本發(fā)明涉及半導(dǎo)體，并且更具體地，涉及一種顯示器件測試裝置、系統(tǒng)、方法、設(shè)備及介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、顯示器件的工作壽命可以通過溫度和濕度共同作用加速老化的方法估算得出。在較高溫度、濕度下，施加電壓使顯示器件保持持續(xù)刷新顯示狀態(tài)一種嚴(yán)酷的工作方式，在高溫度、高濕度和額定電應(yīng)力的作用下，質(zhì)量差的器件會更早失效。用這種方式可以判斷顯示器件的制造工藝水平，也可以判斷生產(chǎn)批次產(chǎn)品的質(zhì)量好壞。顯示器件的加速老化測試主要存在2種方式。

2、一是在終端產(chǎn)品中測試，將顯示器件焊接到終端產(chǎn)品上進(jìn)行產(chǎn)品的加速老化，并在加速老化后進(jìn)行產(chǎn)品的性能測試，通過產(chǎn)品的測試結(jié)果來反推顯示器件的性能測試結(jié)果。這種測試方法效率慢、操作困難，而且終端產(chǎn)品測試會額外占用環(huán)境設(shè)備的空間，不適合數(shù)量太多的顯示器件測試。

3、二是只測試顯示器件本體，將多個具備相同電源電路的顯示器件直接并聯(lián)在供電電源兩端，并在加速老化后進(jìn)行顯示器件的性能和功能測試，直接判斷顯示器件測試結(jié)果。

4、這種方法相比第一種效率較高，但無法在加速老化中途判斷顯示器件的性能和功能狀態(tài)、提早篩查中途失效器件；也無法同時測試具備不同電源電路的顯示器件，兼容性不足。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、針對上述問題，本發(fā)明提出了一種顯示器件測試裝置，包括：電源電路板和器件插裝電路板；

2、所述器件插裝電路板用于連接待測顯示器件，所述電源電路板用于通過所述器件插裝電路板連接所述待測顯示器件；

3、所述電源電路板，為所述待測顯示器件提供顯示控制信號，以顯示控制信號對所述待測顯示器件進(jìn)行測試，所述器件插裝電路板用于顯示控制參數(shù)。

4、可選的，電源電路板與器件插裝電路板通信連接。

5、可選的，電源電路板安裝有預(yù)設(shè)驅(qū)動程序的驅(qū)動芯片，所述驅(qū)動芯片用于為待測顯示器件提供顯示控制信號，并控制所述待測顯示器件的顯示內(nèi)容及刷新頻率。

6、再一方面，本發(fā)明還提出了一種顯示器件測試系統(tǒng)，包括：電源監(jiān)測模塊、拍攝模塊、測試模塊和顯示器件測試裝置；

7、所述電源監(jiān)測模塊通過所述顯示器件測試裝置與待測顯示器件連接，用于為所述待測顯示器件提供電源電流，并獲取所述待測顯示器件的電流參數(shù)，并將所述電流參數(shù)發(fā)送至所述測試模塊，所述顯示器件測試裝置用于對所述待測顯示器件進(jìn)行測試，所述拍攝模塊用于拍攝所述待測顯示器件的顯示屏，并將拍攝的照片發(fā)送至測試模塊，所述測試模塊用于對待測顯示器件的故障進(jìn)行識別，以輸出識別結(jié)果。

8、可選的，顯示器件測試裝置，包括：電源電路板和器件插裝電路板；

9、所述器件插裝電路板用于連接待測顯示器件，所述電源電路板用于通過所述器件插裝電路板連接所述待測顯示器件；

10、所述電源電路板，為所述待測顯示器件提供顯示控制信號，以顯示控制信號對所述待測顯示器件進(jìn)行測試，所述器件插裝電路板用于顯示控制參數(shù)。

11、可選的，電源電路板與器件插裝電路板通信連接。

12、可選的，電源電路板安裝有預(yù)設(shè)驅(qū)動程序的驅(qū)動芯片，所述驅(qū)動芯片用于為待測顯示器件提供顯示控制信號，并控制所述待測顯示器件的顯示內(nèi)容及刷新頻率。

13、再一方面，本發(fā)明還提出了一種顯示器件測試方法，包括：

14、通過電源監(jiān)測模塊為所述待測顯示器件提供電源電流，并獲取所述待測顯示器件的電流參數(shù)，并將所述電流參數(shù)發(fā)送至所述測試模塊；

15、通過顯示器件測試裝置對所述待測顯示器件進(jìn)行測試；

16、通過拍攝模塊拍攝所述待測顯示器件的顯示屏，并將拍攝的照片發(fā)送至測試模塊；

17、通過所述測試模塊對待測顯示器件的故障進(jìn)行識別，以輸出識別結(jié)果。

18、再一方面，本發(fā)明還提供了一種計算設(shè)備，包括：一個或多個處理器；

19、處理器，用于執(zhí)行一個或多個程序；

20、當(dāng)所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執(zhí)行時，實現(xiàn)如上述所述的方法。

21、再一方面，本發(fā)明還提供了一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存有計算機(jī)程序，所述計算機(jī)程序被執(zhí)行時，實現(xiàn)如上述所述的方法。

22、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果為：

23、本發(fā)明提供了一種顯示器件測試裝置，包括：電源電路板和器件插裝電路板；所述器件插裝電路板用于連接待測顯示器件，所述電源電路板用于通過所述器件插裝電路板連接所述待測顯示器件；所述電源電路板，為所述待測顯示器件提供顯示控制信號，以顯示控制信號對所述待測顯示器件進(jìn)行測試，所述器件插裝電路板用于顯示控制參數(shù)。本發(fā)明測試效率高，兼容率高。

技術(shù)特征：

1.一種顯示器件測試裝置，其特征在于，包括：電源電路板和器件插裝電路板；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述電源電路板與器件插裝電路板通信連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述電源電路板安裝有預(yù)設(shè)驅(qū)動程序的驅(qū)動芯片，所述驅(qū)動芯片用于為待測顯示器件提供顯示控制信號，并控制所述待測顯示器件的顯示內(nèi)容及刷新頻率。

4.一種顯示器件測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：電源監(jiān)測模塊、拍攝模塊、測試模塊和顯示器件測試裝置；

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述顯示器件測試裝置，包括：電源電路板和器件插裝電路板；

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述電源電路板與器件插裝電路板通信連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述電源電路板安裝有預(yù)設(shè)驅(qū)動程序的驅(qū)動芯片，所述驅(qū)動芯片用于為待測顯示器件提供顯示控制信號，并控制所述待測顯示器件的顯示內(nèi)容及刷新頻率。

8.一種使用如權(quán)利要求4-7中的任意一種系統(tǒng)的顯示器件測試方法，其特征在于，包括：

9.一種計算機(jī)設(shè)備，其特征在于，包括：

10.一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，其上存有計算機(jī)程序，所述計算機(jī)程序被執(zhí)行時，實現(xiàn)如權(quán)利要求8所述的方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種顯示器件測試裝置、系統(tǒng)、方法、設(shè)備及介質(zhì)，屬于半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明裝置，包括：電源電路板和器件插裝電路板；所述器件插裝電路板用于連接待測顯示器件，所述電源電路板用于通過所述器件插裝電路板連接所述待測顯示器件；所述電源電路板，為所述待測顯示器件提供顯示控制信號，以顯示控制信號對所述待測顯示器件進(jìn)行測試，所述器件插裝電路板用于顯示控制參數(shù)。本發(fā)明測試效率高，兼容率高。

技術(shù)研發(fā)人員：高天予,熊素琴,鄒和平,李求洋,李揚(yáng),成達(dá),李甲祎,鄭安剛,李龍濤,許佳佳,楊巍,陳思禹,王雅濤,趙越,秦程林,趙立濤,郭建寧,李禹凡,謝思博,譚琛
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國電力科學(xué)研究院有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/9