通，夾具上的E1經(jīng)刀K12、觸點T2與插頭E2接通，而夾具上的C1與插頭C2是常通的。這樣，就可在圖示儀上測試三極管的技術(shù)參數(shù)。
如圖3所示，測試表面貼裝封裝的雙二極管時，將封裝器件對準(zhǔn)相應(yīng)引線置于夾具中壓緊，再將雙刀開關(guān)K1打向測試二極管位置，則刀K11與觸點D1接通，刀K12與觸點D2接通。然后，將單刀開關(guān)K2打向測試二極管D1位置，則刀K21與觸點D1接通。此時，夾具上的B1經(jīng)刀K11、觸點D1、刀K21與插頭E2接通。這樣，就可以在圖示儀上測試二極管D1的技術(shù)參數(shù)。
如圖4所示，按圖3所示的操作，測完二極管D1后，只要將單刀開關(guān)K2打向測試二極管D2位置，則刀K21與觸點D2接通。此時，夾具上的E1經(jīng)刀K12、觸點D2、刀K21與插頭E2接通。這樣，就可以在圖示儀上測試二極管D2的技術(shù)參數(shù)。
權(quán)利要求1.一種表面貼裝半導(dǎo)體器件測試座，其特征是包括具有C1、B1、E1引線的夾具，雙刀開關(guān)K1，單刀開關(guān)K2，三個插頭C2、B2、E2；其中雙刀開關(guān)K1的刀K11、K12分別與夾具的B1、E1端連接，刀K11和刀K12分別有觸點T1、D1和T2、D2，其觸點T1與插頭B2連接；其中單刀開關(guān)K2的刀K21與插頭E2和雙刀開關(guān)K1的觸點T2連接，刀K21分別有兩個觸點D1、D2與雙刀開關(guān)K1的觸點D1、D2連接；其中夾具的C1端與插頭C2連接。
專利摘要本實用新型涉及一種表面貼裝半導(dǎo)體器件測試座，包括專用夾具、雙刀開關(guān)、單刀開關(guān)、三個插頭。將測試座的插頭插在現(xiàn)有半導(dǎo)體器件特性圖示儀的相應(yīng)測試孔中，配套使用，通過操作測試座上的開關(guān)進(jìn)行引線轉(zhuǎn)接，即可進(jìn)行對表面貼裝半導(dǎo)體器件的測試。本實用新型具有結(jié)構(gòu)簡單、接觸良好、使用方便的優(yōu)點。
文檔編號G01R31/26GK2704050SQ20032012238
公開日2005年6月8日 申請日期2003年12月12日 優(yōu)先權(quán)日2003年12月12日
發(fā)明者曾九林, 秦志強(qiáng) 申請人:上海新建儀器設(shè)備有限公司