專利名稱：光學(xué)機(jī)構(gòu)調(diào)整校驗(yàn)工具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種掃描儀、數(shù)碼相機(jī)等光學(xué)影像產(chǎn)品上調(diào)整位置度工具的校驗(yàn)工具，具體涉及掃描頭測(cè)試裝置(簡(jiǎn)稱OMA)上的一種光學(xué)測(cè)試板位置校驗(yàn)塊結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
在掃描儀中，鏡頭是光學(xué)掃描影像裝置的重要部件，其光學(xué)效果好壞不僅與鏡頭本身的質(zhì)量和性能有關(guān)，而且與裝配、調(diào)測(cè)等工藝有關(guān)。從某種程度上講，掃描儀裝配過(guò)程中鏡頭焦距的調(diào)整非但不可缺少，而且顯得相當(dāng)重要，因?yàn)檫@種調(diào)整最直接的效果是發(fā)揮鏡頭的最高光學(xué)性能。
現(xiàn)有技術(shù)中，掃描頭主要由光頭架、鏡頭和CCD/B光電耦合器等組成，裝配時(shí)鏡頭插裝在光頭架的鏡頭孔中，CCD/B光電耦合器安裝在鏡頭成像位置上，從而構(gòu)成掃描頭部件。當(dāng)掃描頭部件組裝完成后需要用OMA一光學(xué)機(jī)構(gòu)調(diào)整器具對(duì)其MTF值進(jìn)行檢測(cè)，而這種測(cè)試設(shè)備上設(shè)有光學(xué)測(cè)試板，一般情況下在進(jìn)行OMA作業(yè)前需要對(duì)其設(shè)備上的光學(xué)測(cè)試板位置進(jìn)行校驗(yàn)，以確定該位置的正確性。以往校驗(yàn)方式有多種，其中較常用的有三種，第一種是利用校驗(yàn)鐵塊進(jìn)行校驗(yàn)，但這種方式無(wú)法讀取數(shù)據(jù)，只能憑借經(jīng)驗(yàn)估計(jì)，因此準(zhǔn)確性難以保證。第二種利用OCT光學(xué)治具，但成本高，而且讀取數(shù)據(jù)不方便。第三種利用Good Sample Chassis a’ssy，因CHASSIS A’SSY容易變形，故此方式誤差相對(duì)較大。為此，本實(shí)用新型從集成第一和第二種矯正方式的優(yōu)點(diǎn)出發(fā)，設(shè)計(jì)了一種適合采用放大鏡觀察讀數(shù)，而且校驗(yàn)精確的校驗(yàn)塊結(jié)構(gòu)，以快速有效的方式簡(jiǎn)化校驗(yàn)操作。

發(fā)明內(nèi)容
為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是一種光學(xué)機(jī)構(gòu)調(diào)整校驗(yàn)工具，由一校驗(yàn)塊結(jié)構(gòu)構(gòu)成，該校驗(yàn)塊上設(shè)有三維空間定位基準(zhǔn)，所述三維空間定位基準(zhǔn)由兩個(gè)定位面和一個(gè)軸定位結(jié)構(gòu)組成，軸定位結(jié)構(gòu)由U形槽構(gòu)成，其底部半圓圓心為定位軸線，一個(gè)定位面與定位軸線垂直，另一個(gè)定位面與定位軸線平行；與定位軸線平行的定位面上設(shè)有至少兩處校驗(yàn)標(biāo)識(shí)，該校驗(yàn)標(biāo)識(shí)在校驗(yàn)塊上以漏空結(jié)構(gòu)與測(cè)試板上標(biāo)識(shí)位置對(duì)應(yīng)。
上述技術(shù)方案中的有關(guān)內(nèi)容解釋如下1、本方案由一個(gè)軸定位和兩定位面構(gòu)成三維空間定位基準(zhǔn)。所述“測(cè)試板”是指用于進(jìn)行OMA測(cè)試的板或片狀物，其表面印有光學(xué)測(cè)試圖案。
2、上述技術(shù)方案中，為了在校驗(yàn)過(guò)程中保護(hù)印有光學(xué)圖案的測(cè)試板表面，所述與定位軸線平行的定位面上設(shè)有漏空窗，該漏空窗的大小、形狀和位置使測(cè)試板上的光學(xué)圖案落在視窗中，以避免被定位面磨損。
3、上述技術(shù)方案中，為了使軸定位更加準(zhǔn)確，上述U形槽軸定位結(jié)構(gòu)由同軸方向間隔的兩段U形槽構(gòu)成。
4、上述技術(shù)方案中，為了提高校驗(yàn)的精確度，在與定位軸線平行的定位面上設(shè)置三處校驗(yàn)標(biāo)識(shí)，三處校驗(yàn)標(biāo)識(shí)相互間構(gòu)成面定位。所述三個(gè)校驗(yàn)標(biāo)識(shí)可以都是“十”字形，也可以分別為“十”字形、“一”字形和“|”字形，還可以為兩個(gè)“十”字形和“一”字形，甚至可以是其它形狀的標(biāo)識(shí)。
本實(shí)用新型工作原理是利用定位結(jié)構(gòu)將校驗(yàn)塊進(jìn)行三維空間定位，并通過(guò)設(shè)在校驗(yàn)塊的校驗(yàn)標(biāo)識(shí)對(duì)OMA測(cè)試器具上的測(cè)試板位置進(jìn)行矯正，從而使測(cè)試板印有光學(xué)圖案落在準(zhǔn)確位置上。
由于上述技術(shù)方案運(yùn)用，本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有下列優(yōu)點(diǎn)1、本實(shí)用新型在校驗(yàn)測(cè)試板的標(biāo)識(shí)上設(shè)有刻度標(biāo)，只要將校驗(yàn)塊在OMA器具上準(zhǔn)確定位，就可以通過(guò)放大讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行準(zhǔn)確校驗(yàn)，這樣既簡(jiǎn)化了校驗(yàn)操作，又使校驗(yàn)作業(yè)變得快速而有效。
2、本實(shí)用新型校驗(yàn)精確，器具簡(jiǎn)單，制作成本低，而且可以精確讀取相關(guān)數(shù)據(jù)。
3、本實(shí)用新型采用U形槽底部半圓圓心來(lái)定位軸線，可以直接通過(guò)U形槽的開口放入定位軸，操作起來(lái)十分方便。
4、本實(shí)用新型在為了在所述與定位軸線平行的定位面上設(shè)有漏空窗，校驗(yàn)過(guò)程中可以保護(hù)印有光學(xué)圖案的測(cè)試板表面，以避免被定位面磨損。


附圖1為本實(shí)用新型立體結(jié)構(gòu)圖；附圖2為本實(shí)用新型與測(cè)試板之間的關(guān)系示意圖；附圖3為本實(shí)用新型俯視圖；
附圖4為圖3中校驗(yàn)標(biāo)識(shí)位置的局部放大圖，圖中表示的是“十”字形校驗(yàn)標(biāo)識(shí)。
以上附圖中1、U形槽；2、校驗(yàn)標(biāo)識(shí)；3、標(biāo)識(shí)；4、漏空窗；5、測(cè)試板；6、定位軸線；7、豎直板；8、底板。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述實(shí)施例參見附圖1～附圖4所示，一種光學(xué)機(jī)構(gòu)調(diào)整校驗(yàn)工具，由一校驗(yàn)塊結(jié)構(gòu)構(gòu)成，該校驗(yàn)塊上設(shè)有三維空間定位基準(zhǔn)，所述三維空間定位基準(zhǔn)由兩個(gè)定位面和一個(gè)軸定位結(jié)構(gòu)組成，軸定位結(jié)構(gòu)由U形槽1構(gòu)成，其底部半圓圓心為定位軸線6，一個(gè)定位面與定位軸線6垂直，該定位面由豎直板7的外側(cè)面構(gòu)成；另一個(gè)定位面與定位軸線6平行，該定位面由底板8的底面構(gòu)成。與定位軸線6平行的定位面上設(shè)有三處校驗(yàn)標(biāo)識(shí)2，所述三處校驗(yàn)標(biāo)識(shí)2分別為“十”字形、“一”字形和“|”字形，該校驗(yàn)標(biāo)識(shí)2在校驗(yàn)塊上以漏空結(jié)構(gòu)與測(cè)試板5上標(biāo)識(shí)3位置對(duì)應(yīng)。為了在校驗(yàn)過(guò)程中保護(hù)印有光學(xué)圖案的測(cè)試板5表面，可以在與定位軸線6平行的定位面上設(shè)有漏空窗4，該漏空窗4為長(zhǎng)方形槽結(jié)構(gòu)，其大小和位置能夠使測(cè)試板5上的光學(xué)圖案落在視窗中，以避免被定位面磨損。為了使軸定位更加準(zhǔn)確，上述U形槽1軸定位結(jié)構(gòu)由同軸方向間隔的兩段U形槽1構(gòu)成。
權(quán)利要求1.一種光學(xué)機(jī)構(gòu)調(diào)整校驗(yàn)工具，由一校驗(yàn)塊結(jié)構(gòu)構(gòu)成，該校驗(yàn)塊上設(shè)有三維空間定位基準(zhǔn)，其特征在于所述三維空間定位基準(zhǔn)由兩個(gè)定位面和一個(gè)軸定位結(jié)構(gòu)組成，軸定位結(jié)構(gòu)由U形槽[1]構(gòu)成，其底部半圓圓心為定位軸線[6]，一個(gè)定位面與定位軸線[6]垂直，另一個(gè)定位面與定位軸線[6]平行；與定位軸線[6]平行的定位面上設(shè)有至少兩處校驗(yàn)標(biāo)識(shí)[2]，該校驗(yàn)標(biāo)識(shí)[2]在校驗(yàn)塊上以漏空結(jié)構(gòu)與測(cè)試板[5]上標(biāo)識(shí)[3]位置對(duì)應(yīng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校驗(yàn)工具，其特征在于所述與定位軸線[6]平行的定位面上設(shè)有漏空窗[4]，該漏空窗[4]的大小、形狀和位置使測(cè)試板[5]上的光學(xué)圖案落在視窗中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校驗(yàn)工具，其特征在于所述U形槽軸定位結(jié)構(gòu)由同軸方向間隔的兩段U形槽[1]構(gòu)成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校驗(yàn)工具，其特征在于所述與定位軸線[6]平行的定位面上有三處設(shè)有校驗(yàn)標(biāo)識(shí)[2]，三處校驗(yàn)標(biāo)識(shí)[2]相互間構(gòu)成面定位。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的校驗(yàn)工具，其特征在于所述校驗(yàn)標(biāo)識(shí)[2]均為“十”字形。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的校驗(yàn)工具，其特征在于所述校驗(yàn)標(biāo)識(shí)[2]分別為“十”字形、“一”字形和“|”字形。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的校驗(yàn)工具，其特征在于所述校驗(yàn)標(biāo)識(shí)[2]為兩個(gè)“十”字形和“一”字形。
專利摘要一種光學(xué)機(jī)構(gòu)調(diào)整校驗(yàn)工具，由一校驗(yàn)塊結(jié)構(gòu)構(gòu)成，該校驗(yàn)塊上設(shè)有三維空間定位基準(zhǔn)，其特征在于所述三維空間定位基準(zhǔn)由兩個(gè)定位面和一個(gè)軸定位結(jié)構(gòu)組成，軸定位結(jié)構(gòu)由U形槽[1]構(gòu)成，其底部半圓圓心為定位軸線[6]，一個(gè)定位面與定位軸線[6]垂直，另一個(gè)定位面與定位軸線[6]平行；與定位軸線[6]平行的定位面上設(shè)有至少兩處校驗(yàn)標(biāo)識(shí)[2]，該校驗(yàn)標(biāo)識(shí)[2]在校驗(yàn)塊上以漏空結(jié)構(gòu)與測(cè)試板[5]上標(biāo)識(shí)[3]位置對(duì)應(yīng)。本實(shí)用新型在校驗(yàn)測(cè)試板的標(biāo)識(shí)上設(shè)有刻度標(biāo)，只要將校驗(yàn)塊在OMA器具上準(zhǔn)確定位，就可以通過(guò)放大讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行準(zhǔn)確校驗(yàn)，這樣既簡(jiǎn)化了校驗(yàn)操作，又使校驗(yàn)作業(yè)變得快速而有效，而且工具簡(jiǎn)單，制作成本低。
文檔編號(hào)G02B27/62GK2554650SQ0221976
公開日2003年6月4日 申請(qǐng)日期2002年4月2日 優(yōu)先權(quán)日2002年4月2日
發(fā)明者王遠(yuǎn)紅, 梁余一 申請(qǐng)人:力捷電腦(中國(guó))有限公司