專利名稱：具有檢測電路布線的數(shù)組基板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型是關(guān)于一種具有檢測電路布線的數(shù)組基板，尤指一種數(shù)組 基板具有共 享測試墊的檢測電路布線。
背景技術(shù)：
于制造液晶顯示面板(liquid crystal display panel)的過程中，必須經(jīng)由一道 測試程序，以檢測液晶顯示面板的數(shù)組基板中各畫素的驅(qū)動電路運(yùn)作是否正確。為了進(jìn)行 驅(qū)動電路的檢測，數(shù)組基板于驅(qū)動電路的周邊是設(shè)置有檢測電路布線，且一般檢測電路布 線包括環(huán)狀短路布線(short-ring layout)與桿狀短路布線(shorting-bar layout)兩種。 檢測電路布線主要利用將檢測訊號輸入至驅(qū)動電路，以驅(qū)動薄膜晶體管進(jìn)行測試。目前， 六代廠因面取數(shù)多，且為了節(jié)省作業(yè)時(shí)間(tact time)，而采取桿狀短路布線的檢測電路布 局。請參考圖1與圖2，圖1為習(xí)知數(shù)組基板的上視示意圖，圖2為習(xí)知數(shù)組基板的各 面板電路示意圖。如圖1所示，習(xí)知數(shù)組基板10具有復(fù)數(shù)個面板區(qū)12以及復(fù)數(shù)個面板檢 測區(qū)14。如圖2所示，各面板區(qū)12內(nèi)的數(shù)組基板10包括復(fù)數(shù)條數(shù)據(jù)線16、復(fù)數(shù)條掃描線 18、復(fù)數(shù)個薄膜晶體管20、復(fù)數(shù)個儲存電容22、復(fù)數(shù)條共通線24、復(fù)數(shù)個間極接觸電極26 以及復(fù)數(shù)個數(shù)據(jù)接觸電極28。各數(shù)據(jù)線16是與各掃描線18垂直交錯，且各薄膜晶體管20 與各儲存電容22設(shè)置于任二相鄰的數(shù)據(jù)線16與任二相鄰的掃描線18所定義出的畫素區(qū) 內(nèi)。各掃描線18電性連接至各閘極接觸電極26，且各數(shù)據(jù)線16電性連接至各數(shù)據(jù)接觸電 極28。此外，各面板檢測區(qū)14內(nèi)的數(shù)組基板10另包括三短路布線32以及三測試墊34，亦 即所謂檢測電路布線，各測試墊34分別電性連接至各短路布線32，且各短路布線32分別電 性連接至掃描線18、數(shù)據(jù)線16以及共通線24。藉此，將測試訊號輸入至各面板檢測區(qū)14 內(nèi)的各測試墊34即可分別針對各面板區(qū)12內(nèi)的數(shù)組基板10進(jìn)行檢測。并且，于檢測完數(shù) 組基板10后，再將數(shù)組基板10與彩色濾光片基板結(jié)合為復(fù)數(shù)個顯示面板，然后用于檢測的 短路布線32與測試墊34會經(jīng)由切割步驟而被移除。由于檢測數(shù)組基板需依序分別針對各面板區(qū)內(nèi)的電路進(jìn)行測試，因此習(xí)知各面板 區(qū)的電路并不電性連接。然而，習(xí)知數(shù)組基板的檢測電路布線僅用于檢測面板區(qū)內(nèi)的電路， 而非作為顯示面板的驅(qū)動電路，因此檢測電路布線的設(shè)置會限制習(xí)知數(shù)組基板的各面板區(qū) 的范圍，而影響各面板區(qū)的畫素大小或配置電路的區(qū)域，造成可設(shè)置驅(qū)動電路的基板利用 率下降。
發(fā)明內(nèi)容有鑒于此，本實(shí)用新型的目的在于提供一種具有檢測電路布線的數(shù)組基板，用以 降低設(shè)置檢測電路布線的范圍，并提升基板利用率。為達(dá)上述的目的，本實(shí)用新型提供一數(shù)組基板。其包括一基板、一第一面板驅(qū)動電 路、至少一第二面板驅(qū)動電路、至少二第一短路布線、一第一測試墊以及至少一連接線?；寰哂幸坏谝幻姘鍏^(qū)、一第一面板檢測區(qū)、至少一第二面板區(qū)以及至少一第二面板檢測區(qū)。 第一面板驅(qū)動電路設(shè)于第一面板區(qū)內(nèi)的基板上，且第二面板驅(qū)動電路設(shè)于第二面板區(qū)內(nèi)的 基板上。各第一短路布線分別設(shè)于第一面板檢測區(qū)與第二面板檢測區(qū)的基板上，且第一測 試墊設(shè)于第一面板檢測區(qū)內(nèi)的基板上，而電性連接至位于第一面板檢測區(qū)內(nèi)的第一短路布 線，其中第二面板檢測區(qū)內(nèi)的基板較第一面板檢測區(qū)內(nèi)的基板少設(shè)置第一測試墊。連接線 設(shè)于基板上，且電性連接各第一短路布線。本實(shí)用新型僅于第一面板檢測區(qū)內(nèi)的基板上設(shè)置第一測試墊，并藉由連接線電性 連接各第一短路布線，使得至少一第二面板檢測區(qū)內(nèi)的基板可藉由第一面板檢測區(qū)的第一 測試墊來傳送第一測試訊號，而可省略一測試墊以及測試墊連接至第一短路布線間的電路 布線，進(jìn)而可增加第二面板區(qū)的范圍，且提升基板利用率。

圖1為習(xí)知數(shù)組基板的上視示意圖。圖2為習(xí)知數(shù)組基板的各面板電路示意圖。圖3為本實(shí)用新型第一實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板的電路示意圖。圖4為本實(shí)用新型第二實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板的電路示意圖。圖5為本實(shí)用新型第三實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板的電路示意圖。圖6為本實(shí)用新型第四實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板的電路示意圖。圖7為本實(shí)用新型第五實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板的電路示意圖。圖8為本實(shí)用新型第六實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板的電路示意圖。圖9為本實(shí)用新型第七實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板的電路示意圖。圖10為本實(shí)用新型第八實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板的電路示意圖。主要組件符號說明10、100、170、180、190、200、210、220、230 數(shù)組基板12 面板區(qū)14 面板檢測區(qū)16 資料線18 掃描線20 薄膜晶體管22 儲存電容24 共通線26 閘極接觸電極28 資料接觸電極32 短路布線34 測試墊102 基板104 第一面板驅(qū)動電路106 第二面板驅(qū)動電路108 第一短路布線110 第二短路布線112 第三短路布線114 第一測試墊116 第二測試墊118 第三測試墊120 連接線122 第一面板區(qū)124 第一面板檢測區(qū)126 第二面板區(qū)128 第二面板檢測區(qū)130 第一資料線130a 第一偶數(shù)資料線130b 第一奇數(shù)資料線130c 第一藍(lán)色 次像素資料線130d 第一紅色次像素資料線[0035]130e第一綠色次像素資料線132第一掃描線132a第一偶數(shù)掃描線132b第一奇數(shù)掃描線134第一共通線136第一薄膜晶體管138第一儲存電容139a第一資料接觸電極139b第一閘極接觸電極140第二資料線140a第二偶數(shù)資料線140b第二奇數(shù)資料線140c第二藍(lán)色次像素資料線140d第二紅色次像素資料線140e第二綠色次像素資料線142第二掃描線142a第二偶數(shù)掃描線142b第二奇數(shù)掃描線144第二共通線146第二薄膜晶體管148第二儲存電容149a第二資料接觸電極149b第二閘極接觸電極172第四短路布線174第四測試墊192第五短路布線194第五測試墊212第六短路布線214第六測試墊。
具體實(shí)施方式
請參考圖3，圖3為本實(shí)用新型第一實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板的電 路示意圖。如圖3所示，本實(shí)施例具有檢測電路布線的數(shù)組基板100包括一基板102、一第一 面板驅(qū)動電路104、至少一第二面板驅(qū)動電路106、至少二第一短路布線108、至少二第二短 路布線110、至少二第三短路布線112、至少二第四短路布線172、至少二第五短路布線192、 一第一測試墊114、至少二第二測試墊116、至少二第三測試墊118、至少二第四測試墊174、 至少二第五測試墊194以及至少一連接線120。其中，基板102具有一第一面板區(qū)122、一 第一面板檢測區(qū)124、至少一第二面板區(qū)126以及至少一第二面板檢測區(qū)128，且基板102 是為一透明基板。位于第一面板檢測區(qū)124內(nèi)的第一短路布線108、第二短路布線110、第 三短路布線112、第四短路布線172、第五短路布線192、第一測試墊114、第二測試墊116、第 三測試墊118、第四測試墊174以及第五測試墊194可 視為第一面板驅(qū)動電路104的一檢測 電路布線。各第一短路布線108分別設(shè)于第一面板檢測區(qū)124與第二面板檢測區(qū)128的基 板102上，且各第二短路布線110分別設(shè)于第一面板檢測區(qū)124與第二面板檢測區(qū)128的 基板102上，而各第三短路布線112分別設(shè)于第一面板檢測區(qū)124與第二面板檢測區(qū)128 的基板102上。各第四短路布線172分別設(shè)于第一面板檢測區(qū)124與第二面板檢測區(qū)128 的基板102上，且各第五短路布線192分別設(shè)于第一面板檢測區(qū)124與第二面板檢測區(qū)128 的基板102上。第一測試墊114設(shè)于第一面板檢測區(qū)124內(nèi)的基板102上，且電性連接至 位于第一面板檢測區(qū)124內(nèi)的第一短路布線110與連接線120。各第二測試墊116分別設(shè) 于第一面板檢測區(qū)124與第二面板檢測區(qū)128內(nèi)的基板102上，且分別電性連接各第二短 路布線110。各第三測試墊118分別設(shè)于第一面板檢測區(qū)124與第二面板檢測區(qū)128內(nèi)的 基板102上，且分別電性連接各第三短路布線112。各第四測試墊174分別設(shè)于第一面板檢 測區(qū)124與第二面板檢測區(qū)128的基板102上，且分別電性連接各第四短路布線172。各第 五測試墊194分別設(shè)于第一面板檢測區(qū)124與第二面板檢測區(qū)128的基板102上，且分別電性連接各第五短路布線192。此外，第一面板驅(qū)動電路104是設(shè)于第一面板區(qū)122內(nèi)的基 板102上，以用于驅(qū)動一第一顯示面板，且第二面板驅(qū)動電路106設(shè)于第二面板區(qū)126內(nèi)的 基板102上，以用于驅(qū)動一第二顯示面板。
值得注意的是，連接線120設(shè)于基板102上，且跨越第一面板檢測區(qū)124與第二面 板檢測區(qū)128，并電性連接各第一短路布線108，使得第一測試墊114電性連接至位于第二 面板檢測區(qū)128內(nèi)的第一短路布線108。藉此，本實(shí)施例僅需于第一面板檢測區(qū)124內(nèi)的基 板102上設(shè)置第一測試墊114，并輸入一第一測試訊號至第一測試墊114即可傳送至位于 第一面板檢測區(qū)124與第二面板檢測區(qū)128的各第一短路布線108，使得第二面板檢測區(qū) 128內(nèi)的基板102不需再設(shè)置第一測試墊108來傳送第一測試訊號，亦即第二面板檢測區(qū) 128的基板102較第一面板檢測區(qū)124少設(shè)置第一測試墊114，進(jìn)而可省略一測試墊的容置 空間，并增加第二面板區(qū)126的范圍，且提升基板102利用率。因此，位于第二面板檢測區(qū) 128內(nèi)的第一短路布線108、第二短路布線110、第三短路布線112、第四短路布線172、第五 短路布線192、第二測試墊116、第三測試墊118、第四測試墊174以及第五測試墊194與位 于第一面板檢測區(qū)124內(nèi)的第一短路布線108以及第一測試墊114可視為第二面板驅(qū)動電 路106的一檢測電路布線。于本實(shí)施例中，第一面板驅(qū)動電路104包括復(fù)數(shù)條第一數(shù)據(jù)線130、復(fù)數(shù)條第一掃 描線132、復(fù)數(shù)條第一共通線134、復(fù)數(shù)個第一薄膜晶體管136、復(fù)數(shù)個第一儲存電容138、復(fù) 數(shù)個第一數(shù)據(jù)接觸電極139a以及復(fù)數(shù)個第一閘極接觸電極139b，且第二面板驅(qū)動電路106 包括復(fù)數(shù)條第二數(shù)據(jù)線140、復(fù)數(shù)條第二掃描線142、復(fù)數(shù)條第二共通線144、復(fù)數(shù)個第二薄 膜晶體管146、復(fù)數(shù)個第二儲存電容148、復(fù)數(shù)個第二數(shù)據(jù)接觸電極149a以及復(fù)數(shù)個第二閘 極接觸電極149b。各第一掃描線132與各第一共通線134是與各第一數(shù)據(jù)線130互相垂直 交錯，且任二相鄰第一資料線130與任二相鄰的第一掃描線132定義出一第一畫素區(qū)。各 第一薄膜晶體管136與各第一儲存電容138設(shè)于各第一畫素區(qū)內(nèi)的基板102上，且各第一 薄膜晶體管136的閘極電性連接至相對應(yīng)的第一掃描線132。各第一薄膜晶體管136的源 極電性連接至相對應(yīng)的第一數(shù)據(jù)線140，各第一薄膜晶體管136的汲極分別電性連接至各 第一儲存電容138的一端。各第一儲存電容138的另一端電性連接至相對應(yīng)的第一共通線 134。另外，各第二掃描線142與各第二共通線144是與各第二數(shù)據(jù)線140互相垂直交錯，且 任二相鄰第二資料線140與任二相鄰的第二掃描線142定義出一第二畫素區(qū)。各第二薄膜 晶體管146與各第二儲存電容148設(shè)于各第二畫素區(qū)內(nèi)的基板102上，且各第二薄膜晶體 管146的閘極電性連接至相對應(yīng)的第二掃描線142。各第二薄膜晶體管146的源極電性連 接至相對應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線140，各第二薄膜晶體管146的汲極分別電性連接至各第二儲存 電容148的一端。各第二儲存電容148的另一端電性連接至相對應(yīng)的第二共通線144。各 第一共通線134是電性連接至位于第一面板區(qū)122內(nèi)的第一短路布線108，且各第二共通線 144電性連接至位于第二面板區(qū)126內(nèi)的第一短路布線108。此外，第一數(shù)據(jù)線130可區(qū)分 為第一偶數(shù)數(shù)據(jù)線130a與第一奇數(shù)資料線130b，且第一掃描線132可區(qū)分為第一偶數(shù)掃描 線132a與第一奇數(shù)掃描線132b。第二數(shù)據(jù)線140可區(qū)分為第二偶數(shù)數(shù)據(jù)線140a與第二奇 數(shù)資料線140b，且第二掃描線142可區(qū)分為第二偶數(shù)掃描線142a與第二奇數(shù)掃描線142b。 各第一偶數(shù)數(shù)據(jù)線130a經(jīng)由第一數(shù)據(jù)接觸電極139a電性連接至位于第一面板區(qū)122內(nèi)的 第二短路布線110，且各第二偶數(shù)資料線140a經(jīng)由第二數(shù)據(jù)接觸電極149a電性連接至位于第二面板區(qū)126內(nèi)的第二短路布線110。各第一奇數(shù)數(shù)據(jù)線130b經(jīng)由第一數(shù)據(jù)接觸電 極139a電性連接至位于第一面板區(qū)122內(nèi)的第三短路布線112，且各第二奇數(shù)資料線140b 經(jīng)由第二數(shù)據(jù)接觸電極149a電性連接至位于第二面板區(qū)126內(nèi)的第三短路布線112。各 第一偶數(shù)掃描線132a經(jīng)由第一閘極接觸電極139b電性連接至位于第一面板區(qū)122內(nèi)的第 四短路布線172，且各第二偶數(shù)掃描線142經(jīng)由第二閘極接觸電極149b電性連接至位于第 二面板區(qū)126內(nèi)的第四短路布線172。各第一奇數(shù)掃描線132經(jīng)由第一閘極接觸電極139b 電性連接至位于第一面板區(qū)122內(nèi)的第五短路布線192，且各第二奇數(shù)掃描線142經(jīng)由第二 閘極接觸電極149b電性連接至位于第二面板區(qū)126內(nèi)的第五短路布線192。由此可知，本實(shí)施例藉由連接線120電性連接各第一短路布線108，使得各第一共 通線134電性連接至各第二共通線144。因此，于進(jìn)行檢測時(shí)，第一測試墊114會輸入共通 訊號(common signal)，然后經(jīng)由位于第一面板檢測區(qū)124的第一短路布線108傳送至各第 一共通線134，再經(jīng)由連接線120傳送至位于第二面板檢測區(qū)128內(nèi)的第一短路布線108， 進(jìn)而傳送至各第二共通線144，使得共 通訊號被同時(shí)傳送至各第一儲存電容138與各第二 儲存電容148。接著，于第一面板檢測區(qū)124內(nèi)的第四測試墊174掃描訊號(scan signal), 再依序于第二測試墊116與第三測試墊118輸入數(shù)據(jù)訊號(data signal),以檢測位于第 一偶數(shù)掃描線132a上的第一畫素區(qū)。然后，停止傳送掃描訊號至第一面板檢測區(qū)124內(nèi)的 第四測試墊174，并改將掃描訊號輸入至第一面板檢測區(qū)124內(nèi)的第五測試墊194，再依序 于第二測試墊116與第三測試墊118輸入數(shù)據(jù)訊號(data signal)，以檢測位于第一奇數(shù)掃 描線132b上的第一畫素區(qū)。檢測第二面板驅(qū)動電路106是相同于檢測第一面板驅(qū)動電路 104。于持續(xù)輸入共通訊號至第一測試墊114的情況下，于第二面板檢測區(qū)124內(nèi)的第四測 試墊174輸入掃描訊號(scan signal)，再依序于第二測試墊116與第三測試墊118輸入數(shù) 據(jù)訊號(data signal)，以檢測位于第二偶數(shù)掃描線142a上的第二畫素區(qū)。然后，停止傳 送掃描訊號至第二面板檢測區(qū)124內(nèi)的第四測試墊174，并改將掃描訊號輸入至第二面板 檢測區(qū)124內(nèi)的第五測試墊194，再依序于第二測試墊116與第三測試墊118輸入數(shù)據(jù)訊 號(data signal)，以檢測位于第二奇數(shù)掃描線142b上的第二畫素區(qū)。此外，本實(shí)用新型的 數(shù)組基板不限于僅具有一第二面板與一第二面板檢測區(qū)，亦可具有復(fù)數(shù)個面板與復(fù)數(shù)個面 板檢測區(qū)，并包括復(fù)數(shù)條連接線以串聯(lián)或并聯(lián)的方式電性連接各面板檢測區(qū)的第一短路布 線，以有效降低各面板檢測區(qū)的范圍，且提升基板利用率。另外，本實(shí)用新型的各第一短路布線不限于電性連接至共通線。為了清楚比較下 述實(shí)施例與第一實(shí)施例的差異，下述實(shí)施例與第一實(shí)施例相同的組件使用相同的符號標(biāo) 示，且相同結(jié)構(gòu)的部分不再贅述。請參考圖4至圖7，圖4為本實(shí)用新型第二實(shí)施例的具有 檢測電路布線的數(shù)組基板的電路示意圖，圖5為本實(shí)用新型第三實(shí)施例的具有檢測電路布 線的數(shù)組基板的電路示意圖，圖6為本實(shí)用新型第四實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基 板的電路示意圖，圖7為本實(shí)用新型第五實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板的電路示 意圖。如第4圖所示，相較于第一實(shí)施例，本實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板170的 各第一短路布線108分別電性連接第一偶數(shù)掃描線132a與第二偶數(shù)掃描線142a，且各第四 短路布線172分別電性連接第一共通線134與第二共通線144。如第5圖所示，相較于第一 實(shí)施例，本實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板180的各第一短路布線108是分別電性 連接第一奇數(shù)掃描線132b與第二奇數(shù)掃描線142b，而各第五短路布線192則分別電性連接第一共通線134與第二共通線144。如圖6所示，相較于第一實(shí)施例，本實(shí)施例的具有檢測 電路布線的數(shù)組基板190的各第一短路布線108是分別電性連接第一偶數(shù)數(shù)據(jù)線130a與 第二偶數(shù)資料線140a，且各第二短路布線110是分別電性連接第一共通線134與第二共通 線144。如圖7所示，相較于第一實(shí)施例，本實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板200的 各第一短路布線108是分別電性連接第一奇數(shù)數(shù)據(jù)線130b與第二奇數(shù)資料線140b，且各第 三短路布線112分別電性連接第一共通線134與第二共通線144。此外，本實(shí)用新型的數(shù)組基板的數(shù)據(jù)線亦可區(qū)分為不同顏色的次像素?cái)?shù)據(jù)線。請 參考圖8至圖10，圖8為本實(shí)用新型第六實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板的電路示 意圖，圖9為本實(shí)用新型第七實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板的電路示意圖，圖10 為本實(shí)用新型第八實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板的電路示意圖。如圖8所示，相 較于第一實(shí)施例，本實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基板210另包括至少二第六短路布 線212以及至少二第六測試墊214。各第六短路布線212分別設(shè)于第一面板檢測區(qū)124與 第二面板檢測區(qū)128的基板102上，且各第六測試墊214分別設(shè)于第一面板檢測區(qū)124與 第二面板檢測區(qū)128的基板102上。各第六測試墊214分別電性連接各第六短路布線212， 且各第六短路布線212是分別電性連接第一共通線134與第二共通線144。第一面板驅(qū)動 電路104的第一數(shù)據(jù)線130可區(qū)分為復(fù)數(shù)條第一藍(lán)色次像素資料線130c、復(fù)數(shù)條第一紅色 次像素?cái)?shù)據(jù)線130d以及復(fù)數(shù)條第一綠色次像素?cái)?shù)據(jù)線130e，且第二面板驅(qū)動電路106的 第二數(shù)據(jù)線140可區(qū)分為復(fù)數(shù)條第二藍(lán)色次像素資料線140c、復(fù)數(shù)條第二紅色次像素?cái)?shù)據(jù) 線140d以及復(fù)數(shù)條第二綠色次像素資料線140e。各第一短路布線108是分別電性連接第 一藍(lán)色次像素?cái)?shù)據(jù)線130c與第二藍(lán)色次像素資料線140c，且各第二短路布線110是分別 電性連接第一紅色次像素?cái)?shù)據(jù)線130d與第二紅色次像素資料線140d，而各第三短路布線 是112分別電性連接第一綠色次像素?cái)?shù)據(jù)線130e與第二綠色次像素資料線140e。但本實(shí) 用新型不限于此，如圖9所示，相較于第六實(shí)施例，本實(shí)施例的具有檢測電路布線的數(shù)組基 板220的各第一短路布線108是分別電性連接第一紅色次像素?cái)?shù)據(jù)線130d與第二紅色次 像素資料線140d，且各第二短路布線110是分別電性連接第一藍(lán)色次像素?cái)?shù)據(jù)線130c與第 二藍(lán)色次像素資料線140c，而各第三短路布線112是分別電性連接第一綠色次像素?cái)?shù)據(jù)線 130e與第二綠色次像素資料線140e。如圖10所示，相較于第六實(shí)施例，本實(shí)施例的具有檢 測電路布線的數(shù)組基板230的各第一短路布線108是分別電性連接第一綠色次像素?cái)?shù)據(jù)線 130e與第二綠色次像素資料線140e，且各第二短路布線110是分別電性連接第一藍(lán)色次像 素?cái)?shù)據(jù)線130c與第二藍(lán)色次像素資料線140c，而各第三短路布線112是分別電性連接第一 紅色次像素?cái)?shù)據(jù)線130d與第二紅色次像素資料線140d。綜上所述，本實(shí)用新型具有檢測電路布線的數(shù)組基板僅于第一面板檢測區(qū)內(nèi)的基 板上設(shè)置第一測試墊，并藉由連接線電性連接各第一短路布線，使得至少一第二面板檢測 區(qū)內(nèi)的基板可藉由第一面板檢測區(qū)的第一測試墊來傳送第一測試訊號，而可省略一測試墊 以及測試墊連接至第一短路布線間的電路布線的容置空間，進(jìn)而可增加第二面板區(qū)的范 圍，且提升基板利用率。以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，凡依本實(shí)用新型申請專利范圍所做的均 等變化與修飾，皆應(yīng)屬本實(shí)用新型的涵蓋范圍。
權(quán)利要求一種具有檢測電路布線的數(shù)組基板，在特征在于包括一基板，具有一第一面板區(qū)、一第一面板檢測區(qū)、至少一第二面板區(qū)以及至少一第二面板檢測區(qū)；一第一面板驅(qū)動電路，設(shè)于該第一面板區(qū)內(nèi)的該基板上；至少一第二面板驅(qū)動電路，設(shè)于該第二面板區(qū)內(nèi)的該基板上；至少二第一短路布線，分別設(shè)于該第一面板檢測區(qū)與該第二面板檢測區(qū)的該基板上；一第一測試墊，設(shè)于該第一面板檢測區(qū)內(nèi)的該基板上，且電性連接至位于該第一面板檢測區(qū)內(nèi)的該第一短路布線，其中該第二面板檢測區(qū)內(nèi)的該基板較該第一面板檢測區(qū)內(nèi)的該基板少設(shè)置該第一測試墊；以及至少一連接線，設(shè)于該基板上，且電性連接該等第一短路布線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)組基板，其特征在于其中該第一面板驅(qū)動電路包括復(fù)數(shù) 條第一共通線，且該第二面板驅(qū)動電路包括復(fù)數(shù)條第二共通線，而各該第一短路布線是分 別電性連接該等第一共通線與該等第二共通線。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)組基板，其特征在于其中該第一面板驅(qū)動電路包括復(fù)數(shù) 條第一偶數(shù)掃描線以及復(fù)數(shù)條第一奇數(shù)掃描線，該第二面板驅(qū)動電路包括復(fù)數(shù)條第二偶數(shù) 掃描線以及復(fù)數(shù)條第二奇數(shù)掃描線，且各該第一短路布線系分別電性連接該等第一偶數(shù)掃 描線與該等第二偶數(shù)掃描線。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)組基板，其特征在于其中該第一面板驅(qū)動電路包括復(fù)數(shù) 條第一偶數(shù)掃描線以及復(fù)數(shù)條第一奇數(shù)掃描線，該第二面板驅(qū)動電路包括復(fù)數(shù)條第二偶數(shù) 掃描線以及復(fù)數(shù)條第二奇數(shù)掃描線，且各該第一短路布線系分別電性連接該等第一奇數(shù)掃 描線與該等第二奇數(shù)掃描線。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)組基板，其特征在于其中該第一面板驅(qū)動電路包括復(fù)數(shù) 條第一偶數(shù)數(shù)據(jù)線以及復(fù)數(shù)條第一奇數(shù)數(shù)據(jù)線，該第二面板驅(qū)動電路包括復(fù)數(shù)條第二偶數(shù) 數(shù)據(jù)線以及復(fù)數(shù)條第二奇數(shù)數(shù)據(jù)線，且各該第一短路布線系分別電性連接該等第一偶數(shù)數(shù) 據(jù)線與該等第二偶數(shù)資料線。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)組基板，其特征在于其中該第一面板驅(qū)動電路包括復(fù)數(shù) 條第一偶數(shù)數(shù)據(jù)線以及復(fù)數(shù)條第一奇數(shù)數(shù)據(jù)線，該第二面板驅(qū)動電路包括復(fù)數(shù)條第二偶數(shù) 數(shù)據(jù)線以及復(fù)數(shù)條第二奇數(shù)數(shù)據(jù)線，且各該第一短路布線系分別電性連接該等第一奇數(shù)數(shù) 據(jù)線與該等第二奇數(shù)資料線。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)組基板，其特征在于其中該第一面板驅(qū)動電路包括復(fù)數(shù) 條第一藍(lán)色次像素?cái)?shù)據(jù)線、復(fù)數(shù)條第一紅色次像素?cái)?shù)據(jù)線以及復(fù)數(shù)條第一綠色次像素?cái)?shù)據(jù) 線，且該第二面板驅(qū)動電路包括復(fù)數(shù)條第二藍(lán)色次像素?cái)?shù)據(jù)線、復(fù)數(shù)條第二紅色次像素?cái)?shù) 據(jù)線以及復(fù)數(shù)條第二綠色次像素資料線。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的數(shù)組基板，其特征在于其中各該第一短路布線系分別電性 連接該等第一藍(lán)色次像素?cái)?shù)據(jù)線與該等第二藍(lán)色次像素資料線。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的數(shù)組基板，其特征在于其中各該第一短路布線系分別電性 連接該等第一紅色次像素?cái)?shù)據(jù)線與該等第二紅色次像素資料線。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的數(shù)組基板，其特征在于其中各該第一短路布線系分別電 性連接該等第一綠色次像素?cái)?shù)據(jù)線與該等第二綠色次像素資料線。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種具有檢測電路布線的數(shù)組基板包括一基板、至少二短路布線、一測試墊以及至少一連接線。基板具有一第一面板檢測區(qū)以及至少一第二面板檢測區(qū)。各短路布線分別設(shè)于第一面板檢測區(qū)與第二面板檢測區(qū)的基板上，且測試墊設(shè)于第一面板檢測區(qū)內(nèi)并電性連接至位于第一面板檢測區(qū)內(nèi)的短路布線，而連接線電性連接各短路布線。第二面板檢測區(qū)內(nèi)的基板較第一面板檢測區(qū)內(nèi)的基板少設(shè)置一測試墊。本實(shí)用新型用以降低設(shè)置檢測電路布線的范圍，并提升基板利用率。
文檔編號G09G3/00GK201765799SQ20102011741
公開日2011年3月16日 申請日期2010年2月24日 優(yōu)先權(quán)日2010年2月24日
發(fā)明者吳啟文, 李明泉, 楊建海 申請人:福州華映視訊有限公司;中華映管股份有限公司