顯示設(shè)備的顯示不均勻檢測(cè)方法以及其裝置制造方法
【專利摘要】以更高的精度檢測(cè)顯示設(shè)備的顯示不均勻。對(duì)從CCD照相機(jī)(5)獲取到的液晶面板顯示器(3)的顯示圖像的輸出圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行尋址，獲取液晶面板顯示器(3)的各像素的像素值，來獲取各微分像素值。而且，將各像素的微分像素值與不均勻判斷閾值進(jìn)行比較，檢測(cè)微分像素值超過不均勻判斷閾值的相鄰像素群作為顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域。接著，按照各顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域來計(jì)算顯示不均勻的強(qiáng)度，將其值與不均勻強(qiáng)度閾值進(jìn)行比較，在超過不均勻強(qiáng)度閾值的情況下，最終將其產(chǎn)生區(qū)域檢測(cè)為顯示不均勻。由此，能夠一次性地檢測(cè)出作為顯示不均勻的候選的區(qū)域，根據(jù)顯示不均勻的強(qiáng)度值的高度來鎖定檢測(cè)出的區(qū)域，最終檢測(cè)出在視覺上也明顯被識(shí)別為顯示不均勻的顯示不均勻。由此，與根據(jù)輸出圖像數(shù)據(jù)與輸入圖像數(shù)據(jù)的差分來獲取各像素的微分像素值相比，能夠以更高的精度檢測(cè)液晶面板顯示器(3)的顯示不均勻。
【專利說明】顯示設(shè)備的顯示不均勻檢測(cè)方法以及其裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種對(duì)顯示設(shè)備的顯示不均勻進(jìn)行檢測(cè)的方法以及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 通過對(duì)顯示設(shè)備所顯示的圖像進(jìn)行拍攝并將拍攝到的圖像數(shù)據(jù)與顯示用的圖像 數(shù)據(jù)進(jìn)行比較來檢測(cè)顯示設(shè)備的顯示不均勻這一技術(shù)，在通過利用基于該技術(shù)推算出的校 正內(nèi)容校正顯示用的圖像數(shù)據(jù)來消除顯示不均勻上是有用的。在日本專利局公開專利公報(bào) 特開2010-57149號(hào)公報(bào)、特開2005-150349號(hào)公報(bào)中公開了相關(guān)聯(lián)的技術(shù)。
[0003] 專利文獻(xiàn)1 :日本特開2010-57149號(hào)公報(bào)
[0004] 專利文獻(xiàn)2 :日本特開2005-150349號(hào)公報(bào)
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005] 發(fā)明要解決的問是頁
[0006] 在檢測(cè)顯示設(shè)備的顯示不均勻上，本發(fā)明人為了實(shí)現(xiàn)檢測(cè)精度的進(jìn)一步提高，研 究了對(duì)顯示設(shè)備所顯示的圖像進(jìn)行拍攝而得到的圖像數(shù)據(jù)的具體分析方法。在該過程中， 弄清楚了圖像數(shù)據(jù)的具體的分析方法會(huì)對(duì)顯示不均勻的檢測(cè)精度帶來影響。本發(fā)明是鑒于 上述問題而完成的，本發(fā)明的目的在于提供一種以更高的精度檢測(cè)顯示設(shè)備的顯示不均勻 的方法以及裝置。
[0007] 用于解決問題的方案
[0008] 本發(fā)明的一個(gè)方式是一種顯示設(shè)備的顯示不均勻檢測(cè)方法，包括以下步驟：
[0009] 像素值獲取步驟，根據(jù)對(duì)顯示設(shè)備所顯示的圖像進(jìn)行拍攝而得到的輸出圖像數(shù) 據(jù)，來獲取上述顯示設(shè)備的各像素的像素值；
[0010] 微分步驟，獲取上述顯示設(shè)備的各像素的微分像素值；
[0011] 不均勻區(qū)域檢測(cè)步驟，根據(jù)上述顯示設(shè)備的上述微分像素值超過規(guī)定的不均勻判 斷閾值的像素的分布，來檢測(cè)上述顯示設(shè)備中的上述顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域；
[0012] 強(qiáng)度值獲取步驟，根據(jù)屬于上述產(chǎn)生區(qū)域的各像素的上述像素值或者上述微分像 素值，來獲取上述產(chǎn)生區(qū)域的顯示不均勻強(qiáng)度值；以及
[0013] 顯示不均勻檢測(cè)步驟，檢測(cè)上述強(qiáng)度值超過規(guī)定的不均勻強(qiáng)度閾值的上述產(chǎn)生區(qū) 域作為上述顯示不均勻。
[0014] 另外，本發(fā)明的另一個(gè)方式是一種顯示設(shè)備的顯示不均勻檢測(cè)裝置，具備：
[0015] 像素值獲取單元，其將對(duì)顯示設(shè)備所顯示的圖像拍攝而得到的輸出圖像數(shù)據(jù)的各 像素值分配到上述顯示設(shè)備的各像素，來獲取上述顯示設(shè)備的各像素的像素值；
[0016] 微分單元，其獲取上述顯示設(shè)備的各像素的微分像素值；
[0017] 像素值比較單元，其將上述顯示設(shè)備的各像素的上述微分像素值與規(guī)定的不均勻 判斷閾值進(jìn)行比較；
[0018] 不均勻區(qū)域檢測(cè)單元，其根據(jù)上述微分像素值超過上述不均勻判斷閾值的像素的 分布，來檢測(cè)上述顯示設(shè)備中的上述顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域；
[0019] 強(qiáng)度值獲取單元，其根據(jù)屬于上述產(chǎn)生區(qū)域的各像素的上述像素值或者上述微分 像素值，來獲取上述產(chǎn)生區(qū)域的顯示不均勻強(qiáng)度值；
[0020] 強(qiáng)度值比較單元，其將上述強(qiáng)度值與規(guī)定的不均勻強(qiáng)度閾值進(jìn)行比較；以及
[0021] 顯示不均勻檢測(cè)單元，其檢測(cè)上述強(qiáng)度值超過規(guī)定的不均勻強(qiáng)度閾值的上述產(chǎn)生 區(qū)域作為上述顯示不均勻。
[0022] 發(fā)明的效果
[0023] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方式，首先根據(jù)微分像素值超過不均勻判斷閾值的像素的分布 來檢測(cè)顯示設(shè)備的不均勻的產(chǎn)生區(qū)域。而且，將根據(jù)各產(chǎn)生區(qū)域的像素值或者微分像素值 獲取到的各產(chǎn)生區(qū)域的顯示不均勻強(qiáng)度值超過不均勻強(qiáng)度閾值的產(chǎn)生區(qū)域最終檢測(cè)為顯 示不均勻。因此，首先，將作為顯示不均勻的候選的區(qū)域一次檢測(cè)為顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū) 域。而且，以顯示不均勻的強(qiáng)度值的高度來鎖定檢測(cè)出的產(chǎn)生區(qū)域，由此最終檢測(cè)出在視覺 上被識(shí)別為不均勻的顯示不均勻。因此，與根據(jù)微分像素值的分布來簡單地檢測(cè)顯示不均 勻相比，能夠以更高的精度檢測(cè)顯示設(shè)備的顯示不均勻。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0024] 圖1是表示使用本發(fā)明的第一實(shí)施方式所涉及的顯示不均勻檢測(cè)裝置來檢測(cè)顯 示設(shè)備的顯示不均勻的狀態(tài)的說明圖。
[0025] 圖2是表示圖1的顯示不均勻檢測(cè)裝置所進(jìn)行的顯示不均勻檢測(cè)過程的流程圖。
[0026] 圖3是表示圖2的微分處理的具體的過程的流程圖。
[0027] 圖4是針對(duì)液晶面板顯示器的左邊附近區(qū)域的像素表示圖3的積分處理中的積分 像素值的獲取原理的說明圖。
[0028] 圖5是針對(duì)液晶面板顯示器的上邊附近區(qū)域的像素表示圖3的積分處理中的積分 像素值的獲取原理的說明圖。
[0029] 圖6是針對(duì)液晶面板顯示器的左上角附近區(qū)域的像素中表示圖3的積分處理中的 積分像素值的獲取原理的說明圖。
[0030] 圖7是表示圖2的微分處理的具體的過程的流程圖。
[0031] 圖8是表不圖7的強(qiáng)調(diào)處理的原理的說明圖。
[0032] 圖9的（a)、（b)是局部示出圖1的液晶面板顯示器的微分處理前的輸出圖像數(shù)據(jù) 的影像和各像素值的說明圖。
[0033] 圖10的（a)、（b)是局部示出圖1的液晶面板顯示器的微分處理后的輸出圖像數(shù) 據(jù)的影像和各像素值的說明圖。
[0034] 圖11是表示對(duì)圖10的（b)示出的微分像素值超過不均勻判斷閾值的像素附加了 標(biāo)簽值的狀態(tài)的說明圖。
[0035] 圖12是表示求出SEMU值所需的顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域中的前景（FG)與背景 (BG)的位置關(guān)系的說明圖。
[0036] 圖13是表示利用圖1的顯示不均勻檢測(cè)裝置對(duì)顯示不均勻的檢測(cè)結(jié)果的液晶面 板顯示器的檢查過程的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0037] 下面，說明應(yīng)用了本發(fā)明的顯示不均勻檢測(cè)方法的顯示不均勻檢測(cè)裝置的實(shí)施方 式。本發(fā)明的顯示不均勻檢測(cè)裝置可以以安裝到顯示設(shè)備的制造工序中的檢查線（未圖 示）等的聯(lián)機(jī)形式構(gòu)成，也可以以從檢查線等斷開而獨(dú)立的單機(jī)形式構(gòu)成。
[0038] 另外，作為能夠由本發(fā)明的顯示不均勻檢測(cè)裝置檢測(cè)顯示不均勻的顯示設(shè)備，例 如存在液晶面板顯示器、等離子體面板顯示器、有機(jī)EL顯示器等。在以下實(shí)施方式中，以顯 示設(shè)備是液晶面板顯示器為例進(jìn)行說明。
[0039] 如圖1所示，本實(shí)施方式的顯示不均勻檢測(cè)裝置1以單機(jī)形式構(gòu)成，根據(jù)使用(XD 照相機(jī)5對(duì)液晶面板顯示器3 (相當(dāng)于顯示設(shè)備）所顯示的測(cè)試圖案等圖像進(jìn)行拍攝而得 到的輸出圖像數(shù)據(jù)，來檢測(cè)液晶面板顯示器3的顯示不均勻。如果在處理能力上沒有障礙， 則顯示不均勻檢測(cè)裝置1例如能夠由個(gè)人計(jì)算機(jī)等構(gòu)成。
[0040] 顯示不均勻檢測(cè)裝置1具有CPU (中央處理裝置）、RAM (隨機(jī)存取存儲(chǔ)器）、ROM (只 讀存儲(chǔ)器）、硬盤等。CPU通過執(zhí)行存儲(chǔ)于ROM或者硬盤的程序，來執(zhí)行液晶面板顯示器3 的顯示不均勻的檢測(cè)處理。
[0041] 如圖2所示，顯示不均勻檢測(cè)裝置1所進(jìn)行的液晶面板顯示器3的顯示不均勻的 檢測(cè)處理包括輸出圖像數(shù)據(jù)獲取處理（步驟S1)、尋址和莫爾條紋去除處理（步驟S3)、微 分處理（步驟S5)、微分閾值判斷（一次閾值判斷、二值化）處理（步驟S7)、不均勻強(qiáng)度計(jì) 算處理（步驟S9)、不均勻強(qiáng)度閾值判斷（二次閾值判斷）處理（步驟S11)以及結(jié)果輸出 處理（步驟S13)。
[0042] 在步驟S1的輸出圖像數(shù)據(jù)獲取處理中，例如使液晶面板顯示器3根據(jù)從顯示不均 勻檢測(cè)裝置1提供給液晶面板顯示器3的輸入圖像數(shù)據(jù)來顯示測(cè)試圖案等圖像，顯示不均 勻檢測(cè)裝置1獲取拍攝其顯示畫面所得到的來自（XD照相機(jī)5的影像信號(hào)作為液晶面板顯 示器3的輸出圖像數(shù)據(jù)。
[0043] 在此，在液晶面板顯示器3中產(chǎn)生的顯示不均勻中存在亮度不均勻和顏色不均 勻，在本實(shí)施方式的顯示不均勻檢測(cè)裝置1中，對(duì)亮度不均勻和顏色不均勻均能夠進(jìn)行檢 測(cè)。因此，在液晶面板顯示器3中適當(dāng)?shù)馗淖僐GB值圖案，來顯示適合于檢測(cè)亮度不均勻的 圖像、適合于檢測(cè)顏色不均勻的圖像。而且，顯示不均勻檢測(cè)裝置1對(duì)各圖像進(jìn)行基于以下 過程的顯示不均勻的檢測(cè)動(dòng)作。
[0044] 在步驟S3的尋址處理中，將(XD照相機(jī)5的C⑶傳感器的各像素分配到液晶面板 顯示器3的各像素，來根據(jù)構(gòu)成輸出圖像數(shù)據(jù)的CCD傳感器的各像素的像素值來推算出液 晶面板顯示器3的各像素的像素值。
[0045] 此外，在顯示設(shè)備為有機(jī)EL面板顯示器、等離子體面板顯示器的情況下，也將一 個(gè)發(fā)光元件作為一個(gè)像素來進(jìn)行尋址處理。
[0046] 另外，液晶面板顯示器3和C⑶傳感器分別具有將像素配置成矩陣狀的格子圖案。 而且，(XD照相機(jī)5具有比液晶面板顯示器3多的像素，因此由（XD照相機(jī)5的多個(gè)像素接 收來自液晶面板顯示器3的一個(gè)像素的圖像光。因此，液晶面板顯示器3的各像素的像素 值例如由與該像素對(duì)應(yīng)的CCD照相機(jī)5的多個(gè)像素中像素值最高的像素來決定。
[0047] 此時(shí)，如果(XD照相機(jī)5具有液晶面板顯示器3的整數(shù)倍的像素，則(XD照相機(jī)5 的像素周期與液晶面板顯示器3的像素周期之間不產(chǎn)生相位差。因此，在液晶面板顯示器3 的各像素以相同的像素值發(fā)光的情況下，與各像素對(duì)應(yīng)的CCD照相機(jī)5的像素中像素值最 高的像素成為相互相同的像素值。因而，在對(duì)液晶面板顯示器3的顯示圖像進(jìn)行拍攝所得 到的CCD照相機(jī)5的攝影圖像中不產(chǎn)生莫爾條紋。
[0048] 但是，當(dāng)(XD照相機(jī)5具有并非液晶面板顯示器3的整數(shù)倍的數(shù)量的像素時(shí)，（XD 照相機(jī)5的像素周期與液晶面板顯示器3的像素周期之間產(chǎn)生相位差。因此，在液晶面板 顯示器3的各像素以相同的像素值發(fā)光的情況下，與各像素對(duì)應(yīng)的CCD照相機(jī)5的像素中 像素值最高的像素也不成為相互相同的像素值。由于該原因引起在對(duì)液晶面板顯示器3的 顯示圖像進(jìn)行拍攝所得到的CCD照相機(jī)5的攝影圖像中產(chǎn)生莫爾條紋。
[0049] 當(dāng)在包含該莫爾條紋的狀態(tài)下直接將來自CCD照相機(jī)5的輸出圖像數(shù)據(jù)用于液晶 面板顯示器3的顯示不均勻的檢測(cè)時(shí)，有可能導(dǎo)致顯示不均勻的誤檢測(cè)。
[0050] 因此，在步驟S3中，與尋址處理一起進(jìn)行莫爾條紋去除處理。在莫爾條紋去除處 理中，例如本 申請(qǐng)人:使用在日本特開2004-317329號(hào)公報(bào)所涉及的申請(qǐng)中提出的使CCD傳 感器的各像素與其周邊像素的像素值進(jìn)行相加或者平均化的方法，來去除輸出圖像數(shù)據(jù)中 的莫爾條紋成分。
[0051] 此外，在顯示設(shè)備為有機(jī)EL面板顯示器、等離子體面板顯示器的情況下，發(fā)光元 件也被配置成矩陣狀的格子圖案，因此將同樣的莫爾條紋去除處理與尋址處理一起進(jìn)行是 有效的。但是，莫爾條紋去除處理并不是必須的，在檢測(cè)顯示不均勻時(shí)產(chǎn)生的莫爾條紋是不 造成障礙的程度的情況下等，也可以省略莫爾條紋去除處理。
[0052] 在步驟S5的微分處理中，對(duì)在步驟S3中進(jìn)行了尋址處理和莫爾條紋去除處理之 后的液晶面板顯示器3的各像素的像素值進(jìn)行微分，來獲取微分像素值。也可以通過用于 求出對(duì)象像素與其周邊像素的像素值的差分的一般的微分處理來求出該微分像素值。
[0053] 但是，在本實(shí)施方式中，在步驟S5的微分處理中，如圖3所示，進(jìn)行液晶面板顯示 器3的各像素的像素值的強(qiáng)調(diào)處理（步驟S51)、積分處理（步驟S51)以及液晶面板顯示器 3的各像素的像素值與積分像素值的差分處理（步驟S53)。
[0054] 在步驟S51的積分處理中，使用空間濾波器在圖2的步驟S3中進(jìn)行尋址處理和莫 爾條紋去除處理之后的液晶面板顯示器3的各像素的像素值與周邊像素的像素值進(jìn)行平 均化來進(jìn)行積分，從而獲取積分像素值。
[0055] 在此使用的空間濾波器需要具有覆蓋液晶面板顯示器3所能產(chǎn)生的顯示不均勻 的矩陣形狀。因此，空間濾波器具有與液晶面板顯示器3所能產(chǎn)生的顯示不均勻?qū)?yīng)的內(nèi) 核尺寸。例如，如果顯示不均勻有可能具有最大為液晶面板顯示器3的100 X 100像素量的 大小，則將使用于積分的空間濾波器也設(shè)為100X100的內(nèi)核尺寸。順便說一下，各內(nèi)核的 值為"1"，系數(shù)為內(nèi)核數(shù)的倒數(shù)（=ΙΛΙΟΟΧΙΟΟ))。
[0056] 此外，在使用空間濾波器來進(jìn)行步驟S51的積分處理時(shí)，當(dāng)用于積分的對(duì)象像素 (積分像素值的獲取對(duì)象像素）接近液晶面板顯示器3的上下左右的外周邊中的任一個(gè)時(shí)， 空間濾波器的一部分內(nèi)核列溢出到液晶面板顯示器3的外側(cè)。
[0057] 在此，參照?qǐng)D4和圖5,以使用積分用的空間濾波器40(與顯示設(shè)備的顯示不均勻 的形狀和大小對(duì)應(yīng)的內(nèi)核尺寸的空間濾波器）對(duì)液晶面板顯示器3的各像素的像素值進(jìn)行 積分的情況為例來進(jìn)行說明。此外，在此說明的例子中，如圖4的最右方、圖5的最下方分 別表示的樣品那樣，示意性地將空間濾波器40的內(nèi)核尺寸設(shè)為7X 7。該空間濾波器40將 各內(nèi)核值設(shè)為"1"，將各內(nèi)核的系數(shù)設(shè)為全部內(nèi)核數(shù)的倒數(shù)（=1Λ7Χ7))。
[0058] 首先，在圖4中，示出空間濾波器40相對(duì)于液晶面板顯示器3的左邊31的位置關(guān) 系與有效內(nèi)核列之間的關(guān)系。在本例中，在通過空間濾波器40對(duì)從左邊31起至第三個(gè)像 素為止的像素進(jìn)行積分時(shí)（參照?qǐng)D4的從上方起至第三個(gè)為止的例子），空間濾波器40的 左側(cè)的內(nèi)核列（1列?3列）越過液晶面板顯示器3的左邊31而溢出到外側(cè)。
[0059] 在溢出到液晶面板顯示器3的外側(cè)的內(nèi)核列中不存在對(duì)應(yīng)的像素列，因此在積分 處理時(shí)需要使該內(nèi)核列無效。因此，將溢出到左邊31的外側(cè)的空間濾波器40的內(nèi)核列的 內(nèi)核設(shè)為無效（內(nèi)核值="〇"）。
[0060] 另外，在通過空間濾波器40對(duì)從左邊31起第四個(gè)像素以后的像素進(jìn)行積分時(shí) (參照?qǐng)D4的從上方起第四個(gè)以后的例子），空間濾波器40整體處于液晶面板顯示器3的 內(nèi)側(cè)。在該情況下，與全部內(nèi)核對(duì)應(yīng)的像素分別存在，因此原則上不需要設(shè)為無效的內(nèi)核 (列）。
[0061] 此外，使用將圖4進(jìn)行左右反轉(zhuǎn)得到的內(nèi)容的空間濾波器40對(duì)存在于液晶面板顯 示器3的右邊的附近區(qū)域內(nèi)的積分對(duì)象像素進(jìn)行積分處理即可。
[0062] 如圖5所示，在空間濾波器40接近液晶面板顯示器3的上邊35的情況下，也能夠 同樣地進(jìn)行動(dòng)作。即，在積分對(duì)象像素處于從上邊35起至第三個(gè)像素為止的情況下（參照 圖5的從右方起至第三個(gè)為止的例子），空間濾波器40的上側(cè)的內(nèi)核列（1列?3列越過液 晶面板顯示器3的上邊35而溢出到外側(cè)。因此，將溢出到上邊35的外側(cè)的空間濾波器40 的內(nèi)核列的內(nèi)核設(shè)為無效（內(nèi)核值="〇"）。
[0063] 另外，在積分對(duì)象像素為從上邊35起第四個(gè)像素以后的情況下（參照?qǐng)D5的從右 方起第四個(gè)?最左側(cè)的例子），空間濾波器40整體處于液晶面板顯示器3的內(nèi)側(cè)，因此原則 上不需要在空間濾波器40中設(shè)定設(shè)為無效的內(nèi)核（列）。
[0064] 此外，使用將圖5進(jìn)行上下反轉(zhuǎn)得到的內(nèi)容的空間濾波器40對(duì)存在于液晶面板顯 示器3的下邊的附近區(qū)域內(nèi)的積分對(duì)象像素進(jìn)行積分處理即可。
[0065] 另外，在使用背光燈的液晶面板顯示器3中，特別是在畫面的外周緣部配置光源 并使用導(dǎo)光板導(dǎo)光到畫面中央的情況下，由于光在導(dǎo)光板中衰減，而容易產(chǎn)生畫面中央的 亮度與畫面的外周邊附近的亮度相比相對(duì)低的暗斑。在等離子體面板顯示器、有機(jī)EL面板 顯示器等不使用背光燈的顯示設(shè)備中也會(huì)產(chǎn)生該暗斑。
[0066] 因此，在本實(shí)施方式中，在積分對(duì)象像素處于液晶面板顯示器3的外周邊的近旁 時(shí)，使空間濾波器40具有與近旁的邊的延伸方向相同的方向的方向性，降低與該邊的延伸 方向正交的方向的靈敏度，來對(duì)積分像素值進(jìn)行暗斑校正。
[0067] 例如設(shè)為在圖4示出的液晶面板顯示器3的左邊31附近，在從左邊31起至靈敏 度校正線32為止的整個(gè)七個(gè)像素寬度的左邊31的附近區(qū)域33中容易產(chǎn)生暗斑。在該情 況下，在由空間濾波器40進(jìn)行積分的對(duì)象像素存在于附近區(qū)域33內(nèi)時(shí)，使空間濾波器40 具有向左邊31的延伸方向的方向性。而且，將與左邊31正交的方向（橫向）的有效的內(nèi) 核列原則上設(shè)為3列，將內(nèi)核尺寸設(shè)為縱X橫=7X3。
[0068] 但是，在圖4的最上方的例子中，疊加在空間濾波器40的中央積分對(duì)象像素的左 側(cè)相鄰的像素上的想要設(shè)為有效的內(nèi)核列從空間濾波器40的左邊31向外側(cè)溢出，因此，例 外地，將有效的內(nèi)核尺寸設(shè)為縱X橫=7X2。
[0069] 同樣地，設(shè)為在圖5示出的液晶面板顯示器3的上邊35附近，在從上邊35起至靈 敏度校正線36為止的整個(gè)七個(gè)像素寬度的上邊35的附近區(qū)域37中容易產(chǎn)生暗斑。在該 情況下，在由空間濾波器40進(jìn)行積分的對(duì)象像素存在于附近區(qū)域37內(nèi)時(shí)，使空間濾波器40 具有向上邊35的延伸方向的方向性。而且，將與上邊35正交的方向（縱向）的有效的內(nèi) 核列原則上設(shè)為3列，將內(nèi)核尺寸設(shè)為縱X橫=3X7。
[0070] 但是，在圖5的最右方的例子中，疊加在積分對(duì)象像素的上側(cè)相鄰的像素上的想 要設(shè)為有效的內(nèi)核列從空間濾波器40的上邊35向外側(cè)溢出，因此，例外地，將有效的內(nèi)核 尺寸設(shè)為縱X橫=2X7。
[0071] 另外，在從液晶面板顯示器3的右邊起至靈敏度校正線（未圖示）為止的整個(gè)七 個(gè)像素寬度的存在于右邊的附近區(qū)域內(nèi)的積分對(duì)象像素中容易產(chǎn)生暗斑的情況下，使用將 圖4進(jìn)行左右反轉(zhuǎn)所得到的內(nèi)容的空間濾波器40來進(jìn)行積分處理即可。同樣地，在從液晶 面板顯示器3的下邊起至靈敏度校正線（未圖示）為止的整個(gè)七個(gè)像素寬度的存在于下邊 的附近區(qū)域內(nèi)的積分對(duì)象像素中容易產(chǎn)生暗斑的情況下，使用將圖5進(jìn)行上下反轉(zhuǎn)所得到 的內(nèi)容的空間濾波器40來進(jìn)行積分處理即可。
[0072] 這樣，對(duì)于液晶面板顯示器3的外周邊附近的積分對(duì)象像素，能夠通過使用具有 向接近所使用的空間濾波器40的邊的延伸方向的方向性、并將有效的內(nèi)核尺寸設(shè)為縱X 橫=7 X 2或者2 X 7、7 X 3或者3 X 7的空間濾波器40，來在對(duì)積分對(duì)象像素的像素值進(jìn)行 積分的同時(shí)進(jìn)行暗斑校正。
[0073] 此外，在積分對(duì)象像素存在于比靈敏度校正線32、36更靠液晶面板顯示器3的內(nèi) 側(cè)時(shí)，原則上能夠?qū)⒂糜谠撓袼氐姆e分的空間濾波器40的有效的內(nèi)核尺寸設(shè)為7X7。但 是，正當(dāng)積分對(duì)象像素從附近區(qū)域33、37內(nèi)越過靈敏度校正線32、36而移到液晶面板顯示 器3的內(nèi)側(cè)的時(shí)候，空間濾波器40的有效的內(nèi)核尺寸從縱X橫=7 X 3或者3 X 7變?yōu)? X 7 時(shí)，積分特性急劇變化，因此并非優(yōu)選。
[0074] 因此，也可以在比附近區(qū)域33、37更靠內(nèi)側(cè)的積分對(duì)象像素處于靈敏度校正線 32、36附近的時(shí)候，隨著遠(yuǎn)離附近區(qū)域33、37,使空間濾波器40的有效的內(nèi)核尺寸慢慢變化 為縱X橫=7X5或者5X7、7X7。
[0075] 另外，上述縱X橫=7X7的內(nèi)核尺寸始終是說明上的一例，空間濾波器的內(nèi)核尺 寸只要是與液晶面板顯示器3所能產(chǎn)生的顯示不均勻?qū)?yīng)的尺寸，則是任意的。而且，關(guān)于 在接近液晶面板顯示器3的外周邊的積分對(duì)象像素的積分中使用的空間濾波器，如圖4和 圖5不出的空間濾波器40那樣，將與近旁的邊的延伸方向正交的方向的有效內(nèi)核列數(shù)設(shè)為 可變，使靈敏度具有方向性。
[0076] 例如，在空間濾波器具有15X15的內(nèi)核尺寸的情況下，隨著積分對(duì)象像素遠(yuǎn)離附 近區(qū)域33、37,能夠使空間濾波器的有效內(nèi)核尺寸從縱X橫=15X3或者3X15起經(jīng)由 多個(gè)階段依次變化為15X5或者5X15、15X7或者7X15、15X9或者9X15、15X11或者 11X15、15X13 或者 13X15、15X15。
[0077] 此外，在不需要考慮上述暗斑校正的情況下，也可以如圖4和圖5示出的空間濾波 器40那樣，使與設(shè)為無效內(nèi)核的液晶面板顯示器3的外周邊側(cè)的內(nèi)核列相同或者接近該內(nèi) 核列的列數(shù)的內(nèi)核在液晶面板顯示器3的中央側(cè)的內(nèi)核列中也無效化。如果設(shè)為這樣結(jié) 構(gòu)，則能夠使與液晶面板顯示器3的左邊31、上邊35 (或者右邊、下邊）正交的方向上的空 間濾波器40的方向性（靈敏度）對(duì)于積分對(duì)象像素均等。即，在不需要考慮暗斑校正時(shí)， 在液晶面板顯示器3的中央側(cè)是否也設(shè)定無效的內(nèi)核列是任意的。
[0078] 另外，例如圖6所示，在液晶面板顯示器3的四角中，左邊31和上邊35的兩個(gè)附近 區(qū)域33、37重疊。因此，在附近區(qū)域33、37重疊的區(qū)域39內(nèi)存在積分對(duì)象像素時(shí)，合計(jì)使 用圖4和圖5示出的空間濾波器40分別無效化的內(nèi)核列，并將空間濾波器40的左右和上 下的每個(gè)方向的2?3列的內(nèi)核設(shè)為無效即可。在該情況下，也在不需要考慮暗斑校正時(shí)， 是否在液晶面板顯示器3的中央側(cè)也在縱向和橫向上分別設(shè)定無效的內(nèi)核列是任意的。
[0079] 另外，在液晶面板顯示器3的顯示不均勻中，既存在縱橫兩個(gè)方向上分別具有某 種程度的尺寸的顯示不均勻，也存在縱向或者橫向的尺寸小的線狀的不均勻。與在縱橫兩 個(gè)方向上具有某種程度的尺寸的顯示不均勻相比，線狀不均勻的不均勻范圍（面積）小，因 此當(dāng)進(jìn)行積分處理時(shí)被周邊像素的像素值拖拉而積分像素值變低，存在難以被檢測(cè)為顯示 不均勻的趨勢(shì)。
[0080] 因此，也可以在對(duì)縱向或者橫向上尺寸小的線狀不均勻進(jìn)行檢測(cè)時(shí)進(jìn)行的圖2的 步驟S5的微分處理中，如圖7所示，在同樣地執(zhí)行圖3的步驟S51的積分處理和步驟S53 的差分處理之前，作為預(yù)處理而進(jìn)行強(qiáng)調(diào)處理（步驟S50)。
[0081] 在步驟S50的強(qiáng)調(diào)處理中，使縱向或者橫向的線狀不均勻的像素值在線狀不均勻 的延伸方向上平均化而降低噪聲成分。圖8示出對(duì)在縱向上延伸的線狀不均勻進(jìn)行強(qiáng)調(diào)處 理的情況。在該情況下，使用與線狀不均勻相同地在縱向上具有方向性（排列了有效內(nèi)核） 的強(qiáng)調(diào)處理用的空間濾波器50(強(qiáng)調(diào)用空間濾波器）。該空間濾波器50在ηΧη的內(nèi)核尺 寸中僅將其橫向中央的縱1列設(shè)為有效內(nèi)核（內(nèi)核值= "1"），將其它設(shè)為無效內(nèi)核（內(nèi)核 值="〇"）。有效內(nèi)核的系數(shù)為有效內(nèi)核數(shù)11的倒數(shù)（=1/11)。此外，在圖8中示出11 = 9 的情況。
[0082] 在使用了該空間濾波器50的圖7的步驟S50中的線狀不均勻的強(qiáng)調(diào)處理中，線狀 不均勻部分的像素值與跟縱向的有效內(nèi)核數(shù)η相同的周邊像素的像素值進(jìn)行平均化。由 此，使線狀不均勻的縱向的邊界明確化，容易被檢測(cè)為顯示不均勻。
[0083] 此外，在橫向上延伸的線狀不均勻的強(qiáng)調(diào)處理中，使用在橫向上具有方向性的強(qiáng) 調(diào)處理用的空間濾波器（未圖示）即可。另外，對(duì)于點(diǎn)狀地密集的點(diǎn)狀缺陷，通過進(jìn)行該強(qiáng) 調(diào)處理使像素值與周邊像素的像素值相匹配地下降，因此難以被誤檢測(cè)為顯示不均勻。
[0084] 在進(jìn)行上述說明的步驟S50的強(qiáng)調(diào)處理的情況下，使用強(qiáng)調(diào)處理后的液晶面板顯 示器3的各像素的像素值來進(jìn)行圖7的步驟S51的積分處理，從而獲取積分像素值。也可 以在進(jìn)行該積分處理時(shí)，如參照?qǐng)D4和圖5說明的那樣，根據(jù)積分對(duì)象像素與液晶面板顯示 器3的外周邊的位置關(guān)系使空間濾波器50的一部分內(nèi)核列無效化。
[0085] 接著，在圖3、圖7的步驟S53的差分處理中，求出進(jìn)行步驟S51的積分處理之前的 液晶面板顯示器3的各像素的像素值與步驟S51的積分處理后的積分像素值的差分，獲取 該差分作為液晶面板顯示器3的各像素的微分像素值。如上所述，結(jié)束圖2的步驟S5的微 分處理。
[0086] 此外，圖3的步驟S51的旁邊示出的兩個(gè)圖表示出步驟S51的積分處理前和處理 后的液晶面板顯示器3的某個(gè)橫向的一行中的像素值分布。將這兩個(gè)圖表進(jìn)行比較后，可 知當(dāng)進(jìn)行圖3、圖7的步驟S51的積分處理時(shí)，提取液晶面板顯示器3的像素值變化的低頻 成分。在液晶面板顯示器3的像素整體發(fā)生像素值的偏移的情況下，提取出的低頻成分中 包含該偏移量。
[0087] 另外，圖3的步驟S53的旁邊示出的圖表示出步驟S53的差分處理后的液晶面板 顯示器3的某個(gè)橫向的一行中的像素值分布。觀察該圖表后，可知當(dāng)進(jìn)行上述圖3、圖7的 步驟S53的差分處理時(shí)，僅提取從液晶面板顯示器3的像素值變化去除了低頻成分所得到 的高頻成分。在液晶面板顯示器3的像素整體發(fā)生像素值的偏移的情況下，偏移量也作為 低頻成分而被排除。
[0088] 因而，在圖2的步驟S5的微分處理中，通過進(jìn)行上述圖3、圖7的步驟S51、步驟 S53的積分處理、差分處理，與進(jìn)行求出對(duì)象像素與其周邊像素的像素值的差分的一般的微 分處理的情況相比，能夠高精度地檢測(cè)由顯示不均勻引起與周邊像素之間存在像素值的差 距的液晶面板顯示器3的像素的區(qū)域。
[0089] 另外，在圖3的步驟S51的積分處理中，對(duì)在圖2的步驟S3中進(jìn)行了尋址處理和 莫爾條紋去除處理之后的液晶面板顯示器3的各像素的像素值進(jìn)行積分。與此相對(duì)，在圖7 的步驟S51的積分處理中，對(duì)步驟S50的強(qiáng)調(diào)處理之后的液晶面板顯示器3的各像素的像 素值進(jìn)行積分。即，即使是相同的積分處理，用于積分處理的液晶面板顯示器3的各像素的 像素值在圖3的步驟S51的積分處理和圖7的步驟S51的積分處理中也是不同的。
[0090] 因此，在將在縱橫兩個(gè)方向上具有某種程度的尺寸的不均勻以及縱向或者橫向的 線狀不均勻均檢測(cè)為顯示不均勻的情況下，需要分別進(jìn)行基于圖3的過程的微分處理以及 基于圖7的過程的微分處理。在該情況下，串行或者并行地進(jìn)行基于圖3的過程的微分處 理以及基于圖7的過程的微分處理即可。
[0091] 在此，參照?qǐng)D9和圖10來說明圖2的步驟S5的微分處理前后的液晶面板顯示器 3的輸出圖像數(shù)據(jù)的影像和像素值。
[0092] 首先，設(shè)為在圖2的步驟S5的微分處理之前的液晶面板顯示器3的輸出圖像數(shù)據(jù) 中存在圖9的（a)示出的影像的顯示不均勻。此時(shí)的液晶面板顯示器3的對(duì)應(yīng)的像素的像 素值為圖9的（b)那樣的值。此外，為了易于說明，在圖9的（b)中，不使用RGB的各值，而 是使用將表示畫面的濃淡的亮度進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化所得到的值（平均值=100)來表示各像素的 像素值。
[0093] 因此，當(dāng)對(duì)圖9的（b)示出的像素值實(shí)施圖2的步驟S5的微分處理時(shí)，如圖10的 (b)所示，僅像素值高于平均的像素的像素值為1000,其它像素的像素值為0。當(dāng)將該情況 用影像表示時(shí)，如圖10的（a)所示，顯示不均勻與其周邊的對(duì)比度差變得大于圖9的（a) 示出的微分處理之前的對(duì)比度差，顯示不均勻變得清楚。
[0094] 接著，在圖2的步驟S7的微分閾值判斷（一次閾值判斷）處理中，將如圖10的 (b)示出的像素值、即液晶面板顯示器3的各像素的微分像素值與不均勻判斷閾值進(jìn)行比 較來進(jìn)行二值化。不均勻判斷閾值是用于根據(jù)微分像素值來判斷是否為液晶面板顯示器3 的有可能產(chǎn)生顯示不均勻的區(qū)域（顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域）的像素的閾值。
[0095] 而且，如圖11所示，對(duì)微分像素值超過不均勻判斷閾值的像素分配標(biāo)簽值，對(duì)微 分像素值為不均勻判斷閾值以下的像素分配"〇"。標(biāo)簽值是將超過不均勻判斷閾值的像素 鄰接而成的集合體作為一個(gè)顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域來對(duì)各顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域唯一地 附加的值。因而，對(duì)同一顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域內(nèi)的像素分配相同的標(biāo)簽值。此外，對(duì)于標(biāo) 簽值使用"1"以上的整數(shù)。
[0096] 接著，在圖2的步驟S9的不均勻強(qiáng)度計(jì)算處理中，針對(duì)每個(gè)顯示不均勻的產(chǎn)生 區(qū)域計(jì)算顯示不均勻的強(qiáng)度。對(duì)于顯示不均勻的強(qiáng)度，例如能夠使用將由Semiconductor Equipment and Materials International^國際半導(dǎo)體設(shè)備與材料組織）（SEMI，注冊(cè)商 標(biāo)）標(biāo)準(zhǔn)化后的SEMU(SEMI MURA)值。在此，說明SEMU值的計(jì)算方法。
[0097] 在SEMU值的計(jì)算中需要顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域的平均對(duì)比度Cx、顯示不均勻的 產(chǎn)生區(qū)域的面積Sx以及人的感知限度的顯示不均勻的濃度Cjnd。平均對(duì)比度Cx為將顯示 不均勻的產(chǎn)生區(qū)域的周邊像素的亮度設(shè)為100 %的情況下的用百分比表示的顯示不均勻的 產(chǎn)生區(qū)域的亮度（區(qū)域內(nèi)像素的亮度平均值）。用_2表示面積Sx。用顯示不均勻的產(chǎn)生 區(qū)域的面積Sx的函數(shù)F(Sx)來表示感知限度的顯示不均勻的濃度Cjnd。
[0098] 在針對(duì)顯示不均勻的各產(chǎn)生區(qū)域求出上述平均對(duì)比度Cx時(shí)，需要對(duì)各產(chǎn)生區(qū)域 設(shè)定前景（Fore Ground :FG)和背景（Back Ground :BG)。例如在圖9的（a)和圖10的（a) 示出的形狀的顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域的情況下，如圖12所示，顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域成為 FG，從FG隔著兩個(gè)像素的周邊兩個(gè)像素寬度的環(huán)狀區(qū)域成為BG。因此，對(duì)于屬于FG的各像 素和屬于BG的各像素分別求出平均亮度值，設(shè)為FG值和BG值。
[0099] 接著，使用下式（1)，根據(jù)FG值和BG值來求出平均對(duì)比度Cx，
[0100] Cx = (FG 值-BG 值）/BG 值· · ·（1)。
[0101] 另外，使用下式（2)求出感知限度的顯示不均勻的濃度Cjnd，
[0102] Cjnd = F(Sx) = 1. 97X (l/Sx0 33)+0· 72 · · · (2)。
[0103] 然后，使用下式（3)來求出SEMU值，
[0104] SEMU 值=| Cx |/Cjnd · · · (3)。
[0105] 如上所述，在SEMU值的計(jì)算中使用平均對(duì)比度Cx、面積Sx，因此需要獲知顯示不 均勻的產(chǎn)生區(qū)域的正確的形狀。根據(jù)這一點(diǎn)，也可以從根據(jù)SEMU值計(jì)算不均勻強(qiáng)度的對(duì)象 中排除通過進(jìn)行圖7的步驟S50的強(qiáng)調(diào)處理而確定顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域的線狀不均勻。 其理由在于，在線狀不均勻的情況下，被識(shí)別為顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域的形狀由于前級(jí)的 強(qiáng)調(diào)處理有可能從本來的線狀不均勻的形狀發(fā)生一些變化。
[0106] 并且，在圖2的步驟S11的不均勻強(qiáng)度閾值判斷（二次閾值判斷）處理中，將在步 驟S9中計(jì)算出的顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域的不均勻強(qiáng)度的值（SEMU值）與強(qiáng)度閾值進(jìn)行比 較。強(qiáng)度閾值是用于根據(jù)不均勻強(qiáng)度的值來判斷最終檢測(cè)為顯示不均勻的顯示不均勻的產(chǎn) 生區(qū)域的閾值。將該強(qiáng)度閾值設(shè)定為檢測(cè)為顯示不均勻的顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域的最低不 均勻強(qiáng)度值。
[0107] 而且，將不均勻強(qiáng)度值超過強(qiáng)度閾值的顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域檢測(cè)為顯示不均 勻。另一方面，不將不均勻強(qiáng)度值不超過強(qiáng)度閾值的顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域檢測(cè)為顯示不 均勻。檢測(cè)出的顯示不均勻最后在步驟S13的結(jié)果輸出處理中，與液晶面板顯示器3中的 像素位置和不均勻強(qiáng)度值相關(guān)聯(lián)，來作為顯示不均勻的檢測(cè)結(jié)果信息而被輸出到顯示不均 勻檢測(cè)裝置1的外部。
[0108] 以上為顯示不均勻檢測(cè)裝置1所進(jìn)行的液晶面板顯示器3的顯示不均勻檢測(cè)處理 的全部內(nèi)容。而且，在本實(shí)施方式中，圖2的流程圖中的步驟S3成為與權(quán)利要求中的像素 值獲取單元（像素值獲取步驟）對(duì)應(yīng)的處理。另外，在本實(shí)施方式中，圖2中的步驟S5成 為與權(quán)利要求中的微分單元（微分步驟）對(duì)應(yīng)的處理，圖2中的步驟S7成為與權(quán)利要求中 的像素值比較單元和不均勻區(qū)域檢測(cè)單元（區(qū)域檢測(cè)步驟）對(duì)應(yīng)的處理。
[0109] 并且，在本實(shí)施方式中，圖2中的步驟S9成為與強(qiáng)度值獲取單元（強(qiáng)度值獲取步 驟）對(duì)應(yīng)的處理，圖2中的步驟S11成為與權(quán)利要求中的強(qiáng)度值比較單元和顯示不均勻檢 測(cè)單元（顯示不均勻檢測(cè)步驟）對(duì)應(yīng)的處理。
[0110] 另外，在本實(shí)施方式中，圖7的流程圖中的步驟S50成為與權(quán)利要求中的強(qiáng)調(diào)單元 (強(qiáng)調(diào)步驟）對(duì)應(yīng)的處理。并且，在本實(shí)施方式中，圖3和圖7的流程圖中的步驟S51成為 與權(quán)利要求中的積分單元（積分步驟）對(duì)應(yīng)的處理，圖3和圖7中的步驟S53成為與權(quán)利 要求中的差分單元（差分步驟）對(duì)應(yīng)的處理。
[0111] 此外，顯示不均勻檢測(cè)裝置1所輸出的顯示不均勻的檢測(cè)結(jié)果信息例如能夠利用 于液晶面板顯示器3根據(jù)各顯示不均勻的有無、其內(nèi)容而生成存儲(chǔ)保持的消除顯示不均勻 用的針對(duì)輸入圖像數(shù)據(jù)的校正數(shù)據(jù)。特別是，如果將顯示不均勻檢測(cè)裝置1以聯(lián)機(jī)的方式 設(shè)置于液晶面板顯示器3的出廠檢查線等，則能夠使顯示不均勻檢測(cè)工序與前后的工序協(xié) 作。
[0112] 在該情況下，統(tǒng)一管理出廠檢查線的控制器（未圖示）、分別管理線上的各工序的 單元控制器（未圖示，關(guān)于顯示不均勻檢測(cè)工序，顯示不均勻檢測(cè)裝置1相當(dāng)于該單元控制 器）執(zhí)行以下過程。
[0113] 即，如圖13所示，在步驟S101中，進(jìn)行參照?qǐng)D2的流程圖說明的顯示不均勻檢測(cè) 裝置1的顯示不均勻的檢測(cè)處理，接著根據(jù)顯示不均勻檢測(cè)裝置1所輸出的顯示不均勻的 檢測(cè)結(jié)果信息來檢測(cè)是否存在顯示不均勻（步驟S103)。在不存在顯示不均勻的情況下（步 驟S103 :"否"），判斷為合格品，結(jié)束與檢查對(duì)象的液晶面板顯示器3有關(guān)的檢查工序。
[0114] 另一方面，在存在顯示不均勻的情況下（步驟S103 :"是"），將表示顯示不均勻檢 測(cè)裝置1對(duì)于該液晶面板顯示器3檢測(cè)出顯示不均勻的意思的檢查結(jié)果信息的輸出次數(shù)與 設(shè)定次數(shù)進(jìn)行比較（步驟S105)。然后，在輸出次數(shù)超過設(shè)定次數(shù)的情況下（步驟S105: "是"），判斷為次品，結(jié)束與檢查對(duì)象的液晶面板顯示器3有關(guān)的檢查工序。
[0115] 另一方面，在檢測(cè)出顯示不均勻這種檢測(cè)結(jié)果信息的輸出次數(shù)未超過設(shè)定次數(shù)的 情況下（步驟S105 :"否")，進(jìn)行用于消除顯示不均勻檢測(cè)裝置1檢測(cè)出的顯示不均勻的針 對(duì)輸入圖像數(shù)據(jù)的校正數(shù)據(jù)的生成處理（步驟S107)。
[0116] 出廠檢查線的校正數(shù)據(jù)生成單元（未圖示）所具有的單元控制器執(zhí)行校正數(shù)據(jù)的 生成處理。通過單元控制器在內(nèi)置于液晶面板顯示器3的驅(qū)動(dòng)電路的快閃存儲(chǔ)器（未圖 示）中新寫入或者覆蓋更新所生成的校正數(shù)據(jù)。如果該校正數(shù)據(jù)為適當(dāng)?shù)膬?nèi)容，則在將輸 入圖像數(shù)據(jù)輸入到驅(qū)動(dòng)電路時(shí)，利用從快閃存儲(chǔ)器讀出的校正數(shù)據(jù)對(duì)輸入圖像數(shù)據(jù)施加抵 消顯示不均勻的校正，從液晶面板顯示器3的顯示畫面中消除顯示不均勻。
[0117] 然后，在步驟S107的校正數(shù)據(jù)的生成處理之后，再次返回到步驟S101，進(jìn)行參照 圖2的流程圖說明的顯示不均勻檢測(cè)裝置1所進(jìn)行的顯示不均勻的檢測(cè)處理。因而，即使 將顯示不均勻的檢測(cè)處理和液晶面板顯示器3的校正數(shù)據(jù)的更新反復(fù)進(jìn)行設(shè)定次數(shù)，也在 顯示不均勻檢測(cè)裝置1繼續(xù)檢測(cè)出顯示不均勻的情況下，將該液晶面板顯示器3判斷為次 品。
[0118] 如以上說明的那樣，根據(jù)本實(shí)施方式的顯示不均勻檢測(cè)裝置1，在從(XD照相機(jī)5 獲取到的液晶面板顯示器3的顯示圖像的輸出圖像數(shù)據(jù)中獲取液晶面板顯示器3的各像素 的像素值，進(jìn)一步獲取微分像素值，并且與不均勻判斷閾值進(jìn)行比較。然后，將微分像素值 超過不均勻判斷閾值的相鄰像素群首先檢測(cè)為顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域。
[0119] 接著，針對(duì)各顯示不均勻的每個(gè)產(chǎn)生區(qū)域計(jì)算顯示不均勻的強(qiáng)度，將其值與不均 勻強(qiáng)度閾值進(jìn)行比較，在超過不均勻強(qiáng)度閾值的情況下，將該產(chǎn)生區(qū)域最終檢測(cè)為顯示不 均勻。
[0120] 因此，首先，將作為顯示不均勻的候選的區(qū)域一次檢測(cè)為顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域。 然后，以顯示不均勻的強(qiáng)度值的高度來鎖定檢測(cè)出的產(chǎn)生區(qū)域，由此最終檢測(cè)出在視覺上 也能被識(shí)別的清楚的顯示不均勻。因此，與從微分像素值的分布簡單地檢測(cè)顯示不均勻相 t匕，能夠以更高的精度檢測(cè)液晶面板顯示器3的顯示不均勻。
[0121] 此外，也可以省略為了檢測(cè)線狀不均勻而將包含強(qiáng)調(diào)處理的圖7的流程圖的微分 處理與圖3的流程圖的微分處理一起進(jìn)行的結(jié)構(gòu)。另外，也可以省略在圖3、圖7的步驟S51 的積分處理時(shí)如參照?qǐng)D4和圖5說明的那樣根據(jù)積分對(duì)象像素和液晶面板顯示器3的外周 邊的位置關(guān)系使空間濾波器50的一部分內(nèi)核列無效化的結(jié)構(gòu)。并且，也可以以SEMU值以 外的值來評(píng)價(jià)顯示不均勻的強(qiáng)度。
[0122] 然后，如開頭所述，本發(fā)明的顯示不均勻檢測(cè)方法以及應(yīng)用了該方法的顯示不均 勻檢測(cè)裝置除了利用于上述實(shí)施方式中說明的液晶面板顯示器3的顯示不均勻的檢測(cè)以 夕卜，也能夠利用于等離子體面板顯示器、有機(jī)EL顯示器等顯示設(shè)備中的顯示不均勻的檢 測(cè)。
[0123] 產(chǎn)業(yè)h的可利用件
[0124] 在通過圖像處理來檢測(cè)顯示設(shè)備的顯示不均勻時(shí)能夠廣泛應(yīng)用。
[0125] 附圖標(biāo)記說明
[0126] 1 :顯示不均勻檢測(cè)裝置；3 :液晶面板顯示器；5 :(XD照相機(jī)；31 :左邊；32、36 :靈 敏度校正線；33、37 :附近區(qū)域；35 :上邊；39 :區(qū)域；40、50 :空間濾波器。
【權(quán)利要求】
1. 一種顯示設(shè)備的顯示不均勻檢測(cè)方法，包括以下步驟： 像素值獲取步驟，根據(jù)對(duì)顯示設(shè)備所顯示的圖像進(jìn)行拍攝而得到的輸出圖像數(shù)據(jù)，來 獲取上述顯示設(shè)備的各像素的像素值； 微分步驟，獲取上述顯示設(shè)備的各像素的微分像素值； 不均勻區(qū)域檢測(cè)步驟，根據(jù)上述顯示設(shè)備的上述微分像素值超過規(guī)定的不均勻判斷閾 值的像素的分布，來檢測(cè)上述顯示設(shè)備中的顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域； 強(qiáng)度值獲取步驟，根據(jù)屬于上述產(chǎn)生區(qū)域的各像素的上述像素值或者上述微分像素 值，來獲取上述產(chǎn)生區(qū)域的顯示不均勻強(qiáng)度值；以及 顯示不均勻檢測(cè)步驟，檢測(cè)上述強(qiáng)度值超過規(guī)定的不均勻強(qiáng)度閾值的上述產(chǎn)生區(qū)域作 為上述顯示不均勻。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示設(shè)備的顯示不均勻檢測(cè)方法，其特征在于， 還具備強(qiáng)調(diào)步驟，在該強(qiáng)調(diào)步驟中，使用在作為檢測(cè)對(duì)象的上述顯示不均勻的延伸方 向上具有方向性的強(qiáng)調(diào)用空間濾波器，將上述顯示設(shè)備的各像素值與上述延伸方向的周邊 像素的像素值進(jìn)行平均化， 在上述微分步驟中，針對(duì)通過上述強(qiáng)調(diào)步驟進(jìn)行平均化后的上述顯示設(shè)備的各像素的 像素值獲取上述微分像素值。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的顯示設(shè)備的顯示不均勻檢測(cè)方法，其特征在于，上述微分 步驟包括以下步驟： 積分步驟，通過使用與上述顯示設(shè)備的顯示不均勻的形狀和大小對(duì)應(yīng)的內(nèi)核尺寸的空 間濾波器將上述顯示設(shè)備的各像素值與周邊像素的像素值進(jìn)行平均化來進(jìn)行積分，獲取上 述顯示設(shè)備的各像素的積分像素值；以及 差分步驟，根據(jù)上述顯示設(shè)備的各像素的上述像素值與上述積分像素值的差分來獲取 上述顯示設(shè)備的各像素的微分像素值。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示設(shè)備的顯示不均勻檢測(cè)方法，其特征在于， 在上述積分像素值的獲取對(duì)象像素屬于上述顯示設(shè)備的各外周邊的附近區(qū)域中的任 一區(qū)域的情況下，在上述積分步驟中，使用降低了與上述獲取對(duì)象像素所屬的附近區(qū)域所 對(duì)應(yīng)的邊的延伸方向正交的方向的靈敏度的上述空間濾波器，對(duì)上述獲取對(duì)象像素的像素 值進(jìn)行積分。
5. -種顯示設(shè)備的顯示不均勻檢測(cè)裝置，具備： 像素值獲取單元，其將對(duì)顯示設(shè)備所顯示的圖像進(jìn)行拍攝而得到的輸出圖像數(shù)據(jù)的各 像素值分配到上述顯示設(shè)備的各像素，來獲取上述顯示設(shè)備的各像素的像素值； 微分單元，其獲取上述顯示設(shè)備的各像素的微分像素值； 像素值比較單元，其將上述顯示設(shè)備的各像素的上述微分像素值與規(guī)定的不均勻判斷 閾值進(jìn)行比較； 不均勻區(qū)域檢測(cè)單元，其根據(jù)上述微分像素值超過上述不均勻判斷閾值的像素的分 布，來檢測(cè)上述顯示設(shè)備中的顯示不均勻的產(chǎn)生區(qū)域； 強(qiáng)度值獲取單元，其根據(jù)屬于上述產(chǎn)生區(qū)域的各像素的上述像素值或者上述微分像素 值，來獲取上述產(chǎn)生區(qū)域的顯示不均勻強(qiáng)度值； 強(qiáng)度值比較單元，其將上述強(qiáng)度值與規(guī)定的不均勻強(qiáng)度閾值進(jìn)行比較：以及 顯示不均勻檢測(cè)單元，其檢測(cè)上述強(qiáng)度值超過規(guī)定的不均勻強(qiáng)度閾值的上述產(chǎn)生區(qū)域 作為上述顯示不均勻。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的顯示設(shè)備的顯示不均勻檢測(cè)裝置，其特征在于， 還具備強(qiáng)調(diào)單元，該強(qiáng)調(diào)單元使用在作為檢測(cè)對(duì)象的上述顯示不均勻的延伸方向上具 有方向性的強(qiáng)調(diào)用空間濾波器，將上述顯示設(shè)備的各像素值與上述延伸方向的周邊像素的 像素值進(jìn)行平均化， 上述微分單元針對(duì)通過上述強(qiáng)調(diào)單元進(jìn)行平均化后的上述顯示設(shè)備的各像素的像素 值獲取上述微分像素值。
7. 根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的顯示設(shè)備的顯示不均勻檢測(cè)裝置，其特征在于，上述微分 單元具備： 積分單元，其通過使用與上述顯示設(shè)備的顯示不均勻的形狀和大小對(duì)應(yīng)的內(nèi)核尺寸的 空間濾波器將上述顯示設(shè)備的各像素值與周邊像素的像素值進(jìn)行平均化來進(jìn)行積分，獲取 上述顯示設(shè)備的各像素的積分像素值；以及 差分單元，其根據(jù)上述顯示設(shè)備的各像素的上述像素值與上述積分像素值的差分來獲 取上述顯示設(shè)備的各像素的微分像素值。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示設(shè)備的顯示不均勻檢測(cè)裝置，其特征在于， 上述積分單元在上述積分像素值的獲取對(duì)象像素屬于上述顯示設(shè)備的各外周邊的附 近區(qū)域中的任一區(qū)域的情況下，使用降低了與上述獲取對(duì)象像素所屬的附近區(qū)域所對(duì)應(yīng)的 邊的延伸方向正交的方向的靈敏度的上述空間濾波器，對(duì)上述獲取對(duì)象像素的像素值進(jìn)行 積分。
【文檔編號(hào)】G09G3/20GK104160439SQ201280071032
【公開日】2014年11月19日 申請(qǐng)日期:2012年3月1日 優(yōu)先權(quán)日:2012年3月1日
【發(fā)明者】水野邦廣, 蔵所啟一 申請(qǐng)人:日本麥可羅尼克斯股份有限公司