專利名稱：內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及使用磁場產(chǎn)生元件和磁場檢測元件來檢測內(nèi)窺鏡插入形狀等并進(jìn)行顯示的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置。
背景技術(shù)：
近年來，采用了一種內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，該裝置使用磁場產(chǎn)生元件和磁場檢測元件來檢測插入體內(nèi)等的內(nèi)窺鏡的形狀等，并使用顯示單元來進(jìn)行顯示。
例如，在日本國特開2003-245243號公報(bào)等中公開了一種使用磁場來檢測內(nèi)窺鏡形狀并顯示檢測出的內(nèi)窺鏡形狀的裝置。該裝置驅(qū)動在插入體內(nèi)的內(nèi)窺鏡的插入部內(nèi)以規(guī)定間隔配置的多個磁場產(chǎn)生元件，使其周圍產(chǎn)生磁場。然后，使用配置在體外的磁場檢測元件，根據(jù)產(chǎn)生磁場來檢測各磁場產(chǎn)生元件的三維位置。根據(jù)檢測出的各磁場產(chǎn)生元件的三維位置信息生成使各磁場產(chǎn)生元件連續(xù)地連接的曲線，通過顯示單元顯示模型化后的插入部的三維圖像。
手術(shù)醫(yī)生等通過觀察該圖像，可把握插入體內(nèi)的插入部的前端部的位置和插入形狀等，可順利地進(jìn)行插入到目標(biāo)部位的作業(yè)等。
然而，在上述日本國特開2003-245243號公報(bào)記載的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置中，檢測在插入部內(nèi)以規(guī)定間隔配置的多個磁場產(chǎn)生元件即源線圈的斷線或短路，判斷是否能使用內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置。因此，當(dāng)檢測出源線圈的斷線或短路來判斷為不能使用內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置時，不能獲得內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置的插入部的前端部的位置和插入形狀等的信息，插入目標(biāo)部位的作業(yè)只能依靠手術(shù)醫(yī)生的經(jīng)驗(yàn)，因而不能期待有效的插入到目標(biāo)部位的作業(yè)，存在給實(shí)際檢查帶來障礙的可能性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明就是鑒于上述情況而作成的，本發(fā)明的目的是提供一種可根據(jù)在插入部內(nèi)以規(guī)定間隔配置的形狀檢測用元件的電氣物性來檢測該元件的劣化狀況的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置。


圖1是示出本發(fā)明的實(shí)施例1的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)圖。
圖2是示出內(nèi)置于圖1的線圈單元中的線圈的配置例的圖。
圖3是示出圖1的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)圖。
圖4是示出圖3的接收塊和控制塊的結(jié)構(gòu)的圖。
圖5是示出圖3的接收塊的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的圖。
圖6是示出圖4的二端口存儲器等的動作的時序圖。
圖7是示出圖1的電子內(nèi)窺鏡的結(jié)構(gòu)的圖。
圖8是示出圖4的二端口存儲器的內(nèi)存映射的圖。
圖9是示出圖4的源線圈驅(qū)動電路部的結(jié)構(gòu)的圖。
圖10是對圖3的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的作用進(jìn)行說明的流程圖。
圖11是示出圖1的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置的內(nèi)部功能結(jié)構(gòu)的框圖。
圖12是示出圖1的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置描繪在監(jiān)視器畫面上的插入形狀圖形的一例的圖。
圖13是示出圖1的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置進(jìn)行的顯示控制的流程圖。
圖14是示出實(shí)施例1的插入部的插入形狀圖形被描繪在監(jiān)視器畫面的第1規(guī)定區(qū)域外的狀態(tài)的圖。
圖15是示出對圖14所示的插入形狀圖形進(jìn)行了第1顯示變更處理后的狀態(tài)的圖。
圖16是示出實(shí)施例1的插入部的插入形狀圖形被描繪在監(jiān)視器畫面的第2區(qū)域外的狀態(tài)的圖。
圖17是示出對圖16所示的插入形狀圖形進(jìn)行了第2顯示變更處理后的狀態(tài)的圖。
圖18是示出本發(fā)明的實(shí)施例2的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置的源線圈驅(qū)動電路部的結(jié)構(gòu)的圖。
圖19是示出實(shí)施例2的二端口存儲器的內(nèi)存映射的圖。
圖20是對實(shí)施例2的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的作用進(jìn)行說明的流程圖。
圖21是示出本發(fā)明的實(shí)施例3的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置的源線圈驅(qū)動電路部的結(jié)構(gòu)的圖。
圖22是對實(shí)施例3的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的作用進(jìn)行說明的流程圖。
圖23是對圖22的處理進(jìn)行說明的說明圖。
圖24是示出圖21的源線圈驅(qū)動電路部的變形例的結(jié)構(gòu)的圖。
圖25是對圖24的源線圈驅(qū)動電路部的作用進(jìn)行說明的說明圖。
圖26是示出本發(fā)明的實(shí)施例4的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置的源線圈驅(qū)動電路部的結(jié)構(gòu)的圖。
圖27是示出圖26的增益可變放大器部的結(jié)構(gòu)的圖。
圖28是對實(shí)施例4的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的作用進(jìn)行說明的流程圖。
圖29是示出圖27的增益可變放大器部的第1變形例的結(jié)構(gòu)的圖。
圖30是示出圖27的增益可變放大器部的第2變形例的結(jié)構(gòu)的圖。
圖31是圖28的變形例的流程圖。
圖32是示出實(shí)施例4的二端口存儲器的內(nèi)存映射的圖。
圖33是對實(shí)施例4的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的變形例的作用進(jìn)行說明的流程圖。
圖34是示出實(shí)施例4的二端口存儲器的變形例的內(nèi)存映射的圖。
圖35是對存儲在實(shí)施例4的二端口存儲器內(nèi)的數(shù)據(jù)的變形例進(jìn)行說明的圖。
圖36是示出實(shí)施例4的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的變形例的圖。
具體實(shí)施例方式
以下，參照附圖對本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行描述。
(實(shí)施例1)圖1至圖17涉及本發(fā)明的實(shí)施例1，圖1是示出內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)圖，圖2是示出內(nèi)置于圖1的線圈單元中的線圈的配置例的圖，圖3是示出圖1的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)圖，圖4是示出圖3的接收塊和控制塊的結(jié)構(gòu)的圖，圖5是示出圖3的接收塊的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的圖，圖6是示出圖4的二端口存儲器等的動作的時序圖，圖7是示出圖1的電子內(nèi)窺鏡的結(jié)構(gòu)的圖，圖8是示出圖4的二端口存儲器的內(nèi)存映射的圖，圖9是示出圖4的源線圈驅(qū)動電路部的結(jié)構(gòu)的圖，圖10是對圖3的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的作用進(jìn)行說明的流程圖，圖11是示出圖1的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置的內(nèi)部功能結(jié)構(gòu)的框圖，圖12是示出圖1的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置描繪在監(jiān)視器畫面上的插入形狀圖形的一例的圖，圖13是示出圖1的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置進(jìn)行的顯示控制的流程圖，圖14是示出插入部的插入形狀圖形被描繪在監(jiān)視器畫面的第1規(guī)定區(qū)域外的狀態(tài)的圖，圖15是示出對圖14所示的插入形狀圖形進(jìn)行了第1顯示變更處理后的狀態(tài)的圖，圖16是示出插入部的插入形狀圖形被描繪在監(jiān)視器畫面的第2區(qū)域外的狀態(tài)的圖，圖17是示出對圖16所示的插入形狀圖形進(jìn)行了第2顯示變更處理后的狀態(tài)的圖。
如圖1所示，本實(shí)施例中的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)1具有進(jìn)行內(nèi)窺鏡檢查的內(nèi)窺鏡裝置2和用于輔助內(nèi)窺鏡檢查的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3，該內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3用作把電子內(nèi)窺鏡6的插入部7插入躺在檢查床4上的患者5的體腔內(nèi)來進(jìn)行內(nèi)窺鏡檢查時的插入輔助單元。
電子內(nèi)窺鏡6在具有撓性的細(xì)長的插入部7的后端形成有設(shè)有彎曲操作旋鈕的操作部8，從該操作部8延伸出通用連接纜9，該通用連接纜9與視頻處理器10連接。
該電子內(nèi)窺鏡6插通有光導(dǎo)，傳送來自視頻處理器10內(nèi)的光源部的照明光，使從設(shè)置在插入部7的前端的照明窗傳送的照明光出射，對患者等進(jìn)行照明。被照明的患部等的被攝體像通過安裝在與照明窗相鄰設(shè)置的觀察窗上的物鏡成像在配置于其成像位置的攝像元件(CCD)上，該攝像元件對所成像的被攝體像進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換。
具體地說，在插入部7的前端即前端部200的內(nèi)部設(shè)置有用于使被攝體像成像的物鏡光學(xué)系統(tǒng)201，以及對由物鏡光學(xué)系統(tǒng)201所成像的該被攝體像進(jìn)行攝像、并把所攝像的該被攝體像作為攝像信號來輸出的CCD(固體攝像元件)101。從CCD 101所輸出的攝像信號被輸出到一端與CCD 101的后方連接的信號線993。信號線99設(shè)置成插通插入部7、操作部8以及通用連接纜16的內(nèi)部，信號線99的另一端與視頻處理器10電連接。因此，從CCD 101所輸出的攝像信號經(jīng)由信號線99被輸出到視頻處理器10。
光電轉(zhuǎn)換后的被攝體像的電信號由視頻處理器10內(nèi)的影像信號處理部進(jìn)行信號處理，由該影像信號處理部生成標(biāo)準(zhǔn)的影像信號，該影像信號顯示在與視頻處理器10連接的圖像觀察用監(jiān)視器11上。
該電子內(nèi)窺鏡6設(shè)置有鉗子通道12，從該鉗子通道12的插入口12a插通具有例如16個磁場產(chǎn)生元件(或源線圈)14a、14b、…、14p(以下由符號14i代表)的探針15，從而在插入部7內(nèi)設(shè)置源線圈14i。
從該探針15的后端延伸出的源電纜16的后端的連接器16a與作為內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的裝置主體的檢測裝置(也記為裝置主體)21自由拆裝地連接。然后，從檢測裝置21側(cè)經(jīng)由作為驅(qū)動信號傳遞單元的源電纜16向成為磁場產(chǎn)生單元的源線圈14i施加驅(qū)動信號，從而使源線圈14i產(chǎn)生磁場。
并且，配置在患者5所躺的檢查床4附近的該檢測裝置21在上下方向自由移動(升降)地設(shè)置有(傳感)線圈單元23，在該線圈單元23內(nèi)配置有多個磁場檢測元件(傳感線圈)。
更具體地進(jìn)行說明，如圖2所示例如配置有朝向中心的Z坐標(biāo)是第1Z坐標(biāo)的例如X軸的傳感線圈22a-1、22a-2、22a-3、22a-4、朝向中心的Z坐標(biāo)是與第1Z坐標(biāo)不同的第2Z坐標(biāo)的Y軸的傳感線圈22b-1、22b-2、22b-3、22b-4、以及朝向中心的Z坐標(biāo)是與第1和第2Z坐標(biāo)不同的第3Z坐標(biāo)的Z軸的傳感線圈22c-1、22c-2、22c-3、22c-4的12個傳感線圈(以下由符號22j代表)。
傳感線圈22j經(jīng)由來自線圈單元23的未作圖示的電纜與檢測裝置21連接。該檢測裝置21設(shè)置有用于供使用者操作裝置的操作面板24。并且，該檢測裝置21在其上部配置有具有監(jiān)視器畫面25a的液晶監(jiān)視器25，作為顯示檢測出的內(nèi)窺鏡插入部的形狀(以下記為鏡體模型)的顯示單元。內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3如圖3所示，由以下部分構(gòu)成，即驅(qū)動源線圈14i的發(fā)送塊26，接收由線圈單元23內(nèi)的傳感線圈22j檢測出的信號的接收塊27，以及對由接收塊27所接收的信號進(jìn)行信號處理的控制塊28。
如圖4所示，在設(shè)置于電子內(nèi)窺鏡6的插入部7內(nèi)的探針15內(nèi)，如上所述，以規(guī)定間隔配置有用于生成磁場的16個源線圈14i。這些源線圈14i與構(gòu)成發(fā)送塊26的生成16個彼此不同頻率的驅(qū)動信號的源線圈驅(qū)動電路部31連接。
源線圈驅(qū)動電路部31根據(jù)各自不同頻率的正弦波的驅(qū)動信號來驅(qū)動各源線圈14i，各個驅(qū)動頻率是根據(jù)存儲在源線圈驅(qū)動電路部31內(nèi)部的未作圖示的驅(qū)動頻率設(shè)定數(shù)據(jù)存儲單元或驅(qū)動頻率設(shè)定數(shù)據(jù)保存單元內(nèi)的驅(qū)動頻率設(shè)定數(shù)據(jù)(也記為驅(qū)動頻率數(shù)據(jù))來設(shè)定的。該驅(qū)動頻率數(shù)據(jù)由在控制塊28中進(jìn)行內(nèi)窺鏡形狀計(jì)算處理等的形狀估計(jì)單元即CPU(中央處理單元)32經(jīng)由PIO(并行輸入輸出電路)33存儲在源線圈驅(qū)動電路部31內(nèi)的驅(qū)動頻率數(shù)據(jù)存儲單元(未作圖示)內(nèi)。
另一方面，線圈單元23內(nèi)的12個傳感線圈22j與構(gòu)成接收塊27的傳感線圈信號放大電路部34連接。
在傳感線圈信號放大電路部34中，如圖5所示構(gòu)成傳感線圈22j的12個單心線圈22k分別與放大電路35k連接來設(shè)置12個系統(tǒng)的處理系統(tǒng)，由各單心線圈22k檢測出的微小信號由放大電路35k放大，在濾波電路36k中具有源線圈組產(chǎn)生的多個頻率通過的頻帶，去除不需要的分量后被輸出到輸出緩沖器37k中，之后在ADC(模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器)38k中被轉(zhuǎn)換成控制塊28可讀入的數(shù)字信號。
另外，接收塊27由傳感線圈信號放大電路部34和ADC 38k構(gòu)成，傳感線圈信號放大電路部34由放大電路35k、濾波電路36k以及輸出緩沖器37k構(gòu)成。
回到圖4，該傳感線圈信號放大電路部34的12個系統(tǒng)的輸出被傳送到12個上述ADC 38k，根據(jù)從控制塊28內(nèi)的數(shù)值數(shù)據(jù)寫入單元即控制信號產(chǎn)生電路部40提供的時鐘被轉(zhuǎn)換成規(guī)定的取樣周期的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。該數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)根據(jù)來自控制信號產(chǎn)生電路部40的控制信號經(jīng)由局部數(shù)據(jù)總線41被寫入作為數(shù)據(jù)輸出單元的二端口存儲器42內(nèi)。
另外，二端口存儲器42如圖5所示，在功能上由局部控制器42a、第1RAM 42b、第2RAM42c以及總線開關(guān)42d構(gòu)成，按照圖6所示的定時，ADC 38k根據(jù)來自局部控制器42a的A/D轉(zhuǎn)換開始信號開始A/D轉(zhuǎn)換，總線開關(guān)42d根據(jù)來自局部控制器42a的切換信號在切換RAM42b、42c的同時，把RAM 42b、42c交替用作讀出存儲器和寫入存儲器，根據(jù)寫入信號，在電源接通后，始終進(jìn)行數(shù)據(jù)取入。
再次回到圖4，CPU 32根據(jù)來自控制信號產(chǎn)生電路部40的控制信號，經(jīng)由由局部數(shù)據(jù)總線43、PCI控制器44以及PCI總線45(參照圖5)構(gòu)成的內(nèi)部總線46讀出寫入在二端口存儲器42內(nèi)的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。然后，CPU32使用主存儲器47來對數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)進(jìn)行頻率提取處理(快速傅里葉變換FFT)，分離提取到與各源線圈14i的驅(qū)動頻率對應(yīng)的頻率分量的磁場檢測信息，根據(jù)所分離的磁場檢測信息的各數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)計(jì)算設(shè)置在插入電子內(nèi)窺鏡6的插入部7內(nèi)的探針15內(nèi)的各源線圈14i的空間位置坐標(biāo)。
并且，從計(jì)算出的位置坐標(biāo)數(shù)據(jù)估計(jì)電子內(nèi)窺鏡6的插入部7的插入狀態(tài)，生成形成鏡體模型的顯示數(shù)據(jù)，并將其輸出到視頻RAM 48中。視頻信號產(chǎn)生電路49讀出寫入到該視頻RAM 48內(nèi)的數(shù)據(jù)，并將其轉(zhuǎn)換成模擬視頻信號而輸出到液晶監(jiān)視器25。液晶監(jiān)視器25在輸入該模擬視頻信號時，在顯示畫面上顯示電子內(nèi)窺鏡6的插入部7的鏡體模型。
在CPU 32中，計(jì)算與各源線圈14i對應(yīng)的磁場檢測信息，即，在構(gòu)成各傳感線圈22j的單心線圈22k內(nèi)產(chǎn)生的電動勢(正弦波信號的振幅值)和相位信息。另外，相位信息表示電動勢的極性±。
并且，在本實(shí)施例中，如圖1所示，為了使檢測裝置21確認(rèn)插入體內(nèi)的插入部7的位置，體外標(biāo)志器57和基準(zhǔn)板58也能連接在檢測裝置21上來使用，所述體外標(biāo)志器57用于顯示在體外的位置，所述基準(zhǔn)板58通過安裝在患者5的腹部等上之類，用于即使患者5的體位發(fā)生變化也總是能從(患者5的)指定方向顯示鏡體模型等。
體外標(biāo)志器57在內(nèi)部收納有1個源線圈，該體外標(biāo)志器57的電纜59的基端的連接器59a與檢測裝置21自由拆裝地連接。
然后，通過連接該連接器59a，與探針15內(nèi)的源線圈的情況一樣，體外標(biāo)志器57的源線圈也被驅(qū)動，由線圈單元23檢測出的體外標(biāo)志器57的源線圈的位置也與鏡體模型一樣顯示在監(jiān)視器25上。
并且，基準(zhǔn)板58在其盤形狀部分的內(nèi)部配置有例如3個源線圈，與該3個源線圈連接的電纜60的基端的連接器60a與檢測裝置21自由拆裝地連接。
通過檢測該3個源線圈的位置來決定配置有這些源線圈的面。然后，該面用于進(jìn)行鏡體模型的描繪，以便在從垂直于該面的方向看到插入部7的情況下進(jìn)行觀察。
并且，如圖4所示，在本實(shí)施例中，檢測裝置21設(shè)置有分別連接探針15的連接器16a、體外標(biāo)志器57的連接器59a以及基準(zhǔn)板58的連接器60a的連接器插座21a、21b、21c，各連接器插座21a、21b、21c與源線圈驅(qū)動電路31連接。
如圖7所示，在電子內(nèi)窺鏡6中，配置有把照明光傳送到插入部7的光導(dǎo)100和具有多個源線圈14i的探針15，并且在插入部7的前端部內(nèi)設(shè)置有對被攝體進(jìn)行攝像的CCD 101。然后，根據(jù)來自視頻處理器10的驅(qū)動信號來驅(qū)動CCD 101，由CCD 101所攝像的攝像信號經(jīng)由緩沖電路102被傳送到視頻處理器10。驅(qū)動信號和攝像信號通過內(nèi)插到插入部7中的信號線99在視頻處理器10和CCD 101之間被收發(fā)。
另一方面，電子內(nèi)窺鏡6的基端側(cè)的操作部8設(shè)置有非易失性存儲器103，該非易失性存儲器103存儲有識別電子內(nèi)窺鏡6的鏡體ID數(shù)據(jù)和用于判別設(shè)置在探針15內(nèi)的源線圈14i的狀態(tài)的各種判別數(shù)據(jù)。非易失性存儲器103由可電改寫的快閃存儲器(R)等構(gòu)成。
該鏡體ID數(shù)據(jù)和各種判別數(shù)據(jù)在內(nèi)窺鏡系統(tǒng)1起動時，經(jīng)由視頻處理器10被取入內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3內(nèi)。在內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3中，如圖8所示，經(jīng)由控制信號產(chǎn)生電路部40把鏡體ID數(shù)據(jù)和各種判別數(shù)據(jù)(Rth1、Rth2、ΔR)存儲在例如二端口存儲器42的規(guī)定地址區(qū)域內(nèi)(參照圖4)。
內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的源線圈驅(qū)動電路部31如圖9所示，具有產(chǎn)生正弦波的振蕩器110，和將該正弦波放大并經(jīng)由開關(guān)部112使源線圈14i產(chǎn)生(驅(qū)動)交流磁場的放大器111。并且，開關(guān)部112可把直流電流切換到放大器111的輸出來提供給源線圈14i，在源線圈驅(qū)動電路部31內(nèi)設(shè)置有直流電阻值檢測部113，該直流電阻值檢測部113根據(jù)在開關(guān)部112把直流電流提供給源線圈14i時的電壓降來測定源線圈14i的直流電阻值。
源線圈驅(qū)動電路部31對應(yīng)于源線圈14i具有多個上述振蕩器110、放大器111、開關(guān)部112以及直流電阻值檢測部113，可在驅(qū)動多個源線圈14i的同時，測定多個源線圈14i的直流電阻值。所測定的多次，例如2次的直流電阻值Rold1、Rold2被存儲在二端口存儲器42的規(guī)定地址區(qū)域內(nèi)(參照圖8)。
對這樣構(gòu)成的本實(shí)施例中的內(nèi)窺鏡形狀檢測處理進(jìn)行說明。
當(dāng)內(nèi)窺鏡系統(tǒng)1起動時，視頻處理器10從電子內(nèi)窺鏡6的非易失性存儲器103中讀出鏡體ID數(shù)據(jù)和各種判別數(shù)據(jù)(Rth1、Rth2、ΔR)，把鏡體ID數(shù)據(jù)和各種判別數(shù)據(jù)(Rth1、Rth2、ΔR)發(fā)送到內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3。
內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的CPU 32如圖10所示，在步驟S1中經(jīng)由控制信號產(chǎn)生電路部40把鏡體ID數(shù)據(jù)和各種判別數(shù)據(jù)(Rth1、Rth2、ΔR)存儲在二端口存儲器42的規(guī)定地址區(qū)域內(nèi)(參照圖8)。
然后，內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的CPU 32在步驟S2中控制開關(guān)部112，把直流電流提供給源線圈14i，通過直流電阻值檢測部113檢測源線圈14i的直流電阻值Rnew。然后，CPU 32在步驟S3中判斷檢測出的電阻值Rnew相對于判別數(shù)據(jù)Rth1、Rth2是否滿足Rth1＜Rnew＜Rth2，在不滿足Rth1＜Rnew＜Rth2的情況下，CPU 32判斷為源線圈14i發(fā)生斷線或短路，在步驟S4中禁止使用探針15，把出錯顯示在監(jiān)視器25上，結(jié)束處理。
在滿足Rth1＜Rnew＜Rth2的情況下，CPU 32在步驟S5中從二端口存儲器42中讀出作為基準(zhǔn)值的過去值，例如上上次和上次檢測出的直流電阻值Rold1、Rold2，在步驟S6中計(jì)算電阻值Rold1、Rold2與電阻值Rnew之差，即變化量1＝|Rold1-Rnew|和變化量2＝|Rold2-Rnew|。
然后，CPU 32在步驟S7中把變化量1或變化量2和判別數(shù)據(jù)ΔR進(jìn)行比較，判斷是否滿足變化量1＞ΔR或者變化量2＞ΔR的任意一方。該變化量1和變化量2表示源線圈14i的電阻值的時效變化。
然后，CPU 32在判斷為滿足變化量1＞ΔR或變化量2＞ΔR的任意一方時，判斷為源線圈14i接近達(dá)到斷線或短路的時期，在步驟S8中把表示督促更換探針15的警告等顯示在監(jiān)視器25上，進(jìn)到步驟S9，當(dāng)變化量1和變化量2均在ΔR以內(nèi)時，從步驟S7直接進(jìn)到步驟S9。
然后，CPU 32在步驟S9中，在二端口存儲器42中把上上次電阻值改寫為Rold2，并把上次電阻值改寫為Rnew，結(jié)束處理。
另外，上述處理針對所有16個源線圈14i以時分方式進(jìn)行。而且，由于16個源線圈14i在形狀檢測時以時分方式進(jìn)行磁場驅(qū)動，因而上述處理中的步驟S2～步驟S9的處理可以在不進(jìn)行磁場驅(qū)動的期間內(nèi)，針對所有16個源線圈14i以時分方式持續(xù)進(jìn)行。并且，當(dāng)結(jié)束形狀檢測處理時，可以把存儲在二端口存儲器42內(nèi)的電阻值Rold1、Rold2最終存儲在電子內(nèi)窺鏡6的非易失性存儲器103內(nèi)，改寫非易失性存儲器103。
這樣在本實(shí)施例中，通過檢測各源線圈的直流電阻值(電氣物性)來判別源線圈的狀態(tài)，因而可根據(jù)判別結(jié)果監(jiān)視探針的時效變化，可適當(dāng)?shù)毓芾硖结槨?br> 另外，例如在日本國特許3290153號公報(bào)所提出的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置中，也考慮了以下情況，即顯示在作為顯示部的監(jiān)視器上的插入部的插入形狀圖形的一部分超出到監(jiān)視器的顯示區(qū)域外而產(chǎn)生整體未顯示的狀況。于是，在這種情況下，手術(shù)醫(yī)生針對插入部的插入形狀圖形中的超出而未顯示的部分，不能確認(rèn)插入部的狀態(tài)。
在本實(shí)施例中，在內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置描繪的插入形狀圖形的一部分被描繪在顯示部的規(guī)定區(qū)域外的情況下，通過進(jìn)行顯示變更處理，可把上述插入形狀圖形描繪在顯示部的區(qū)域內(nèi)。以下，使用圖1和圖11至圖17對詳情進(jìn)行說明。
如圖1所示，設(shè)置在內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的外裝面上的操作面板24例如由可把內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3進(jìn)行第1顯示變更處理和第2顯示變更處理的定時切換到自動或手動的任意一方的自動/手動切換開關(guān)、對內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3指示手動進(jìn)行第1顯示變更處理和第2顯示變更處理時的定時的開關(guān)等的多個開關(guān)構(gòu)成。在手術(shù)醫(yī)生手動進(jìn)行第1顯示變更處理和第2顯示變更處理的情況下，在把自動/手動切換開關(guān)設(shè)定為手動之后，通過在期望的定時按下開關(guān)，可進(jìn)行第1顯示變更處理和第2顯示變更處理。另外，第1顯示變更處理和第2顯示變更處理的詳細(xì)內(nèi)容在后面描述，并且，在本實(shí)施例的以下說明中，假定第1顯示變更處理和第2顯示變更處理把內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3進(jìn)行第1顯示變更處理和第2顯示變更處理的定時設(shè)定為自動。
并且，內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3如圖11所示，在內(nèi)部具有由驅(qū)動源線圈14i的源線圈驅(qū)動部231和經(jīng)由源線圈驅(qū)動部231來控制源線圈14i的磁場產(chǎn)生定時或頻率等的源線圈控制部232構(gòu)成的上述源線圈驅(qū)動電路部31；由上述傳感線圈信號放大電路部34和ADC 38k構(gòu)成的信號檢測部233；由上述二端口存儲器42構(gòu)成的信號記錄部234；由上述CPU 32實(shí)現(xiàn)的源線圈位置分析部235和圖像生成部236；以及由上述的視頻信號產(chǎn)生電路49構(gòu)成的監(jiān)視器驅(qū)動部239。并且，圖像生成部236由插入形狀圖像生成部236a、存儲部236b以及顯示變更部236c構(gòu)成。
作為檢測部的信號檢測部233檢測從線圈單元23所輸出的磁場信號，把該磁場信號放大到可進(jìn)行信號處理的電平來輸出。
信號記錄部234臨時記錄從信號檢測部233所輸出的磁場信號。
源線圈位置分析部235根據(jù)記錄在信號記錄部234內(nèi)的磁場信號分析源線圈14i的三維位置坐標(biāo)，作為三維位置坐標(biāo)信息信號來輸出。
插入形狀圖像生成部236a根據(jù)從源線圈位置分析部235所輸出的源線圈14i的三維位置坐標(biāo)信息信號來計(jì)算插入部7的三維形狀。并且，插入形狀圖像生成部236a根據(jù)計(jì)算出的插入部7的三維形狀生成插入部7的插入形狀圖形，作為圖像信號即插入形狀圖形信號來輸出。
存儲部236b臨時記錄從插入形狀圖像生成部236a所輸出的插入部7的插入形狀圖形信號。
顯示變更部236c根據(jù)記錄在存儲部236b內(nèi)的插入形狀圖形信號進(jìn)行坐標(biāo)校正，使得插入形狀圖像生成部236a所生成的插入部7的插入形狀圖形的一部分或全部描繪在監(jiān)視器畫面25a內(nèi)的二維坐標(biāo)上，并輸出進(jìn)行了坐標(biāo)校正后的插入形狀圖形信號。并且，在顯示于作為顯示部的監(jiān)視器上的插入部的插入形狀圖形的一部分被描繪在監(jiān)視器畫面25a中的規(guī)定區(qū)域外的情況下，顯示變更部236c根據(jù)記錄在存儲部236b內(nèi)的插入形狀圖形信號進(jìn)行規(guī)定的顯示變更處理，使得插入形狀圖像生成部236a所生成的該插入形狀圖形描繪在監(jiān)視器畫面25a內(nèi)的規(guī)定區(qū)域內(nèi)，并輸出進(jìn)行了規(guī)定的顯示變更處理后的插入形狀圖形信號。另外，作為上述規(guī)定的顯示變更處理的第1顯示變更處理和第2顯示變更處理的詳細(xì)內(nèi)容在后面描述。
監(jiān)視器驅(qū)動部239根據(jù)從顯示變更部236c所輸出的插入形狀圖形信號驅(qū)動監(jiān)視器25，把插入部7的插入形狀圖形描繪在監(jiān)視器畫面25a上。
首先，手術(shù)醫(yī)生把插入形狀檢測用探針15從探針插入口12a插入電子內(nèi)窺鏡6內(nèi)。之后，手術(shù)醫(yī)生將電子內(nèi)窺鏡6的通用連接纜9連接在視頻處理器10上，將插入形狀檢測用探針15的電纜16連接在內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3上，把電子內(nèi)窺鏡6的插入部7插入患者5的體腔內(nèi)。于是，CCD 101對體腔內(nèi)的像進(jìn)行攝像，把所攝像的該體腔內(nèi)的像作為攝像信號來輸出。然后，視頻處理器10根據(jù)從CCD 101所輸出的攝像信號進(jìn)行圖像處理等，把進(jìn)行了圖像處理等后的攝像信號輸出到監(jiān)視器11。監(jiān)視器11根據(jù)從視頻處理器10所輸出的攝像信號來對電子內(nèi)窺鏡6所攝像的體腔內(nèi)的像進(jìn)行圖像顯示。
并且，內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的源線圈控制部232經(jīng)由源線圈驅(qū)動部231對各個源線圈14i進(jìn)行控制，以使各個源線圈14i在不同定時產(chǎn)生磁場。源線圈14i根據(jù)源線圈控制部232的控制內(nèi)容來產(chǎn)生與體腔內(nèi)的插入部7的插入形狀對應(yīng)的磁場。源線圈14i所產(chǎn)生的上述磁場由線圈單元23檢測，線圈單元23輸出基于上述磁場的磁場信號。
線圈單元23所輸出的磁場信號在內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的信號檢測部233中被檢測，之后被放大到可進(jìn)行信號處理的電平來輸出，被臨時記錄在信號記錄部234內(nèi)。源線圈位置分析部235根據(jù)記錄在信號記錄部234內(nèi)的磁場信號來分析各個源線圈14i的三維位置坐標(biāo)，作為三維位置坐標(biāo)信息來輸出。插入形狀圖像生成部236a根據(jù)從源線圈位置分析部235所輸出的各個源線圈14i的三維位置坐標(biāo)信息信號來計(jì)算插入部7的三維形狀，之后根據(jù)計(jì)算出的插入部7的三維形狀生成插入部7的插入形狀圖形，作為插入形狀圖形信號來輸出。存儲部236b臨時記錄從插入形狀圖像生成部236a所輸出的插入部7的插入形狀圖形信號。顯示變更部236c根據(jù)記錄在存儲部236b內(nèi)的插入形狀圖形信號來進(jìn)行坐標(biāo)校正，使得插入形狀圖像生成部236a所生成的插入部7的插入形狀圖形的一部分或全部描繪在監(jiān)視器畫面25a內(nèi)的二維坐標(biāo)上，并輸出進(jìn)行了坐標(biāo)校正后的插入形狀圖形信號。監(jiān)視器驅(qū)動部239根據(jù)從顯示變更部236c所輸出的插入形狀圖形信號驅(qū)動監(jiān)視器25，把例如圖12所示的插入部7的插入形狀圖形描繪在監(jiān)視器畫面25a上(圖13的步驟S101插入形狀圖形的生成步驟)。
這里，例如當(dāng)手術(shù)醫(yī)生把插入部7插入體腔內(nèi)的深部時，插入部7的插入形狀有時被描繪成圖14所示的插入形狀圖形。在這種情況下，顯示變更部236c判定描繪在監(jiān)視器畫面25a上的插入形狀圖形的基端側(cè)的中心部是否被描繪在圖14所示的包含監(jiān)視器畫面25a內(nèi)的橫軸的中心部Xc的坐標(biāo)X1至坐標(biāo)X2之間的區(qū)域即第1區(qū)域內(nèi)(圖13的步驟S102插入形狀圖形的位置檢測步驟)。該判定是例如在根據(jù)圖像的像素值的差檢測出監(jiān)視器畫面25a的橫軸方向上的插入形狀圖形的基端側(cè)的位置之后，根據(jù)該檢測出的位置是否在該橫軸方向上的坐標(biāo)X1和坐標(biāo)X2之間來進(jìn)行的。另外，圖14和圖15所描繪的虛線是用于表示第1區(qū)域的假想虛線，因而實(shí)際上不顯示在監(jiān)視器畫面25a上。
當(dāng)根據(jù)上述判定結(jié)果，檢測出描繪在監(jiān)視器畫面25a上的插入形狀圖形的基端側(cè)的中心部被描繪在第1區(qū)域外時，顯示變更部236c進(jìn)行根據(jù)記錄在存儲部236b內(nèi)的插入形狀圖形信號來變更該插入形狀圖形的描繪位置的第1顯示變更處理即描繪位置變更處理(圖13的步驟S103插入形狀圖形的位置變更步驟)，使得該插入形狀圖形的基端側(cè)的中心部描繪在監(jiān)視器畫面25a內(nèi)的橫軸的中心部Xc，并輸出進(jìn)行了描繪位置變更處理后的插入形狀圖形信號。當(dāng)監(jiān)視器驅(qū)動部239根據(jù)從顯示變更部236c所輸出的插入形狀圖形信號驅(qū)動監(jiān)視器9時，在監(jiān)視器畫面25a上描繪出例如圖15所示的進(jìn)行了描繪位置變更后的插入部7的插入形狀圖形(圖13的步驟S104位置變更插入形狀圖形的生成步驟)。另外，在描繪于監(jiān)視器畫面25a上的插入形狀圖形的基端側(cè)的中心部被描繪在圖14所示的X1至X2之間的區(qū)域內(nèi)的情況下，不進(jìn)行上述的描繪位置變更處理。并且，監(jiān)視器畫面25a中的坐標(biāo)X1和坐標(biāo)X2是記錄在設(shè)置于顯示變更部236c內(nèi)的未作圖示的存儲器等內(nèi)的值，例如，可以是由手術(shù)醫(yī)生操作內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的操作面板24來變更為期望值的值，并且也可以是預(yù)先設(shè)定的固定值。
并且，例如當(dāng)手術(shù)醫(yī)生把插入部7插入體腔內(nèi)的深部時，插入部7的插入形狀有時被描繪成圖16所示的插入形狀圖形。在這種情況下，顯示變更部236c判定描繪在監(jiān)視器畫面25a上的插入形狀圖形的整體是否被描繪在圖16所示的監(jiān)視器畫面25a內(nèi)的框A內(nèi)的區(qū)域即第2區(qū)域內(nèi)(圖13的步驟S105插入形狀圖形的尺寸檢測步驟)。該判定是例如根據(jù)圖像的像素值的差檢測監(jiān)視器畫面25a的框A的范圍外是否有插入形狀圖形來進(jìn)行的。另外，在圖16中，由虛線描繪的框A是用于表示第2區(qū)域的假想框，因而實(shí)際上不顯示在監(jiān)視器畫面25a上。
當(dāng)根據(jù)上述判定結(jié)果，檢測出描繪在監(jiān)視器畫面25a上的插入形狀圖形的至少一部分被描繪在第2區(qū)域外時，顯示變更部236c進(jìn)行根據(jù)記錄在存儲部236b內(nèi)的插入形狀圖形信號來變更該插入形狀圖形的整體的放大率的第2顯示變更處理即描繪尺寸變更處理(圖13的步驟S106插入形狀圖形的尺寸變更步驟)，使得該插入形狀圖形的整體描繪在監(jiān)視器畫面25a內(nèi)的框B內(nèi)的區(qū)域即第3區(qū)域內(nèi)，并輸出進(jìn)行了描繪尺寸變更處理后的插入形狀圖形信號。另外，在圖17中，由虛線描繪的框B是用于表示第3區(qū)域的假想框，因而實(shí)際上不顯示在監(jiān)視器畫面25a上。
當(dāng)監(jiān)視器驅(qū)動部239根據(jù)從顯示變更部236c所輸出的插入形狀圖形信號來驅(qū)動監(jiān)視器25時，在監(jiān)視器畫面25a上描繪出例如圖17所示的變更了描繪尺寸后的插入部7的插入形狀圖形(圖13的步驟S107尺寸變更插入形狀圖形的生成步驟)。另外，在描繪于監(jiān)視器畫面25a上的插入形狀圖形的整體被描繪在圖16所示的框A內(nèi)的區(qū)域內(nèi)的情況下，不進(jìn)行上述的描繪尺寸變更處理。并且，監(jiān)視器畫面25a中的框A和框B是記錄在設(shè)置于顯示變更部236c內(nèi)的未作圖示的存儲器等內(nèi)的區(qū)域，例如，可以是通過手術(shù)醫(yī)生操作內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的操作面板24，可變更為期望的區(qū)域?qū)挾?、期望位置等的區(qū)域，并且也可以是預(yù)先設(shè)定的固定區(qū)域。
本實(shí)施例的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3如上所述，在插入部7的插入形狀圖形的基端側(cè)的中心部被描繪在監(jiān)視器畫面25a的第1區(qū)域外的情況下，通過對該插入形狀圖形進(jìn)行描繪位置變更處理，可把該插入形狀圖形的整體描繪在第1區(qū)域內(nèi)。并且，本實(shí)施例的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3如上所述，在插入部7的插入形狀圖形的至少一部分被描繪在監(jiān)視器畫面25a的第2區(qū)域外的情況下，通過對該插入形狀圖形進(jìn)行描繪尺寸變更處理，可把該插入形狀圖形的整體描繪在比第2區(qū)域窄的第3區(qū)域內(nèi)。根據(jù)本實(shí)施例的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3具有的這種效果，手術(shù)醫(yī)生可比以往更順利地進(jìn)行電子內(nèi)窺鏡6的插入操作。
(實(shí)施例2)圖18至圖20涉及本發(fā)明的實(shí)施例2，圖18是示出內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置的源線圈驅(qū)動電路部的結(jié)構(gòu)的圖，圖19是示出二端口存儲器的內(nèi)存映射的圖，圖20是對內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的作用進(jìn)行說明的流程圖。
由于實(shí)施例2與實(shí)施例1幾乎相同，因而僅對不同點(diǎn)進(jìn)行說明，對同一結(jié)構(gòu)附上相同符號并省略說明。
在本實(shí)施例中，如圖18所示，內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的源線圈驅(qū)動電路部31構(gòu)成為具有源線圈14i的數(shù)量的多個振蕩器110，放大器111，測定流入源線圈14i內(nèi)的交流電流的電流檢測部114，測定對源線圈14i施加的交流電壓的電壓檢測部115，以及根據(jù)所測定的交流電流和交流電壓來計(jì)算源線圈14i的阻抗Znew的阻抗計(jì)算部116。
并且，非易失性存儲器103的鏡體ID數(shù)據(jù)和各種判別數(shù)據(jù)在內(nèi)窺鏡系統(tǒng)1起動時，經(jīng)由視頻處理器10被取入內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3內(nèi)。在內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3中，如圖19所示，經(jīng)由控制信號產(chǎn)生電路部40把鏡體ID數(shù)據(jù)和各種判別數(shù)據(jù)(Zth1、Zth2、ΔZ)存儲在二端口存儲器42的規(guī)定地址區(qū)域內(nèi)。
其他結(jié)構(gòu)與實(shí)施例1相同。對這樣構(gòu)成的本實(shí)施例中的內(nèi)窺鏡形狀檢測處理進(jìn)行說明。
當(dāng)內(nèi)窺鏡系統(tǒng)1起動時，視頻處理器10從電子內(nèi)窺鏡6的非易失性存儲器103中讀出鏡體ID數(shù)據(jù)和各種判別數(shù)據(jù)(Zth1、Zth2、ΔZ)，把鏡體ID數(shù)據(jù)和各種判別數(shù)據(jù)(Zth1、Zth2、ΔZ)發(fā)送到內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3。
內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的CPU 32如圖20所示，在步驟S 11中經(jīng)由控制信號產(chǎn)生電路部40把鏡體ID數(shù)據(jù)和各種判別數(shù)據(jù)(Zth1、Zth2、ΔZ)存儲在二端口存儲器42的規(guī)定地址區(qū)域內(nèi)(參照圖19)。
然后，內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的CPU 32在步驟S12中通過電流檢測部114測定流入源線圈14i內(nèi)的交流電流，并通過電壓檢測部115測定對源線圈14i施加的交流電壓，在阻抗計(jì)算部116中根據(jù)所測定的交流電流和交流電壓來計(jì)算源線圈14i的阻抗Znew。
然后，CPU 32在步驟S13中判斷檢測出的阻抗Znew相對于判別數(shù)據(jù)Zth1、Zth2是否滿足|Zth1|＜|Znew|＜|Zth2|，在不滿足|Zth1|＜|Znew|＜|Zth2|的情況下，CPU 32判斷為源線圈14i發(fā)生斷線或短路，在步驟S14中禁止使用探針15，把出錯顯示在監(jiān)視器25上，結(jié)束處理。
在滿足|Zth1|＜|Znew|＜|Zth2|的情況下，CPU 32在步驟S15中從二端口存儲器42中讀出上上次和上次檢測出的阻抗Zold1、Zold2，在步驟S16中計(jì)算阻抗Zold1、Zold2與阻抗Znew之差，即變化量1＝||Zold1|-|Znew||和變化量2＝||Zold2|-|Znew||。
然后，CPU 32在步驟S17中把變化量1或變化量2和判別數(shù)據(jù)ΔZ進(jìn)行比較，判斷是否滿足變化量1＞ΔZ或變化量2＞ΔZ的任意一方。該變化量1和變化量2表示源線圈14i的阻抗的時效變化。
另外，CPU 32在判斷為滿足變化量1＞ΔZ或變化量2＞ΔZ的任意一方時，判斷為源線圈14i接近達(dá)到斷線或短路的時期，在步驟S18中把表示督促更換探針15的警告等顯示在監(jiān)視器25上，進(jìn)到步驟S19，當(dāng)變化量1和變化量2均在ΔZ以內(nèi)時，從步驟S17直接進(jìn)到步驟S19。
然后，CPU 32在步驟S19中，在二端口存儲器42中把上上次阻抗改寫為Zold2，把上次阻抗改寫為Znew，結(jié)束處理。
另外，上述處理是針對所有16個源線圈14i以時分方式進(jìn)行的。而且，由于16個源線圈14i在形狀檢測時以時分方式進(jìn)行磁場驅(qū)動，因而上述處理中的步驟S12～步驟S19的處理可以在不進(jìn)行磁場驅(qū)動的期間內(nèi)，針對所有16個源線圈14i以時分方式持續(xù)進(jìn)行。并且，當(dāng)結(jié)束形狀檢測處理時，可以把存儲在二端口存儲器42內(nèi)的阻抗Zold1、Zold2最終存儲在電子內(nèi)窺鏡6的非易失性存儲器103內(nèi)，改寫非易失性存儲器103。
這樣在本實(shí)施例中，也能取得與實(shí)施例1相同的效果。
(實(shí)施例3)圖21至圖25涉及本發(fā)明的實(shí)施例3，圖21是示出內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置的源線圈驅(qū)動電路部的結(jié)構(gòu)的圖，圖22是對內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的作用進(jìn)行說明的流程圖，圖23是對圖22的處理進(jìn)行說明的說明圖，圖24是示出圖21的源線圈驅(qū)動電路部的變形例的結(jié)構(gòu)的圖，圖25是對圖24的源線圈驅(qū)動電路部的作用進(jìn)行說明的說明圖。
由于實(shí)施例3與實(shí)施例2幾乎相同，因而僅對不同點(diǎn)進(jìn)行說明，對同一結(jié)構(gòu)附上相同符號并省略說明。
在本實(shí)施例中，如圖21所示，CPU 32構(gòu)成為根據(jù)由阻抗計(jì)算部116計(jì)算出的源線圈14i的阻抗Z來控制振蕩器110的輸出電壓值。其他結(jié)構(gòu)與實(shí)施例2相同。
對這樣構(gòu)成的本實(shí)施例中的內(nèi)窺鏡形狀檢測處理進(jìn)行說明。
如圖22所示，步驟S11～S14與實(shí)施例2相同，當(dāng)步驟S11～S14的處理結(jié)束時，CPU 32在步驟S21中根據(jù)由阻抗計(jì)算部116計(jì)算出的源線圈14i的阻抗Z來控制振蕩器110的輸出電壓值，結(jié)束處理。其他作用與實(shí)施例2相同。
這里，對在步驟S21中根據(jù)源線圈14i的阻抗Z來控制振蕩器110的輸出電壓值進(jìn)行說明。
如圖23所示的源線圈14i的等效電路那樣，當(dāng)把探針15的電纜電阻設(shè)為r1、r2，把源線圈14i的直流電阻設(shè)為rc，把源線圈14i的電感設(shè)為Lc，把流入源線圈14i內(nèi)的電流設(shè)為I，把放大器111的輸出電壓設(shè)為V，把放大器111的輸出頻率設(shè)為f，以及設(shè)R＝r1+r2+rc時，從源線圈14i產(chǎn)生的磁場Φ和從放大器111看到的阻抗Z分別為Φ＝Lc·I|Z|＝(R2+(2πfLc)2)1/2由于I＝V/|Z|，因而CPU 32根據(jù)|Z|控制振蕩器110的輸出電壓值來設(shè)定V，以使I為規(guī)定的電流值，從而得到恒定的磁場輸出，而與R即r1、r2、rc無關(guān)。
另外，如圖24所示，內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的源線圈驅(qū)動電路部31可以采用使實(shí)施例1和實(shí)施例2組合而成的結(jié)構(gòu)，可以分別檢測源線圈14i的直流電阻值和阻抗。
在圖24的結(jié)構(gòu)的情況下，可檢測直流電阻R，CPU 32可根據(jù)阻抗Z和直流電阻R求出電感Lc。因此，控制振蕩器110的輸出電壓值來設(shè)定V，以使Φ＝Lc·I＝Lc·V/|Z|為規(guī)定值，從而得到恒定的磁場輸出。
作為圖24的結(jié)構(gòu)的情況的處理，如圖25所示，可以在進(jìn)行了實(shí)施例2的步驟S11～S19的處理后，進(jìn)行步驟S21的處理。
這樣在本實(shí)施例中，可根據(jù)線圈的電氣物性，把源線圈磁場控制在恒定的磁場輸出。
(實(shí)施例4)圖26至圖36涉及本發(fā)明的實(shí)施例4，圖26是示出內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置的源線圈驅(qū)動電路部的結(jié)構(gòu)的圖，圖27是示出圖26的增益可變放大器部的結(jié)構(gòu)的圖，圖28是對內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的作用進(jìn)行說明的流程圖，圖29是示出圖27的增益可變放大器部的第1變形例的結(jié)構(gòu)的圖，圖30是示出圖27的增益可變放大器部的第2變形例的結(jié)構(gòu)的圖，圖31是圖28的變形例的流程圖，圖32是示出二端口存儲器的內(nèi)存映射的圖，圖33是對內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的變形例的作用進(jìn)行說明的流程圖，圖34是示出二端口存儲器的變形例的內(nèi)存映射的圖，圖35是對存儲在二端口存儲器內(nèi)的數(shù)據(jù)的變形例進(jìn)行說明的圖，圖36是示出內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的變形例的圖。
由于實(shí)施例4與實(shí)施例3幾乎相同，因而僅對不同點(diǎn)進(jìn)行說明，對同一結(jié)構(gòu)附上相同符號并省略說明。
在本實(shí)施例中，如圖26所示，設(shè)置可通過CPU 32的控制使增益可變的增益可變放大器部111a來取代放大器111。
如圖27所示，增益可變放大器部111a由使來自振蕩器110的正弦波放大并使源線圈產(chǎn)生(驅(qū)動)交流磁場的GCA(增益控制放大器)121、和把增益設(shè)定數(shù)據(jù)(運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù))轉(zhuǎn)換成8位串行數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換部122構(gòu)成，根據(jù)來自數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換部122的串行增益設(shè)定數(shù)據(jù)來設(shè)定GCA121的增益，從而驅(qū)動多個源線圈14i。
其他結(jié)構(gòu)與實(shí)施例3相同。
對這樣構(gòu)成的本實(shí)施例中的內(nèi)窺鏡形狀檢測處理進(jìn)行說明。
如圖28所示，步驟S11～S14與實(shí)施例3相同，當(dāng)步驟S11～S14的處理結(jié)束時，CPU 32在步驟S22中根據(jù)由阻抗計(jì)算部116計(jì)算出的源線圈14i的阻抗Z控制增益可變放大器部111a的GCA的增益，結(jié)束處理。其他作用與實(shí)施例3相同。
另外，使用增益設(shè)定數(shù)據(jù)來設(shè)定GCA 121的增益，然而不限于此，例如如圖29所示，可以使用切換多個反饋電阻來設(shè)定增益的運(yùn)算放大器131、和把增益設(shè)定數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成設(shè)定運(yùn)算放大器131的反饋電阻的并行數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換部132來構(gòu)成增益可變放大器部111a，如圖30所示，也可以使用數(shù)字電位計(jì)141來構(gòu)成運(yùn)算放大器131的反饋電阻，可以設(shè)置把增益設(shè)定數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成數(shù)字電位計(jì)141的控制信號的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換部142來構(gòu)成增益可變放大器部111a。
另外，內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的源線圈驅(qū)動電路部31可以采用使實(shí)施例1和實(shí)施例2組合而成的結(jié)構(gòu)，可以分別檢測源線圈14i的直流電阻值和阻抗。在該情況下，如圖31所示，可以在進(jìn)行了實(shí)施例2的步驟S11～S19的處理后，進(jìn)行步驟S22的處理。
另外，例如在日本國特開2003-290129號公報(bào)等中公開了一種使用磁場來檢測內(nèi)窺鏡形狀、并顯示檢測出的內(nèi)窺鏡形狀的裝置。然后，驅(qū)動在插入體內(nèi)的內(nèi)窺鏡的插入部內(nèi)以規(guī)定間隔配置的多個磁場產(chǎn)生元件從而在其周圍產(chǎn)生磁場，使用配置在體外的磁場檢測元件來檢測各磁場產(chǎn)生元件的三維位置，生成使各磁場產(chǎn)生元件連續(xù)性連接的曲線，通過顯示單元顯示模型化后的插入部的三維圖像。
手術(shù)醫(yī)生等通過觀察該圖像，可把握插入體內(nèi)的插入部的前端部的位置和插入形狀等，可順利地進(jìn)行插入到目標(biāo)部位的作業(yè)等。
然而，在上述特開2003-290129號公報(bào)的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置中，使用振蕩器產(chǎn)生正弦波，使用放大器進(jìn)行放大，使正弦波電流流入線圈內(nèi)，產(chǎn)生(驅(qū)動)交流磁場，然而由于放大器的增益是固定的，因而當(dāng)線圈種類改變時，不能進(jìn)行適當(dāng)?shù)尿?qū)動。
即，在粗的內(nèi)窺鏡中使用大的線圈，在細(xì)的內(nèi)窺鏡中使用小的線圈，并且導(dǎo)線長度等也不同(由于內(nèi)窺鏡的插入部的長度、素材→細(xì)，因而直流電阻高。驅(qū)動時不能忽略。)。其結(jié)果，當(dāng)線圈種類改變時，阻抗也改變，存在例如電流過大而使線圈燒斷的可能性、或者電流過小而只能產(chǎn)生弱磁場的可能性。
這些可根據(jù)要使用的線圈來變更處理工序或數(shù)據(jù)，以此來解決，然而由于每次變更使用的內(nèi)窺鏡時所配置的線圈的種類不同，因而會需要頻繁進(jìn)行軟件或數(shù)據(jù)的更新。
在本實(shí)施例4中，可根據(jù)最佳的線圈數(shù)據(jù)簡單地進(jìn)行形狀檢測和估計(jì)，而不更新軟件或數(shù)據(jù)。以下，使用圖32至圖36對詳情進(jìn)行說明。
如圖7所示，電子內(nèi)窺鏡6的基端側(cè)的操作部8設(shè)置有非易失性存儲器103，該非易失性存儲器103存儲有識別上述的電子內(nèi)窺鏡6的鏡體ID數(shù)據(jù)和用于判別設(shè)置在探針15內(nèi)的源線圈14i的狀態(tài)的各種判別數(shù)據(jù)，此外還存儲有運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù)，即在驅(qū)動設(shè)置于探針15內(nèi)的源線圈14i時使用的驅(qū)動信號的增益設(shè)定數(shù)據(jù)。
該增益設(shè)定數(shù)據(jù)(運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù))在內(nèi)窺鏡系統(tǒng)1起動時，經(jīng)由視頻處理器10被取入內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3內(nèi)。在內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3中，如圖32所示，經(jīng)由控制信號產(chǎn)生電路部40(數(shù)值數(shù)據(jù)寫入單元)把增益設(shè)定數(shù)據(jù)(運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù))存儲在例如二端口存儲器42的第2RAM 42c的規(guī)定地址區(qū)域內(nèi)(參照圖4)。
內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的源線圈驅(qū)動電路部31由圖27所示的增益可變放大器部111a構(gòu)成。即，源線圈驅(qū)動電路部31如圖27所示，具有多個線圈驅(qū)動部111a，該線圈驅(qū)動部111a由以下部分構(gòu)成，即產(chǎn)生正弦波的振蕩器110，將該正弦波放大并使源線圈產(chǎn)生(驅(qū)動)交流磁場的GCA 121，以及把增益設(shè)定數(shù)據(jù)(運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù))轉(zhuǎn)換成8位串行數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換部122，源線圈驅(qū)動電路部31根據(jù)來自數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換部122的串行增益設(shè)定數(shù)據(jù)來設(shè)定GCA 121的增益，從而驅(qū)動多個源線圈14i。
內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的CPU 32在內(nèi)窺鏡系統(tǒng)1起動時，如圖33所示，在步驟S201中，視頻處理器10從電子內(nèi)窺鏡6的非易失性存儲器103中讀出增益設(shè)定數(shù)據(jù)(運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù))，把增益設(shè)定數(shù)據(jù)(運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù))發(fā)送到內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3。
然后，在步驟S202中，內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3的CPU 32經(jīng)由控制信號產(chǎn)生電路部40把增益設(shè)定數(shù)據(jù)(運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù))存儲在二端口存儲器42的第2RAM 42c的規(guī)定地址區(qū)域內(nèi)(參照圖32)。
例如，在作為配置于電子內(nèi)窺鏡6內(nèi)的探針15的源線圈的驅(qū)動條件而把GCA 121的增益設(shè)定值設(shè)定為“11001000”的情況下，該數(shù)據(jù)“11001000”作為增益設(shè)定數(shù)據(jù)(運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù))被存儲在非易失性存儲器103內(nèi)，數(shù)據(jù)“11001000”被寫入二端口存儲器42的第2RAM42c的規(guī)定地址區(qū)域內(nèi)。
此時在該規(guī)定地址區(qū)域內(nèi)存儲有默認(rèn)的增益設(shè)定數(shù)據(jù)、或者上次使用內(nèi)窺鏡系統(tǒng)1時的電子內(nèi)窺鏡6的增益設(shè)定數(shù)據(jù)，因而CPU 32進(jìn)行改寫規(guī)定地址區(qū)域的數(shù)據(jù)的處理，存儲增益設(shè)定數(shù)據(jù)(運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù))。
然后，在步驟S203中從第2RAM 42c的規(guī)定地址區(qū)域中讀出增益設(shè)定數(shù)據(jù)(運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù))，輸出到源線圈驅(qū)動電路部31(參照圖27)。由此，在源線圈驅(qū)動電路部31中，增益設(shè)定數(shù)據(jù)(運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù))由數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換部122轉(zhuǎn)換成串行增益設(shè)定數(shù)據(jù)，GCA 121的增益被設(shè)定為與配置在電子內(nèi)窺鏡6內(nèi)的探針15對應(yīng)的設(shè)定值。
然后，在步驟S204中驅(qū)動源線圈14i來進(jìn)行內(nèi)窺鏡形狀檢測，把檢測出的內(nèi)窺鏡形狀顯示在液晶監(jiān)視器25上，結(jié)束處理。
這樣，把與配置在電子內(nèi)窺鏡6內(nèi)的探針15的源線圈對應(yīng)的運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù)即增益設(shè)定數(shù)據(jù)從電子內(nèi)窺鏡6的非易失性存儲器103經(jīng)由視頻處理器10存儲在二端口存儲器42的第2RAM 42c的規(guī)定地址區(qū)域內(nèi)，使用該增益設(shè)定數(shù)據(jù)來直接設(shè)定GCA 121的增益，因而針對每個所連接的探針15，都能在最佳的驅(qū)動條件下簡單地驅(qū)動源線圈，而不更新軟件或數(shù)據(jù)表。
另外，在圖27中，在源線圈驅(qū)動電路部31中使用增益設(shè)定數(shù)據(jù)來設(shè)定GCA 121的增益，然而不限于此，可以使用例如圖29所示的增益可變放大器部111a來構(gòu)成源線圈驅(qū)動電路部31，也可以使用圖30所示的增益可變放大器部111a來構(gòu)成源線圈驅(qū)動電路部31。
并且，作為運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù)，以增益設(shè)定數(shù)據(jù)為例作了說明，然而不限于此，可以把例如配置在探針15內(nèi)的源線圈的個數(shù)和線圈間隔作為運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù)存儲在電子內(nèi)窺鏡6的非易失性存儲器103內(nèi)，如圖34所示，把表示源線圈的個數(shù)和線圈間隔的數(shù)據(jù)寫入二端口存儲器42的第2RAM 42c的規(guī)定地址區(qū)域內(nèi)。
內(nèi)窺鏡種類有各種，有插入部長度不同的內(nèi)窺鏡。長的插入部線圈個數(shù)多，短的插入部線圈個數(shù)少。例如在日本國特開2000-93986號公報(bào)的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置中，在彎曲部中把線圈間隔配置得較窄，在軟性部中把線圈間隔配置得較寬。
并且，在日本國特開2003-245242號公報(bào)的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置中，在描繪內(nèi)窺鏡形狀時進(jìn)行內(nèi)插處理來描繪平滑的形狀。該處理需要線圈間隔/線圈個數(shù)。
并且，還有在日本國特開2001-231743號公報(bào)中的具有2個部位的彎曲部的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置。
因此，如圖35所示，例如在源線圈的個數(shù)是10個、線圈間隔從內(nèi)窺鏡前端到第5個線圈是5cm、從第5個線圈到第10個線圈是10cm的情況下，把對“10、5、5、5、5、5、10、10、10、10、10”作了編碼后的結(jié)果作為運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù)存儲在電子內(nèi)窺鏡6的非易失性存儲器103內(nèi)，如圖34所示，把表示源線圈的個數(shù)和線圈間隔的數(shù)據(jù)寫入二端口存儲器42的第2RAM 42c的規(guī)定地址區(qū)域內(nèi)，由此，內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3可以使用該數(shù)據(jù)來描繪形狀。
另外，內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3經(jīng)由視頻處理器10取入存儲在電子內(nèi)窺鏡6的非易失性存儲器103內(nèi)的運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù)，然而不限于此，內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置3可以直接取入存儲在電子內(nèi)窺鏡6的非易失性存儲器103內(nèi)的運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù)。
并且，把存儲在電子內(nèi)窺鏡6的非易失性存儲器103內(nèi)的運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù)存儲在單獨(dú)的存儲卡(未作圖示)內(nèi)，在使用該電子內(nèi)窺鏡時，如圖36所示，可以把存儲卡插入設(shè)置在內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置內(nèi)的槽351內(nèi)，讀出運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù)，即使在不具有非易失性存儲器103的電子內(nèi)窺鏡中也能應(yīng)用本實(shí)施例，并且即使不經(jīng)由視頻處理器10也能通過槽351取入運(yùn)算/設(shè)定數(shù)值數(shù)據(jù)。
本發(fā)明不限于上述的實(shí)施例，可在不改變本發(fā)明要旨的范圍內(nèi)進(jìn)行各種變更、改變等。
權(quán)利要求
1.一種內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，其特征在于，該內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置具有檢測部，其把多個磁場產(chǎn)生元件和多個磁場檢測元件中的一方的元件配置在插入被檢體內(nèi)的內(nèi)窺鏡的插入部內(nèi)部，把另一方的元件配置在被檢體外部，把上述另一方的元件的位置用作基準(zhǔn)來檢測配置在上述插入部內(nèi)部的一方的元件的各位置；形狀估計(jì)部，其根據(jù)上述檢測部的檢測結(jié)果估計(jì)內(nèi)窺鏡插入部的形狀；物性值檢測部，其檢測上述磁場產(chǎn)生元件的電氣物性值；存儲部，其存儲上述電氣物性值的基準(zhǔn)值；以及狀態(tài)檢測部，其根據(jù)上述物性值檢測部檢測出的上述磁場產(chǎn)生元件的電氣物性值和上述基準(zhǔn)值來檢測上述磁場產(chǎn)生元件的狀態(tài)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，其特征在于，上述存儲部存儲由上述物性值檢測部檢測出的上述磁場產(chǎn)生元件的電氣物性值的過去值作為上述基準(zhǔn)值；上述狀態(tài)檢測部根據(jù)存儲在上述存儲部內(nèi)的上述電氣物性值的過去值和由上述物性值檢測部檢測出的上述電氣物性值的本次值來計(jì)算上述電氣物性值的變化量，并根據(jù)該計(jì)算結(jié)果檢測上述磁場產(chǎn)生元件的狀態(tài)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，其特征在于，上述狀態(tài)檢測部把上述電氣物性值的變化量和該變化量的基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，根據(jù)該比較后的變化量的比較結(jié)果來檢測上述磁場產(chǎn)生元件的狀態(tài)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，其特征在于，上述狀態(tài)檢測部根據(jù)上述電氣物性值的第1過去時刻的值和由上述物性值檢測部檢測出的上述電氣物性值的本次值來計(jì)算第1期間的變化量，并根據(jù)上述電氣物性值的第2過去時刻的值和由上述物性值檢測部檢測出的上述電氣物性值的本次值來計(jì)算第2期間的變化量。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4所述的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，其特征在于，該內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置還具有告知控制部，其根據(jù)由上述狀態(tài)檢測部檢測出的上述磁場產(chǎn)生元件的狀態(tài)來進(jìn)行用于向用戶告知信息的信息告知控制。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至4所述的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，其特征在于，該內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置還具有驅(qū)動狀態(tài)控制部，其根據(jù)由上述狀態(tài)檢測部檢測出的上述磁場產(chǎn)生元件的狀態(tài)來控制上述磁場產(chǎn)生元件的驅(qū)動狀態(tài)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，其特征在于，上述驅(qū)動狀態(tài)控制部告知上述磁場產(chǎn)生元件的時效變化。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，其特征在于，該內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置還具有驅(qū)動狀態(tài)控制部，其根據(jù)由上述狀態(tài)檢測部檢測出的上述磁場產(chǎn)生元件的狀態(tài)來控制上述磁場產(chǎn)生元件的驅(qū)動狀態(tài)。
9.一種內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，其具有檢測部，其把多個磁場產(chǎn)生元件和多個磁場檢測元件中的一方的元件配置在插入被檢體內(nèi)的內(nèi)窺鏡的插入部內(nèi)部，把另一方的元件配置在被檢體外部，把上述另一方的元件的位置用作基準(zhǔn)來檢測配置在上述插入部內(nèi)部的一方的元件的各位置；以及形狀估計(jì)部，其控制上述檢測部，并根據(jù)上述檢測部的檢測結(jié)果估計(jì)內(nèi)窺鏡插入部的形狀；其特征在于，該內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置具備物性值檢測部，其檢測上述磁場產(chǎn)生元件的電氣物性值；以及驅(qū)動狀態(tài)控制部，其根據(jù)上述電氣物性值來控制上述磁場產(chǎn)生元件的驅(qū)動狀態(tài)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，其特征在于，上述驅(qū)動狀態(tài)控制部告知上述磁場產(chǎn)生元件的時效變化。
11.根據(jù)權(quán)利要求9或10所述的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，其特征在于，上述電氣物性值是上述磁場產(chǎn)生元件的直流電阻值。
12.根據(jù)權(quán)利要求9或10所述的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，其特征在于，上述電氣物性值是上述磁場產(chǎn)生元件的阻抗值。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，其特征在于，上述驅(qū)動狀態(tài)控制部根據(jù)上述電氣物性值來控制上述磁場產(chǎn)生元件的驅(qū)動電壓。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，其特征在于，上述電氣物性值是上述磁場檢測元件的阻抗值。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，其特征在于，上述電氣物性值是上述磁場檢測元件的阻抗值和直流電阻值。
全文摘要
本發(fā)明提供一種內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置，該內(nèi)窺鏡形狀檢測裝置(3)的源線圈驅(qū)動電路部(31)具有產(chǎn)生正弦波的振蕩器(110)，以及將該正弦波放大并經(jīng)由開關(guān)部(112)使源線圈(14i)產(chǎn)生(驅(qū)動)交流磁場的放大器(111)。并且，開關(guān)部(112)可把直流電流切換到放大器(111)的輸出來提供給源線圈(14i)，在源線圈驅(qū)動電路部(31)內(nèi)設(shè)置有直流電阻值檢測部(113)，該直流電阻值檢測部(113)根據(jù)在開關(guān)部(112)把直流電流提供給源線圈(14i)時的電位降來測定源線圈(14i)的直流電阻值。
文檔編號A61B1/00GK101056575SQ200580038920
公開日2007年10月17日 申請日期2005年11月14日 優(yōu)先權(quán)日2004年11月15日
發(fā)明者小野田文幸, 丹羽寬, 織田朋彥, 佐藤稔, 三宅憲輔, 三好義孝, 辻和孝, 相沢千惠子 申請人:奧林巴斯醫(yī)療株式會社, 奧林巴斯株式會社