本發(fā)明涉及一種空間對(duì)準(zhǔn)光刻設(shè)備中的圖案形成裝置和襯底的方法,其中圖案形成裝置和襯底由包括一個(gè)或多個(gè)可移動(dòng)光學(xué)部件的光路隔開(kāi)。
背景技術(shù):
1、光刻設(shè)備是構(gòu)造成將期望的圖案施加到襯底上的機(jī)器。光刻設(shè)備可以用于例如制造集成電路(ic)。光刻設(shè)備可以例如將圖案形成裝置(例如掩模)處的圖案投影到設(shè)置于襯底上的輻射敏感材料(抗蝕劑)層上。
2、為了將圖案投影于襯底上,光刻設(shè)備可以使用電磁輻射。該輻射的波長(zhǎng)確定可以形成于襯底上的特征的最小尺寸。相比于可以例如使用波長(zhǎng)為193?nm的輻射的光刻設(shè)備,使用波長(zhǎng)在4-20?nm的范圍內(nèi)(例如6.7?nm或13.5?nm)的極紫外(euv)輻射的光刻設(shè)備可以用于在襯底上形成較小特征。
3、為了使襯底準(zhǔn)確地圖案化有圖案形成裝置的圖案,需要準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)襯底和圖案形成裝置。為此,已知通過(guò)將存在于圖案形成裝置上的一個(gè)或多個(gè)標(biāo)記的圖案或圖像投影到布置在保持襯底的襯底臺(tái)上的傳感器上,來(lái)確定圖案形成裝置和襯底或保持襯底的襯底臺(tái)之間的對(duì)準(zhǔn)位置。通常,這種對(duì)準(zhǔn)過(guò)程涉及沿包括一個(gè)或多個(gè)光學(xué)部件(諸如反射鏡或透鏡)的光路投影圖案。在這種對(duì)準(zhǔn)過(guò)程中,光學(xué)部件通常被保持在固定位置。在后續(xù)的圖案化或曝光過(guò)程期間,這些部件發(fā)生移位或需要移位的情況下,已經(jīng)發(fā)現(xiàn)所確定的對(duì)準(zhǔn)位置可能有缺陷或不準(zhǔn)確,從而可能會(huì)在圖案化過(guò)程中導(dǎo)致重疊誤差。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本發(fā)明的目的是提供圖案形成裝置和襯底之間的改進(jìn)的對(duì)準(zhǔn),特別是在光刻設(shè)備中的圖案化過(guò)程期間使用可移動(dòng)光學(xué)部件的情況下。
2、根據(jù)本發(fā)明的第一方面,提供了一種空間對(duì)準(zhǔn)圖案形成裝置和襯底的方法,其中所述圖案形成裝置和所述襯底由包括一個(gè)或多個(gè)可移動(dòng)光學(xué)部件的光路隔開(kāi),所述方法包括:
3、-沿所述光路投影來(lái)自所述圖案形成裝置的輻射束;
4、-執(zhí)行所述一個(gè)或多個(gè)可移動(dòng)光學(xué)部件沿預(yù)定軌跡的移位;
5、-在所述一個(gè)或多個(gè)可移動(dòng)光學(xué)部件的移位期間,在多個(gè)時(shí)刻確定由支撐所述襯底的襯底臺(tái)上的傳感器接收的輻射束的光學(xué)特性;
6、-基于在所述多個(gè)時(shí)刻確定的所述光學(xué)特性,空間對(duì)準(zhǔn)所述圖案形成裝置和所述襯底。
7、根據(jù)本發(fā)明的第二方面,提供了一種設(shè)備,所述設(shè)備包括:
8、-支撐結(jié)構(gòu),所述支撐結(jié)構(gòu)被配置為支撐圖案形成裝置;
9、-襯底臺(tái),所述襯底臺(tái)被配置為支撐襯底;
10、-投影系統(tǒng),所述投影系統(tǒng)包括多個(gè)可移動(dòng)光學(xué)部件,所述可移動(dòng)光學(xué)部件在所述圖案形成裝置和所述襯底之間提供光路;
11、-定位系統(tǒng),所述定位系統(tǒng)被配置為定位所述圖案形成裝置、所述襯底以及所述投影系統(tǒng)的所述可移動(dòng)光學(xué)部件;
12、-位置測(cè)量系統(tǒng),所述位置測(cè)量系統(tǒng)被配置為測(cè)量所述支撐結(jié)構(gòu)、所述襯底臺(tái)以及所述投影系統(tǒng)的所述可移動(dòng)光學(xué)部件的位置;
13、-控制單元,所述控制單元被配置為控制所述定位系統(tǒng);
14、-其中所述設(shè)備被配置為接收輻射束以照射所述圖案形成裝置,并且其中所述控制單元被配置為控制所述設(shè)備執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的第一方面的空間對(duì)準(zhǔn)所述圖案形成裝置和所述襯底的方法。
15、根據(jù)本發(fā)明的第三方面,提供了一種設(shè)備,所述設(shè)備包括:
16、-支撐結(jié)構(gòu),所述支撐結(jié)構(gòu)被配置為支撐圖案形成裝置;
17、-襯底臺(tái),所述襯底臺(tái)被配置為支撐襯底;
18、-投影系統(tǒng),所述投影系統(tǒng)包括多個(gè)可移動(dòng)光學(xué)部件,所述可移動(dòng)光學(xué)部件在所述圖案形成裝置和所述襯底之間提供光路;
19、-定位系統(tǒng),所述定位系統(tǒng)被配置為定位所述圖案形成裝置、所述襯底以及所述投影系統(tǒng)的所述可移動(dòng)光學(xué)部件;
20、-位置測(cè)量系統(tǒng),所述位置測(cè)量系統(tǒng)被配置為測(cè)量所述支撐結(jié)構(gòu)、所述襯底臺(tái)以及所述投影系統(tǒng)的所述可移動(dòng)光學(xué)部件的位置;
21、-控制單元,所述控制單元被配置為控制所述定位系統(tǒng);
22、其中所述設(shè)備被配置為沿所述光路將來(lái)自所述圖案形成裝置的輻射束投影到支撐所述襯底的所述襯底臺(tái);以及
23、其中所述控制單元被配置為:
24、-控制所述定位系統(tǒng)以執(zhí)行所述一個(gè)或多個(gè)可移動(dòng)光學(xué)部件沿預(yù)定軌跡的移位;
25、-在所述一個(gè)或多個(gè)可移動(dòng)光學(xué)部件的移位期間,在多個(gè)時(shí)刻確定由所述襯底臺(tái)上的傳感器接收的輻射束的光學(xué)特性;
26、-基于在所述多個(gè)時(shí)刻確定的所述光學(xué)特性,確定所述圖案形成裝置和所述襯底的對(duì)準(zhǔn)位置。
1.一種空間對(duì)準(zhǔn)圖案形成裝置和襯底的方法,其中所述圖案形成裝置和所述襯底由包括一個(gè)或多個(gè)可移動(dòng)光學(xué)部件的光路隔開(kāi),所述方法包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述輻射束是包括布置在所述圖案形成裝置上的標(biāo)記的圖案的經(jīng)圖案化的輻射束。
3.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述光學(xué)特性是所述經(jīng)圖案化的輻射束的強(qiáng)度。
4.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,還包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其中所述襯底臺(tái)相對(duì)于所述輻射束的移位包括:在相應(yīng)的多個(gè)不同的豎直位置處的多個(gè)實(shí)質(zhì)上水平移位。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的方法,其中所述一個(gè)或多個(gè)可移動(dòng)光學(xué)部件的移位引起所述輻射束的空間圖像相對(duì)于所述襯底臺(tái)的移位,并且其中所述襯底臺(tái)相對(duì)于所述輻射束的移位至少部分地補(bǔ)償或跟隨由所述一個(gè)或多個(gè)可移動(dòng)光學(xué)部件的移位引起的所述輻射束的空間圖像相對(duì)于所述襯底臺(tái)的移位。
7.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述預(yù)定軌跡至少跨越所述一個(gè)或多個(gè)可移動(dòng)光學(xué)部件的位置測(cè)量的循環(huán)誤差的一個(gè)周期。
8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述一個(gè)或多個(gè)可移動(dòng)光學(xué)部件沿所述預(yù)定軌跡的移位引起所述輻射束的空間圖像相對(duì)于所述襯底臺(tái)的一系列多個(gè)實(shí)質(zhì)上水平移位。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,還包括:
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法,其中所述實(shí)質(zhì)上豎直移位是實(shí)質(zhì)上連續(xù)的移位或階梯式移位。
11.一種設(shè)備,包括:
12.一種設(shè)備,所述設(shè)備包括:
13.根據(jù)權(quán)利要求11或12所述的設(shè)備,其中所述預(yù)定軌跡至少跨越所述位置測(cè)量系統(tǒng)的循環(huán)誤差的一個(gè)周期。
14.一種光刻系統(tǒng),所述光刻系統(tǒng)包括根據(jù)權(quán)利要求11、12或13所述的設(shè)備,以及
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的光刻系統(tǒng),其中所述輻射源是euv輻射源和/或其中所述可移動(dòng)光學(xué)部件是euv反射鏡。